fesem edx

ФЕСЭМ сверхвысокого разрешения | SEM5000X

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения (FESEM): 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ

В CIQTEK SEM5000X сверхвысокого разрешения FESEM используется модернизированный процесс проектирования колонн, технология «SuperTunnel» и конструкция объектива высокого разрешения для улучшения разрешения изображений при низком напряжении.

Количество портов камеры для образцов FESEM SEM5000X увеличивается до 16, а загрузочный замок для смены образцов поддерживает пластины размером до 8 дюймов (максимальный диаметр 208 мм), что значительно расширяет возможности применения. Расширенные режимы сканирования и расширенные автоматизированные функции повышают производительность и еще более оптимизируют работу.

Технические характеристики CIQTEK FESEM SEM5000X

Основные параметры Разрешение

0,6 нм @ 15 кВ, SE

1,0 нм при 1 кВ, SE

Напряжение ускорения 0,02~30 кВ
Увеличение 1~2 500 000 x
Тип электронной пушки Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки
Камера для образцов
Вакуумная система
Полностью автоматизированное управление
Камеры Двойные камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
Тип сцены 5-осевой механический эвцентрический столик для образцов
Диапазон ступеней

X=110 мм, Y=110 мм, Z=65 мм

Т: -10*~+70°, Р: 360°

СЭМ-детекторы и расширения Стандарт

Внутренний детектор

Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)

Необязательно

Выдвижной детектор обратно-рассеянных электронов (BSED)

Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM)

Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)

Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

Загрузочный замок для замены образцов (опционально 4 и 8 дюймов)

Панель управления трекболом и ручкой

Тандемное торможение на стадии образца

Система защиты от магнитного поля и акустического шума (сертификат SEMI)

Программное обеспечение Языки

Английский

Операционная система

Окна

Навигация

Навигационная камера, быстрая навигация с помощью жестов

Автоматические функции

Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB550 (FIB-SEM) оснащен колонной сфокусированного ионного луча для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкого напряжения, высокого разрешения», обеспечивающую его наноразмерные аналитические возможности. Ионные колонны позволяют использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, что обеспечивает возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом.

Узнать больше
field emission scanning electron microscope fe sem

Аналитический сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM), оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки Конструкция трехступенчатой ​​электромагнитной линзы CIQTEK SEM4000Pro обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS, EBSD, WDS и других. В стандартную комплектацию он входит режим низкого вакуума и высокопроизводительный низковакуумный детектор вторичных электронов, а также выдвижной детектор обратнорассеянных электронов, который облегчает наблюдение за плохо проводящими или непроводящими образцами.

Узнать больше
scanning electron microscope machine

Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп общего назначения с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.

Узнать больше
sem microscope price

Прочтите CIQTEK SEM Микроскопы отзывы клиентов и узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт