Что Вы ищете?
Популярные запросы
fesem edx

ФЕСЭМ сверхвысокого разрешения | SEM5000X

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения (FESEM): 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ

В CIQTEK SEM5000X сверхвысокого разрешения FESEM используется модернизированный процесс проектирования колонн, технология «SuperTunnel» и конструкция объектива высокого разрешения для улучшения разрешения изображений при низком напряжении.

Количество портов камеры для образцов FESEM SEM5000X увеличивается до 16, а загрузочный замок для смены образцов поддерживает пластины размером до 8 дюймов (максимальный диаметр 208 мм), что значительно расширяет возможности применения. Расширенные режимы сканирования и расширенные автоматизированные функции повышают производительность и еще более оптимизируют работу.

Узнать сейчас

Технические характеристики CIQTEK FESEM SEM5000X
Основные параметры Разрешение

0,6 нм @ 15 кВ, SE

1,0 нм при 1 кВ, SE
Напряжение ускорения 0,02~30 кВ
Увеличение 1~2 500 000 x
Тип электронной пушки Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки
Камера для образцов
Вакуумная система
 Полностью автоматизированное управление
Камеры Двойные камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
Тип сцены 5-осевой механический эвцентрический столик для образцов
Диапазон ступеней

X=110 мм, Y=110 мм, Z=65 мм

Т: -10*~+70°, Р: 360°
СЭМ-детекторы и расширения Стандарт

Внутренний детектор

Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Необязательно

Выдвижной детектор обратно-рассеянных электронов (BSED)

Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM)

Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)

Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

Загрузочный замок для замены образцов (опционально 4 и 8 дюймов)

Панель управления трекболом и ручкой

Тандемное торможение на стадии образца

Система защиты от магнитного поля и акустического шума (сертификат SEMI)
Программное обеспечение Языки

Английский
Операционная система

Окна
Навигация

Навигационная камера, быстрая навигация с помощью жестов
Автоматические функции

Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор

Горячие Теги : Производитель сканирующего электронного микроскопа, глобальный поставщик Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп по лучшей цене Применение сканирующего электронного микроскопа Сканирующий электронный микроскопpdf Примечания к сканирующему электронному микроскопу Детекторы SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения FE высокая производительность FE SEM FEG SEM
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Предмет : ФЕСЭМ сверхвысокого разрешения | SEM5000X
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy
ФИБ-СЭМ | ДБ500

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB500 (FIB-SEM) использует технологию электронной оптики «SuperTunnel», низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива с низким напряжением и возможностью высокого разрешения, чтобы гарантировать наномасштабный анализ. Ионный столб позволяет использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильным и высококачественным ионным пучком для нанопроизводства. FIB-SEM DB500 имеет встроенный наноманипулятор, систему впрыска газа, электрический механизм защиты от загрязнения линзы объектива и 24 порта расширения, что делает его универсальной платформой для наноанализа и производства с комплексными конфигурациями и возможностью расширения. .

Узнать больше
field emission scanning electron microscope fe sem
ФЕСЕМ | SEM4000Про

Аналитический сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM), оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки Благодаря конструкции трехступенчатой ​​конденсаторной электронно-оптической колонки для токов пучка до 200 нА SEM4000Pro обеспечивает преимущества в EDS, EBSD, WDS и других аналитических приложениях. Система поддерживает режим низкого вакуума, а также высокопроизводительный детектор вторичных электронов с низким вакуумом и выдвижной детектор обратно рассеянных электронов, которые могут помочь напрямую наблюдать плохо проводящие или даже непроводящие образцы. Стандартный режим оптической навигации и интуитивно понятный пользовательский интерфейс облегчают работу по анализу.

Узнать больше
scanning electron microscope machine
СЭМ с вольфрамовой нитью | СЭМ3200

Высокопроизводительный РЭМ-микроскоп с вольфрамовой нитью с отличным качеством изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме CIQTEK SEM3200 СЭМ-микроскоп имеет большую глубину резкости и удобный интерфейс, позволяющий пользователям определять характеристики образцов и исследовать мир микроскопических изображений и анализа.

Узнать больше
sem microscope price
Истории клиентов CIQTEK SEM-микроскопов

Прочтите CIQTEK SEM Микроскопы отзывы клиентов и узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт