NV Center ODMR Unlocks New Possibilities for 2D Materials and Spin Wave Detection In short Three research teams used CIQTEK ODMR instruments, including the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to move three different areas of advanced materials research forward. A team at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences, imaged spin waves in real space near magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in YIG and LSMO films. They captured wavelength-selective scattering and, for the first time, a zig-zag wavefront distortion as spin waves crossed stripe domains. A team at the University of Science and Technology of China stripped selenium out of 2D CuCrSe₂ by vacuum annealing. The resulting Se vacancies produced room-temperature ferromagnetism while the layered crystal structure stayed intact. A team at the Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, mapped how a transverse magnetic field mixes NV center spin states, weakens optical readout, and shifts the balance between the NV⁻ and NV⁰ charge states, all of which matter for keeping NV-based sensors stable in real-world magnetic environments. Why this matters Optically detected magnetic resonance (ODMR) sits at the center of solid-state spin science. It is how researchers image microscopic magnetic fields, how they unpack spin dynamics, and how they turn a single atomic-scale defect in diamond into a working sensor. The three studies below all leaned on CIQTEK's ODMR product line, which includes the scanning NV probe microscope (SNVM) and the diamond single-spin spectrometer, to push into territory that older tools could not reach: spin wave imaging, room-temperature ferromagnetism in 2D materials, and the spin mixing behavior of NV centers themselves. Here is what each team found, and why it matters for anyone building magnonic devices, spintronic materials, or diamond-based sensors. Study 1: Scanning NV imaging reveals how spin waves actually propagate Where it was published: SCIENCE CHINA Physics, Mechanics & Astronomy Paper title: Visualizing modified spin-wave wavefronts near magnetic defects and domains using nitrogen-vacancy centers Research group: The Li Yangmu group at the Institute of Physics, Chinese Academy of Sciences The team used scanning NV imaging to perform real-space imaging and phase analysis of spin wave propagation and wavefronts near nanoscale magnetic defects and antiferromagnetically coupled stripe domains in magnetic thin films (YIG and LSMO). The work revealed wavelength-selective scattering and waveform modulation, giving device designers a new set of tools for building and tuning spin wave devices. First, some background: why spin waves are hard to see Spin waves, also called magnons, are collective excitations of a magnetically ordered system. They carry information without the Joule heating losses that come with conventional charge-based devices, which makes them an attractive carri...

CIQTEK выходит на Шанхайскую биржу STAR Market 11 августа 2026 года компания CIQTEK провела церемонию листинга на Шанхайской фондовой бирже. Этот листинг знаменует собой новый этап для компании, которая продолжает разрабатывать высокотехнологичные научные приборы. Компания торгуется под тикером 688828 и занимается разработкой, производством и продажей продукции, включая электронные микроскопы, спектрометры электронного парамагнитного резонанса и спектрометры ядерного магнитного резонанса.   Информация о листинге CIQTEK выпустила 40,0100 млн акций по цене 21,22 юаня за акцию. Валовая выручка от размещения новых акций составила 849,0122 млн юаней. После размещения количество акций компании в обращении составило 400,0100 млн. В 2025 году выручка CIQTEK составила 666,191845 млн юаней. Компания базируется в Хэфэе, провинция Аньхой.   От исследований к практическому применению CIQTEK специализируется на превращении исследовательских возможностей в приборы, которые могут использоваться в лабораторных и промышленных условиях. На церемонии доктор Хэ Юй, председатель совета директоров CIQTEK, заявил, что листинг является важной вехой и этапом на пути компании от лаборатории к практическому применению. Доктор Хэ поблагодарил клиентов, партнеров, инвесторов и команды, которые поддерживали процесс размещения и листинга.   Фокус на полезных и надежных приборах CIQTEK разрабатывает высокотехнологичные научные приборы в нескольких продуктовых областях. Компания продолжает инвестировать в исследования и разработки, а также расширять портфель продуктов в соответствии с потребностями клиентов. Доктор Хэ отметил, что обратная связь от клиентов, решение технических

Двухлучевой ионно-лучевой сканирующий электронный микроскоп CIQTEK DB550 объединяет в себе высокоразрешающую электронную визуализацию и прецизионную обработку ионным пучком на одной платформе. Компания CIQTEK подтвердила свою эффективность. Сканирующий электронный микроскоп DB550 с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) на реальных образцах чипов, изготовленных по 5-нм технологическому процессу, Демонстрация подготовки образцов для ПЭМ-анализа, готовых к производству, с неповрежденными структурами ребер, нулевой аморфизацией и четко различимыми слоями пленки. Результаты подтверждают, что DB550 отвечает самым высоким требованиям современных лабораторий анализа отказов полупроводников, работающих на переднем крае технологических процессов. В передовых исследованиях и производстве микросхем два инструмента имеют первостепенное значение. Трансмиссионный электронный микроскоп (ТЭМ) позволяет наблюдать структуры на атомном уровне. Но прежде чем начать исследование, необходим образец, достаточно тонкий для прохождения электронов. Именно здесь на помощь приходит двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с ионно-лучевой обработкой (FIB-SEM). Это высокоточный цех, где подготавливаются такие сверхтонкие образцы. Представляем DB550: единая платформа для получения изображений и обработки наноразмерных данных. Он CIQTEK DB550 FIB-SEM Эта платформа объединяет две мощные возможности. С одной стороны, сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) обеспечивает получение изображений поверхности с высоким разрешением. С другой стороны, сфокусированный ионный пучок (СИБ) выполняет удаление наноматериалов с хирургической точностью. Вместе они преодолевают разрыв между наблюдением и изготовлением в размерах, измеряемых миллиардными долями метра. В основе DB550 лежит низковольтная электронная колонка высокого разрешения в сочетании с запатентованной технологией CIQTEK Ионная колонка "Чэнъин" Разработанная полностью собственными силами, колонна Ченгин является движущей силой системы, обеспечивающей возможности наноразмерной резки и травления. Компания CIQTEK контролирует весь процесс проектирования и производства этого важнейшего компонента. Проблема 5 нм: почему подготовка образцов усложняется на каждом узле. В 5 нм и ниже Архитектура микросхем основана на полевых транзисторах с ребрами (FinFET), ширина и шаг ребер которых измеряются всего в несколько нанометров. DB550 разработан для выполнения полного цикла подготовки образцов для этих требовательных технологических узлов. Он начинается с высокотоковая черновая резка для быстрого удаления основного материала и достижения целевой области. Затем происходит переход к низковольтная тонкая полировка истончить образец до размеров, подходящих для просвечивающей электронной микроскопии, не повреждая при этом хрупкие структуры под ним. Проверка методом просвечивающей электронной микроскопии: доказательство на изображении. CIQTEK На технологическом стенде DB550 был подготовлен образец чипа, изготовленного по 5-нм техпроцессу, и пе...