Коротко о главном Три исследовательские группы использовали приборы CIQTEK ODMR, включая сканирующий NV-зондовый микроскоп (SNVM) и алмазный спектрометр одиночных спинов, для продвижения исследований в трех различных областях передовых материалов.   Команда из Института физики Китайской академии наук визуализировала спиновые волны в реальном пространстве вблизи магнитных дефектов и антиферромагнитно связанных полосовых доменов в пленках YIG и LSMO. Они зафиксировали длину волны селективного рассеяния и, впервые, зигзагообразное искажение волнового фронта при прохождении спиновых волн через полосовые домены.   Команда из Научно-технического университета Китая удалила селен из 2D-материала CuCrSe₂ путем вакуумного отжига. Полученные вакансии Se обеспечили ферромагнетизм при комнатной температуре, при этом слоистая кристаллическая структура осталась нетронутой.   Команда из Института полупроводников Китайской академии наук нанесла на карту, как поперечное магнитное поле смешивает спиновые состояния NV-центров, ослабляет оптическое считывание и смещает баланс между зарядовыми состояниями NV⁻ и NV⁰, что важно для поддержания стабильности датчиков на основе NV-центров в реальных магнитных условиях.   Почему это важно Оптически детектируемый магнитный резонанс (ODMR) занимает центральное место в физике спинов в твердом теле. Именно с его помощью исследователи визуализируют микроскопические магнитные поля, анализируют спиновую динамику и превращают одиночный дефект атомного масштаба в алмазе в работающий датчик. Все три исследования, представленные ниже, опирались на линейку продуктов CIQTEK ODMR, которая включает сканирующий NV-зондовый микроскоп (SNVM) и алмазный спектрометр одиночных спинов, чтобы проникнуть в области, недоступные для старых инструментов: визуализация спиновых волн, ферромагнетизм при комнатной температуре в 2D-материалах и поведение спинового смешивания самих NV-центров.   Ниже представлено то, что обнаружила каждая команда, и почему это важно для всех, кто создает магнонные устройства, спинтронные материалы или датчики на основе алмазов. Исследование 1: Сканирующая NV-визуализация показывает, как на самом деле распространяются спиновые волны Где опубликовано: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy   Название статьи: Визуализация модифицированных волновых фронтов спиновых волн вблизи магнитных дефектов и доменов с использованием азотно-вакансионных центров   Исследовательская группа: Группа Ли Янму из Института физики Китайской академии наук   Команда использовала сканирующую NV-визуализацию для проведения визуализации в реальном пространстве и фазового анализа распространения спиновых волн и волновых фронтов вблизи наноразмерных магнитных дефектов и антиферромагнитно связанных полосовых доменов в магнитных тонких пленках (YIG и LSMO). Работа выявила селективное по длине волны рассеяние и модуляцию формы волны, предоставив разработчикам устройств новый набор инструментов для создания и настройки устройств на спиновых волнах...

CIQTEK выходит на Шанхайскую биржу STAR Market 11 августа 2026 года компания CIQTEK провела церемонию листинга на Шанхайской фондовой бирже. Этот листинг знаменует собой новый этап для компании, которая продолжает разрабатывать высокотехнологичные научные приборы. Компания торгуется под тикером 688828 и занимается разработкой, производством и продажей продукции, включая электронные микроскопы, спектрометры электронного парамагнитного резонанса и спектрометры ядерного магнитного резонанса.   Информация о листинге CIQTEK выпустила 40,0100 млн акций по цене 21,22 юаня за акцию. Валовая выручка от размещения новых акций составила 849,0122 млн юаней. После размещения количество акций компании в обращении составило 400,0100 млн. В 2025 году выручка CIQTEK составила 666,191845 млн юаней. Компания базируется в Хэфэе, провинция Аньхой.   От исследований к практическому применению CIQTEK специализируется на превращении исследовательских возможностей в приборы, которые могут использоваться в лабораторных и промышленных условиях. На церемонии доктор Хэ Юй, председатель совета директоров CIQTEK, заявил, что листинг является важной вехой и этапом на пути компании от лаборатории к практическому применению. Доктор Хэ поблагодарил клиентов, партнеров, инвесторов и команды, которые поддерживали процесс размещения и листинга.   Фокус на полезных и надежных приборах CIQTEK разрабатывает высокотехнологичные научные приборы в нескольких продуктовых областях. Компания продолжает инвестировать в исследования и разработки, а также расширять портфель продуктов в соответствии с потребностями клиентов. Доктор Хэ отметил, что обратная связь от клиентов, решение технических

Двухлучевой ионно-лучевой сканирующий электронный микроскоп CIQTEK DB550 объединяет в себе высокоразрешающую электронную визуализацию и прецизионную обработку ионным пучком на одной платформе. Компания CIQTEK подтвердила свою эффективность. Сканирующий электронный микроскоп DB550 с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) на реальных образцах чипов, изготовленных по 5-нм технологическому процессу, Демонстрация подготовки образцов для ПЭМ-анализа, готовых к производству, с неповрежденными структурами ребер, нулевой аморфизацией и четко различимыми слоями пленки. Результаты подтверждают, что DB550 отвечает самым высоким требованиям современных лабораторий анализа отказов полупроводников, работающих на переднем крае технологических процессов. В передовых исследованиях и производстве микросхем два инструмента имеют первостепенное значение. Трансмиссионный электронный микроскоп (ТЭМ) позволяет наблюдать структуры на атомном уровне. Но прежде чем начать исследование, необходим образец, достаточно тонкий для прохождения электронов. Именно здесь на помощь приходит двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с ионно-лучевой обработкой (FIB-SEM). Это высокоточный цех, где подготавливаются такие сверхтонкие образцы. Представляем DB550: единая платформа для получения изображений и обработки наноразмерных данных. Он CIQTEK DB550 FIB-SEM Эта платформа объединяет две мощные возможности. С одной стороны, сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) обеспечивает получение изображений поверхности с высоким разрешением. С другой стороны, сфокусированный ионный пучок (СИБ) выполняет удаление наноматериалов с хирургической точностью. Вместе они преодолевают разрыв между наблюдением и изготовлением в размерах, измеряемых миллиардными долями метра. В основе DB550 лежит низковольтная электронная колонка высокого разрешения в сочетании с запатентованной технологией CIQTEK Ионная колонка "Чэнъин" Разработанная полностью собственными силами, колонна Ченгин является движущей силой системы, обеспечивающей возможности наноразмерной резки и травления. Компания CIQTEK контролирует весь процесс проектирования и производства этого важнейшего компонента. Проблема 5 нм: почему подготовка образцов усложняется на каждом узле. В 5 нм и ниже Архитектура микросхем основана на полевых транзисторах с ребрами (FinFET), ширина и шаг ребер которых измеряются всего в несколько нанометров. DB550 разработан для выполнения полного цикла подготовки образцов для этих требовательных технологических узлов. Он начинается с высокотоковая черновая резка для быстрого удаления основного материала и достижения целевой области. Затем происходит переход к низковольтная тонкая полировка истончить образец до размеров, подходящих для просвечивающей электронной микроскопии, не повреждая при этом хрупкие структуры под ним. Проверка методом просвечивающей электронной микроскопии: доказательство на изображении. CIQTEK На технологическом стенде DB550 был подготовлен образец чипа, изготовленного по 5-нм техпроцессу, и пе...