Новости и события

Компания CIQTEK представит свои решения в области электронной микроскопии и выступит с презентацией на корпоративной сессии. Хэфэй, Китай — С 9 по 12 июня 2026 года в Оулу, Финляндия, состоится ежегодная конференция SCANDEM 2026 Северного общества микроскопии. Компания CIQTEK, ведущий поставщик решений для квантовых прецизионных измерений и электронной микроскопии, объявляет о своем участии в этом престижном мероприятии. CIQTEK представит два ключевых продукта для электронной микроскопии. Стенд II.5 а также выступить с презентацией на корпоративной сессии, чтобы пообщаться с ведущими исследователями и экспертами мирового сообщества специалистов по микроскопии. О проекте SCANDEM 2026 SCANDEM — одна из старейших и наиболее влиятельных ежегодных конференций по микроскопии в Северном регионе. В этом году конференция организована совместно Центром анализа материалов Биоцентра Оулу и Северным обществом микроскопии и пройдет в здании Киппи Биоцентра Оулу. Конференция охватывает две основные тематические области: науки о жизни (от визуализации целых организмов до методов на молекулярном уровне) и материаловедение (металлургия, геология, катализаторы, наночастицы и многое другое). Программа включает пленарные лекции, научные презентации, постерные сессии и выставочный зал. Ожидается около 120–150 участников и около 20 поставщиков оборудования. Следует отметить, что Оулу был объявлен Европейской культурной столицей 2026 года, предлагая посетителям со всего мира уникальную культурную атмосферу и яркие инновации. Основные моменты выставки CIQTEK Информация о стенде Стенд компании CIQTEK расположен по адресу: II.5 в выставочной зоне. Команда представит на месте два основных продукта для электронной микроскопии, а технические специалисты будут готовы предоставить подробную информацию о продуктах и провести технические консультации. Рекомендуемые товары Сверхвысокоразрешающий сканирующий электронный микроскоп SEM5000X FESEM : Флагманский сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией от компании CIQTEK. Он оснащен усовершенствованной электронно-оптической системой, обеспечивающей сверхвысокое разрешение изображения. что делает его идеальным для высокоточного наноструктурного анализа в материаловении, полупроводниковой промышленности и биологических науках. . HEM6000 Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп : Высокопроизводительная рабочая станция, разработанная для контроля больших площадей и пакетной обработки образцов. Благодаря выдающемуся высокому току луча, исключительной стабильности и автоматизированным рабочим процессам, он значительно ускоряет скорость получения изображений для промышленного контроля качества и передовых исследований. . Презентация компании Компания CIQTEK представит свою продукцию на мероприятии. Сессия 1 (Корпоративная сессия LS1+MS1, комната 101A) приблизительно с с 11:00 до 11:10 . Ведущий Майлз, специалист по решениям в компании CIQTEK. Тема «Раскрывая потенциал уникального решения для высокоскоростной сканирующей ...

Двухлучевой ионно-лучевой сканирующий электронный микроскоп CIQTEK DB550 объединяет в себе высокоразрешающую электронную визуализацию и прецизионную обработку ионным пучком на одной платформе. Компания CIQTEK подтвердила свою эффективность. Сканирующий электронный микроскоп DB550 с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) на реальных образцах чипов, изготовленных по 5-нм технологическому процессу, Демонстрация подготовки образцов для ПЭМ-анализа, готовых к производству, с неповрежденными структурами ребер, нулевой аморфизацией и четко различимыми слоями пленки. Результаты подтверждают, что DB550 отвечает самым высоким требованиям современных лабораторий анализа отказов полупроводников, работающих на переднем крае технологических процессов. В передовых исследованиях и производстве микросхем два инструмента имеют первостепенное значение. Трансмиссионный электронный микроскоп (ТЭМ) позволяет наблюдать структуры на атомном уровне. Но прежде чем начать исследование, необходим образец, достаточно тонкий для прохождения электронов. Именно здесь на помощь приходит двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с ионно-лучевой обработкой (FIB-SEM). Это высокоточный цех, где подготавливаются такие сверхтонкие образцы. Представляем DB550: единая платформа для получения изображений и обработки наноразмерных данных. Он CIQTEK DB550 FIB-SEM Эта платформа объединяет две мощные возможности. С одной стороны, сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) обеспечивает получение изображений поверхности с высоким разрешением. С другой стороны, сфокусированный ионный пучок (СИБ) выполняет удаление наноматериалов с хирургической точностью. Вместе они преодолевают разрыв между наблюдением и изготовлением в размерах, измеряемых миллиардными долями метра. В основе DB550 лежит низковольтная электронная колонка высокого разрешения в сочетании с запатентованной технологией CIQTEK Ионная колонка "Чэнъин" Разработанная полностью собственными силами, колонна Ченгин является движущей силой системы, обеспечивающей возможности наноразмерной резки и травления. Компания CIQTEK контролирует весь процесс проектирования и производства этого важнейшего компонента. Проблема 5 нм: почему подготовка образцов усложняется на каждом узле. В 5 нм и ниже Архитектура микросхем основана на полевых транзисторах с ребрами (FinFET), ширина и шаг ребер которых измеряются всего в несколько нанометров. DB550 разработан для выполнения полного цикла подготовки образцов для этих требовательных технологических узлов. Он начинается с высокотоковая черновая резка для быстрого удаления основного материала и достижения целевой области. Затем происходит переход к низковольтная тонкая полировка истончить образец до размеров, подходящих для просвечивающей электронной микроскопии, не повреждая при этом хрупкие структуры под ним. Проверка методом просвечивающей электронной микроскопии: доказательство на изображении. CIQTEK На технологическом стенде DB550 был подготовлен образец чипа, изготовленного по 5-нм техпроцессу, и пе...

A Winning Team: SEM + FIB, the "Golden Combination" CIQTEK brings SEM and FIB together as a powerful team, providing critical support for PCB process optimization, reliability verification, and root cause determination of failures. SEM High-Resolution Imaging: The "Microscope" for Surface Details The SEM uses a high-resolution electron beam to capture crisp images of PCB surface morphology. It reveals solder pad plating, intermetallic compounds, micro-cracks, tin whiskers, and foreign particle contamination with exceptional clarity. Coupled with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), the SEM also performs elemental analysis on microscopic regions. This combination lets engineers identify the chemical signature of defects, making it straightforward to spot issues like short circuits, open circuits, corrosion, and plating anomalies. FIB Nanoscale Cutting: The "Scalpel" for Internal Structures While the SEM excels at surface imaging, the FIB takes over when you need to see what is happening inside the board. Using a nanometer-precision ion beam, the FIB performs targeted cross-sectioning at the exact defect location. It prepares ultra-thin slices through multi-layer boards, blind vias, and buried vias, exposing internal structures that mechanical sectioning simply cannot reach. Think of the FIB as a microscopic surgical tool. It removes material with nanometer accuracy, leaving a clean cross-section ready for imaging and analysis. CIQTEK Semiconductor Showcase: See It in Action The Beauty of the Microscopic World, Revealed in Every Detail. Here are real examples of CIQTEK electron microscopes in PCB cross-section observation: Solder Joint Interface Panorama Low magnification observation of capacitor overall morphology, viewing the real microscopic structure of the capacitor solder joint interface from the inside IMC Layer Evaluation Evaluating interlayer bonding, measuring IMC thickness and uniformity, detecting voids, cracks, and interface defects Multi-Layer Board Inner Structure Clear observation of IMC layer morphology, thickness, continuity, and density at the solder pad and solder interface Process Reliability Evaluation Evaluating trace pattern, thickness, etching quality and copper-to-substrate bonding, detecting line shift, etch defects, delamination, voids, and analyzing plating layer quality for PCB process control and reliability assessment Built for Labs That Demand Reliability CIQTEK develops its electron microscopy platforms from the ground up, covering core algorithms through hardware design. This vertical integration ensures consistent performance and long-term supply stability, which matters for labs running continuous production or multi-year research programs. The company backs its instruments with responsive technical support and regular software updates, helping users keep their systems running efficiently over time. Get in Touch If you are evaluating SEM or FIB systems for your PCB inspection workflow, the CIQTEK team can...

Компания CIQTEK, ведущий производитель и поставщик передового оборудования для электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и ядерного магнитного резонанса (ЯМР), примет участие в совместной конференции по магнитному резонансу «Франция-Бельгия-Нидерланды-Люксембург (FBNL-MR 2026)», которая пройдет в Лилле, Франция. Мероприятие соберет ведущих исследователей, специалистов по приборам и экспертов по применению из Европы и других стран для обмена опытом в области ЭПР- и ЯМР-спектроскопии. Подробности мероприятия Дата: 2–5 июня 2026 г. Расположение: Лилль, Франция Выступление спонсора CIQTEK: Вторник, 2 июня, 15:50–16:00 (10 мин), Амфитеатр А Название доклада: Электронная медицинская карта следующего поколения: Сочетание высокопроизводительных приборов Q-диапазона с обработкой спектра с помощью искусственного интеллекта. Развитие электронных медицинских карт за счет интеграции аппаратного обеспечения и искусственного интеллекта. По мере того, как исследования смещаются в сторону все более сложных биологических и материальных систем, компания CIQTEK решает эти задачи, разрабатывая высокопроизводительное оборудование наряду с первой специализированной моделью искусственного интеллекта для ЭПР. В этой презентации основное внимание будет уделено тому, как интегрированный подход CIQTEK позволяет: • Повышенная чувствительность и спектральное разрешение с помощью импульсных ЭПР-систем Q-диапазона, использующих технологию твердотельных усилителей мощности, расшифровывают сложные сверхтонкие связи металлов и извлекают дипольную информацию для высокоточного картирования расстояний методом DEER. • Автоматизированный спектральный анализ Благодаря трехслойной модели ЭПР на основе ИИ, обученной на более чем 100 000 реальных и смоделированных наборах данных, достигается точность 99,9% для симуляций и 92% для реальных образцов. • Упрощенный рабочий процесс от исходных данных до публикации. с автоматизированной подгонкой спектров, характеризацией компонентов и генерацией экспериментальных отчетов, а также с прогнозными рекомендациями, предлагающими дальнейшие эксперименты. • Снижение технических барьеров для исследователей. в области химии, биологии и материаловедения, продвигая ЭПР-технологию к более эффективному и доступному решению. Аннотация доклада Развитие ЭПР требует двойного подхода: надежного оборудования и интеллектуального программного обеспечения, чтобы преодолеть разрыв между сложностью и открытием. Наша система в Q-диапазоне повышает чувствительность и разрешение, расшифровывая сложные сверхтонкие связи и более богатые дипольные данные для точного картирования расстояний. В то же время, ИИ-помощник автоматизирует подгонку, характеризацию и составление отчетов с точностью 92% для реальных образцов, предоставляя прогнозные рекомендации для дальнейшей проверки образцов. Этот унифицированный подход снижает технические барьеры и максимизирует научную отдачу, повышая эффективность и надежность данных для научного сообщества. Посетите стенд CIQTEK Помимо выступ...

Температура — это не просто параметр окружающей среды. электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) Спектроскопия. Это ключевой экспериментальный параметр, наравне с мощностью микроволнового излучения и диапазоном магнитного поля. Правильный выбор температуры позволит получить более четкие сигналы, более высокую чувствительность и выявить структурные детали, которые измерения при комнатной температуре просто не могут показать. Неправильный выбор может привести к полному исчезновению сигнала. В этом руководстве рассматриваются физические принципы ЭПР при переменной температуре и предлагается выбрать подходящую установку для ваших образцов. Почему температура так важна в ЭПР В каждом эксперименте ЭПР задаются три вопроса. Как температура изменяет микроскопическое спиновое окружение? Как она влияет на интерпретацию спектра? И какие системы абсолютно необходимы для измерений при переменной температуре? Давайте разберемся. Охлаждение: самый простой способ повысить чувствительность. Сигнал ЭПР возникает из простого факта. Неспаренные электроны занимают два спиновых энергетических уровня, и именно разницу в заселенности между этими уровнями мы и регистрируем. Во внешнем магнитном поле B 0 Электронные спины подвергаются Зееманское разделение , создавая два уровня с помощью m с = +1/2 и м с = -1/2. Разница в энергии между ними составляет: Он Распределение Больцмана Определяет, как электроны заполняют эти уровни. Соотношение заселенности напрямую зависит от температуры: Вот что это означает на практике. Интенсивность сигнала ЭПР пропорциональна разности уровней популяции. Эта разница масштабируется как 1/T. Другими словами, чем ниже температура, тем сильнее сигнал. И точка. Температура — это независимая, полностью контролируемая переменная, поэтому охлаждение образца — это самый фундаментальный и прямой способ повысить абсолютную чувствительность. ЭПР-спектроскопия . Спектры ЭПР слабого образца угля, измеренные при разных температурах. Более низкие температуры дают значительно более сильные сигналы. (Измерения проводились на системе ЭПР CIQTEK.) Охлаждение замедляет расслабление, выявляя скрытые сигналы. Температура влияет не только на мощность сигнала. Она также контролирует... спиновая релаксация , что определяет, можно ли вообще обнаружить сигнал. Релаксация в магнитно-резонансной томографии делится на две категории. Спиново-решеточная релаксация (Т 1 ). Это процесс, при котором возбужденные спины обмениваются энергией с окружающей кристаллической решеткой. Он очень чувствителен к температуре. При комнатной температуре колебания решетки интенсивны. Возбужденные спины быстро рассеивают свою энергию, поэтому T 1 Это короткое замыкание. Охладите систему, и вы фактически «заморозите» эти колебания кристаллической решетки. 1 значительно удлиняется. Спин-спиновая релаксация (Т 2 ). Это явление возникает главным образом из-за магнитных дипольных взаимодействий между соседними спинами. Температура оказывает на него менее прямое влияние. Скорость спин-решеточной рел...

ЯМР-спектрометр CIQTEK CAN400 стал надежным партнером Китайского фармацевтического университета в области исследований. В некоторых лабораториях ЯМР-спектроскопии очень много работы. А есть лаборатории, как, например, в Китайском фармацевтическом университете, где приборы работают круглосуточно, запись на анализ затягивается до полуночи, а очередь за образцами заполняет все свободные места. В таких условиях прибор, находящийся в центре всего процесса, должен обеспечивать безупречное качество спектров изо дня в день. Отсутствие простоев. И он должен быть достаточно простым, чтобы аспиранты могли самостоятельно им пользоваться во время ночных смен. В Китайском фармацевтическом университете (CPU) ЯМР-спектрометр CIQTEK CAN400 полностью соответствует этим требованиям. После почти года непрерывной работы в больших объемах он стал незаменимым инструментом на испытательной платформе университета. Он обрабатывает более 100 образцов в день и не имеет ни одного сбоя. И, что, пожалуй, наиболее важно, исследователи, которые на него полагаются, говорят, что данные выглядят превосходно. В этой статье мы расскажем о том, как компания CPU выбрала CAN400, как он показал себя в одной из самых загруженных академических лабораторий ЯМР и почему повседневные детали так же важны, как и цифры в технической документации. Почему ЯМР-спектроскопия лежит в основе фармацевтических исследований Чтобы понять, почему CPU потребовалась надежная система ЯМР, полезно знать, что это за учреждение. Китайский фармацевтический университет расположен у подножия горы Чжуншань, на берегу реки Янцзы в Нанкине. Он был основан более восьмидесяти лет назад и заслужил репутацию одного из ведущих учебных заведений Китая в области фармацевтических исследований и образования. Фармацевтическая программа университета получила оценку A+ в последней национальной оценке дисциплин в Китае. Его программа медицинской химии занимает первое место в Китае и третье место в мире, имея долгую историю проведения влиятельных исследований в области разработки лекарств, молекулярного синтеза и модификации биологически активных соединений. В основе всего этого лежит органическая химия. Каждый новый кандидат в лекарственные препараты начинается с молекулы, которую необходимо разработать, синтезировать, а затем охарактеризовать. Именно здесь на помощь приходит ЯМР-спектроскопия. Для химиков-фармакологов ЯМР — это не просто желательный инструмент. Это основной метод подтверждения молекулярных структур, оценки чистоты и сбора аналитических данных, необходимых для публикаций и подачи патентных заявок. Поэтому неудивительно, что лаборатория ЯМР в CPU — одно из самых загруженных мест в кампусе. Спектрометры работают круглосуточно. Студенты и преподаватели постоянно приносят и выносят из лаборатории ЯМР-пробирки. Для бесчисленных исследовательских проектов спектр ЯМР является первой реальной точкой данных, которая показывает исследователю, сработал ли его синтез. Это мост между идеей и подтвержденным результатом. Учитыва...

