FESEM | SEM4000X

Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный

Он CIQTEK SEM4000X является стабильным, универсальным, гибким и эффективным Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Он обеспечивает разрешение 1,8 нм при 1,0 кВ и легко справляется с задачами получения изображений высокого разрешения для различных типов образцов. Его можно модернизировать с помощью режима сверхсильного замедления пучка для дальнейшего повышения разрешения при низком напряжении.

Микроскоп использует многодетекторную технологию с встроенным электронным детектором (ЭД), способным обнаруживать сигналы SE и BSE, обеспечивая при этом высокое разрешение. Электронный детектор (ЛД), установленный в камере, включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножители, обеспечивая более высокую чувствительность и эффективность, что приводит к получению стереоскопических изображений превосходного качества. Графический пользовательский интерфейс удобен в использовании и включает в себя функции автоматизации, такие как автоматическая регулировка яркости и контраста, автофокусировка, автостигматизация и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.

Узнать сейчас

Высокое разрешение
Многодетекторная технология
Упрощенное выравнивание

Создано на основе высокопроизводительной платформы
*Технология режима сверхбыстрого замедления
Отличные возможности расширения

▶ Электронная оптика

▶ Программное обеспечение для анализа частиц и пор (Particle) *Необязательный

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации объектов, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистических данных о частицах и порах и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

▶ Программное обеспечение для постобработки изображений *Необязательный

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, в режиме онлайн или офлайн, а также интегрируйте широко используемые функции обработки изображений электронной микроскопии, удобные инструменты измерения и аннотирования.

▶ Автоматическое измерение *Необязательный

Автоматическое распознавание границ ширины линий, что обеспечивает более точные измерения и большую согласованность результатов. Поддержка нескольких режимов обнаружения границ, таких как линия, пробел, шаг и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и наличие различных распространенных функций постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.

▶ Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) *Необязательный

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставляется набор интерфейсов для управления сканирующим электронным микроскопом, включая получение изображений, настройку условий работы, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специализированные сценарии и программное обеспечение для работы с электронным микроскопом, обеспечивая автоматическое отслеживание областей интереса, сбор данных в рамках промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

▶ Автокарта *Необязательный

Введение в CIQTEK FESEM SEM4000X

Экскурсия по производству электронных микроскопов на заводе CIQTEK.

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM
Электронная оптика	Разрешение	0,9 нм при 30 кВ, SE 1,0 нм при 15 кВ, SE 1,8 нм при 1 кВ, SE 1,5 нм при 1 кВ (ультразвуковое замедление пучка) 0,8 нм при 15 кВ (ультразвуковое замедление пучка)
	Напряжение ускорения	0,2 кВ ~ 30 кВ
	Увеличение (Polaroid)	1 ~ 1 000 000 x
	Электронная пушка	Электронная пушка Шоттки с полевой эмиссией
Камера для образцов	Камера	Двойная камера (оптическая навигация + мониторинг камеры)


	Диапазон стадий	X: 110 мм Y: 110 мм Z: 65 мм T: -10°~ +70° R: 360°
Детекторы и расширения для сканирующего электронного микроскопа	Стандарт	Внутрилинзовый электронный детектор: UD-BSE/UD-SE Детектор Эверхарта-Торнли: ЛД
	Необязательный	Детектор обратнорассеянных электронов (BSED) Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) Детектор низкого вакуума (ДНВ) Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX) Дифракционная картина обратного рассеяния электронов (EBSD) Шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов) Панель управления с трекболом и поворотными регуляторами Технология сверхбыстрого замедления луча
Пользовательский интерфейс	Язык	Английский
	ОС	Windows
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматизатор.

Горячие Теги : Производитель и поставщик полевых сканирующих электронных микроскопов Детекторы SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM высокое разрешение FESEM лучшая цена Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки высокой яркости Лучшее увеличение полевой эмиссионной сканирующей электронной микроскопии Применение полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскопpdf Примечания к полевому эмиссионному сканирующему электронному микроскопу

Оставить сообщение

Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.

Предмет : FESEM | SEM4000X

Представлять на рассмотрение

сопутствующие товары

FIB-SEM | DB550

Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Узнать больше

FESEM сверхвысокого разрешения | SEM5000X

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Узнать больше

Вольфрамовая нить накала СЭМ | SEM3200

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.

Узнать больше

Истории клиентов CIQTEK SEM Microscopes

Прочитайте CIQTEK СЭМ Микроскопы понимание потребностей клиентов и Узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше