Практическая демонстрация CIQTEK FIB-SEM - Подготовка образца трансмиссии из ферритно-мартенситной стали

Практическая демонстрация CIQTEK FIB-SEM

Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом (FIB-SEM) необходимы для различных применений, таких как диагностика дефектов, ремонт, ионная имплантация, обработка на месте, ремонт маски, травление, модификация конструкции интегральных схем, изготовление чипов, безмасочная обработка, изготовление наноструктур, сложное наноструктурирование, трехмерное изображение и анализ материалов, сверхчувствительный анализ поверхности, модификация поверхности и подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии.

CIQTEK представила FIB-SEM DB550, который оснащен независимо управляемым полевым сканирующим электронным микроскопом (FE-SEM) с фокусированным Колонки с ионным пучком (FIB). Это элегантный и универсальный инструмент для наномасштабного анализа и подготовки образцов, который использует технологию электронной оптики «SuperTunnel», низкую аберрацию и отсутствие конструкция магнитного объектива с низким напряжением и высоким разрешением для обеспечения наномасштабного анализа. Ионная колонна позволяет использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильным и высококачественным ионным пучком, обеспечивающим возможности нанопроизводства. DB550 имеет встроенный наноманипулятор, систему впрыска газа, электрический механизм защиты от загрязнений линзы объектива и удобное графический интерфейс пользователя программное обеспечение, которое облегчает универсальная рабочая станция для наномасштабного анализа и изготовления.

Чтобы продемонстрировать выдающиеся характеристики DB550, CIQTEK запланировала специальное мероприятие под названием «Практическая демонстрация CIQTEK FIB-SEM». В этой программе будут представлены видеоролики, демонстрирующие широкое применение этого передового оборудования в такие области, как материаловедение, полупроводниковая промышленность и биомедицинские исследования. Зрители получат представление о принципах работы DB550, оценят потрясающие микромасштабные изображения и узнают о значительном значении этой технологии для научных исследований и промышленного развития.

Приготовление образца трансмиссии из ферритно-мартенситной стали

FIB-SEM DB550 Разработанный компанией CIQTEK, он позволяет безупречно изготавливать трансмиссионные образцы из ферритно-мартенситной стали. Эта возможность позволяет исследователям в наномасштабной области напрямую наблюдать характеристики интерфейса, микроструктурную морфологию и процесс эволюции ферритных и мартенситных фаз. Эти наблюдения являются решающими шагами на пути к углублению понимания взаимосвязи между кинетикой фазового превращения, микроструктурной организацией и механическими свойствами ферритно-мартенс стали.