Компания CIQTEK, мировой лидер в области прецизионных измерений и передового научного оборудования, объявляет о достижении важной вехи в развитии своей линейки продукции EPR: 300-й поставки по всему миру. Знаковое 300-е устройство — CIQTEK EPR300. Спектрометр электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) — был официально передан Университету Вандербильта в США, что подчеркивает растущее глобальное внедрение технологии ЭПР компании CIQTEK. Команда CIQTEK EPR на площадке установки EPR300 Внутри Университета Вандербильта — технология ЭПР от CIQTEK поддерживает передовые исследования. Основанный в 1873 году и расположенный в Нэшвилле, штат Теннесси, Университет Вандербильта — это всемирно известный частный исследовательский университет, признанный за высокие академические и исследовательские достижения в области химии, материаловедения, биомедицинской инженерии и нанотехнологий. Исследовательская группа, получившая EPR300 — 300-й прибор в серии CIQTEK EPR, — занимается передовыми исследованиями в области биоорганической химии и современных молекулярных материалов, предъявляя самые высокие требования к технологии электронного парамагнитного резонанса. Благодаря превосходной чувствительности и соотношению сигнал/шум, CIQTEK EPR300 обеспечивает критически важную базу данных, которая продвигает вперед передовые исследования группы. Результаты говорят сами за себя — клиент активно публикует новости о доставке. После установки и ввода в эксплуатацию выдающееся качество спектра EPR300 и профессионализм инженерной команды CIQTEK превзошли ожидания клиента. Исследовательская группа опубликовала на своей официальной платформе специальную новостную статью, посвященную установке и высоко оценивающую спектрометр ЭПР. «Работа системы EPR300 действительно впечатляет», — сказал доцент Мэншань Е, ведущий исследователь в группе. «А самоотдача и профессионализм, продемонстрированные инженерами-монтажниками, вселили огромную уверенность во всю нашу команду». Спектрометр непрерывного электронного парамагнитного резонанса X-диапазона Прибор EPR300 использует современную микроволновую систему и высокопроизводительный блок обработки сигналов, что позволяет вывести чувствительность обнаружения и отношение сигнал/шум на беспрецедентный уровень. Способный точно регистрировать и анализировать сигналы неспаренных электронов при чрезвычайно низких концентрациях спина, EPR300 открывает новые методологические пути для изучения свободных радикалов низкой концентрации и исследования глубинных физических и химических свойств ионов металлов и других микроскопических систем. Кроме того, EPR300 поддерживает переход на работу в Q-диапазоне, что обеспечивает более высокое разрешение по g-значениям, критически важное для обнаружения анизотропных образцов. От биологических наук и материаловедения до химии и физики, EPR300 закладывает прочную экспериментальную основу для передовых исследований в различных дисциплинах, позволяя ученым достигать новых высот в научных открытиях. 300 поставок и это...

На 16-м семинаре ASEM в Австрии компания CIQTEK продемонстрировала, что исследователям больше не нужно выбирать между скоростью получения изображений и высоким разрешением. Наш последний прорыв в этой области... Высокоскоростная сканирующая электронная микроскопия Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) позволяет получать невероятно детализированные изображения при низком напряжении, что делает масштабные проекты быстрее и точнее, чем когда-либо прежде. Встреча выдающихся умов в Австрии Недавно в Австрийском институте науки и технологий (ISTA) завершился 16-й семинар ASEM, и это было поистине грандиозное событие! Прошедший с 20 по 21 апреля, этот семинар стал местом встречи для всех, кто серьезно занимается электронной микроскопией в Европе. В воздухе витало оживление обсуждений следующего поколения методов визуализации, и команда CIQTEK была в самом центре событий. Разговор, который все обсуждали Одним из самых обсуждаемых моментов мероприятия стала техническая сессия, которую провел доктор Фенфа Яо из CIQTEK. Его презентация под названием «Раскрытие потенциала уникальной высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии без ущерба для превосходного разрешения изображения при низком напряжении для крупномасштабных приложений объемной микроскопии» произвела сильное впечатление на аудиторию по всем правильным причинам. Доктор Яо занялся проблемой, которая годами ставила ученых в тупик. Традиционно, при сканировании большого объема образца приходилось либо работать медленно, чтобы сохранить высокое качество, либо ускоряться, теряя при этом мелкие детали. Сосредоточившись на визуализации с низким напряжением (низким ускоряющим напряжением), доктор Яо показал, как компания CIQTEK нашла решение этой проблемы. Теперь мы можем получать кристально чистые изображения на высоких скоростях, не повреждая чувствительные образцы. Почему "низкое напряжение" имеет большое значение Для многих в зале настоящий момент озарения наступил, когда они увидели результаты высокоскоростной визуализации CIQTEK. Визуализация при низком напряжении имеет решающее значение, поскольку помогает защитить образцы от повреждения электронным пучком, особенно в биологических науках или при исследовании деликатных материалов. Доктор Яо объяснил, как наша технология поддерживает превосходное разрешение даже в условиях высокой интенсивности работы, что является настоящим спасением для крупномасштабной объемной микроскопии. Речь идёт не только о технологиях: это ещё и о людях. Хотя технические сессии прошли успешно, самым ярким событием для нашей команды стало... CIQTEK Наш стенд. Это было похоже на встречу старых друзей! Мы были в восторге, увидев столько знакомых лиц: давних партнеров и лояльных клиентов, которые зашли поздороваться и посмотреть, над чем мы работали в последнее время. Разговоры касались не только технических характеристик и цифр. Мы обсуждали реальные проблемы, делились идеями для будущих исследований и получили фантастические отзывы о нашей серии HEM6000. Именно так...