FESEM | SEM4000X

Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный

The CIQTEK SEM4000X является стабильным, универсальным, гибким и эффективным сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Он достигает разрешения 1,8 нм при 1,0 кВ и легко справляется с задачами получения изображений высокого разрешения для различных типов образцов. Его можно модернизировать, добавив режим сверхвысокого замедления пучка для дальнейшего повышения разрешения при низком напряжении.

Микроскоп использует многодетекторную технологию с внутриколонным детектором электронов (UD), способным регистрировать сигналы SE и BSE, обеспечивая высокое разрешение. Детектор электронов (LD), установленный в камере, включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножители, обеспечивающие повышенную чувствительность и эффективность, что позволяет получать стереоскопические изображения превосходного качества. Удобный графический интерфейс пользователя включает в себя автоматизированные функции, такие как автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматор и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.

Узнать сейчас

Высокое разрешение
Технология мультидетектора
Упрощенное выравнивание

Создано на основе более современной платформы
*Технология режима ультра-замедления луча
Отличная расширяемость

▶ Электронная оптика

▶ Программное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Необязательный

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

▶ Программное обеспечение для постобработки изображений *Необязательный

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте онлайн или офлайн постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерений и аннотаций.

▶ Автоматическое измерение *Необязательный

Автоматическое распознавание границ линий, что обеспечивает более точные измерения и более высокую стабильность. Поддержка различных режимов определения границ, таких как «Линия», «Пробел», «Шаг» и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и широкий набор распространённых функций постобработки изображений. Программа проста в использовании, эффективна и точна.

▶ Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) *Необязательный

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставляет набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройку рабочих условий, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Чёткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных для промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

▶ Автокарта *Необязательный

CIQTEK FESEM SEM4000X Введение

Внутри завода CIQTEK: экскурсия по производству электронных микроскопов

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM
Электронная оптика	Разрешение	0,9 нм при 30 кВ, SE 1,0 нм при 15 кВ, SE 1,8 нм при 1 кВ, SE 1,5 нм при 1 кВ (ультраторможение пучка) 0,8 нм при 15 кВ (ультраторможение пучка)
	Ускоряющее напряжение	0,2 кВ ~ 30 кВ
	Увеличение (Polaroid)	1 ~ 1 000 000 x
	Тип электронной пушки	Электронная пушка с полевой эмиссией Шоттки
Камера для образцов	Камера	Две камеры (оптическая навигация + мониторинг камеры)


	Диапазон этапов	X: 110 мм Y: 110 мм Z: 65 мм Т: -10°~ +70° R: 360°
Детекторы и расширения SEM	Стандартный	Внутрилинзовый электронный детектор: UD-BSE/UD-SE Детектор Эверхарта-Торнли: LD
Детекторы и расширения SEM	Необязательный	Детектор обратно рассеянных электронов (BSED) Выдвижной сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (СТЭМ) Детектор низкого вакуума (LVD) Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX) Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) Загрузочный шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов) Панель управления с трекболом и ручкой Технология режима замедления ультралучей
Пользовательский интерфейс	Язык	Английский
	ОС	Окна
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор

Горячие Теги : Производитель и поставщик полевых сканирующих электронных микроскопов Детекторы SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM высокое разрешение FESEM лучшая цена Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки высокой яркости Лучшее увеличение полевой эмиссионной сканирующей электронной микроскопии Применение полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскопpdf Примечания к полевому эмиссионному сканирующему электронному микроскопу

Оставить сообщение

Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.

Предмет : FESEM | SEM4000X

Представлять на рассмотрение

сопутствующие товары

FIB-SEM | DB550

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком Ga+ The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Имеет сфокусированную ионную колонку для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию электронной оптики «супертуннель», низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкое напряжение, высокое разрешение», чтобы гарантировать его аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонны обеспечивают источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками для обеспечения возможностей нанопроизводства. DB550 — это многофункциональная рабочая станция для наноанализа и производства с интегрированным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Узнать больше

FESEM сверхвысокого разрешения | SEM5000X

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Узнать больше

Вольфрамовая нить накала СЭМ | SEM3200

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.

Узнать больше

Истории клиентов CIQTEK SEM Microscopes

Прочитайте CIQTEK СЭМ Микроскопы понимание потребностей клиентов и Узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше