Что Вы ищете?
Популярные запросы
sem electron microscope
sem electron microscope

Высокоскоростной СЭМ | HEM6000

Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция

CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе.

Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).

Узнать сейчас

HEM6000-Полу HEM6000-Био HEM6000-Лит
Низкое напряжение и высокое разрешение Низкое напряжение и высокое разрешение Упрощенная эксплуатация
Большое поле зрения Различные автоматизированные алгоритмы для биологической области Множество вариантов выбора
Специально оптимизированные алгоритмы для легкого выравнивания часто повторяющихся образцов Детектор BSE, оптимизированный для биологических применений Высокоскоростной автоматизированный рабочий процесс
Пятиступенчатое электростатическое отклонение Система биологической 3D-реконструкции
  • Высокоскоростная автоматизация
    Полностью автоматический процесс загрузки и выгрузки образцов, а также операция получения изображений, благодаря чему общая скорость получения изображений в 5 раз выше, чем у обычного FESEM.
  • Большое поле зрения
    Технология, которая динамически смещает оптическую ось в соответствии с диапазоном отклонения сканирования, обеспечивает минимальное искажение кромок
  • Низкий уровень искажения изображения
    Технология тандемного торможения ступени образца обеспечивает низкую энергию приземления, при этом получая изображения с высоким разрешением

High Speed SEM HEM6000

Технические характеристики высокоскоростного СЭМ-микроскопа CIQTEK HEM6000 HEM6000-Полу HEM6000-Био HEM6000-Lite
Электронная оптика Разрешение 1,5 нм при 1 кВ SE 1,8 нм при 1 кВ BSE 1,5 нм при 15 кВ BSE
Ускоряющее напряжение 0,1 кВ~6 кВ (Режим замедления) 6 кВ~30 кВ (режим без замедления) 6 кВ~30 кВ
Увеличение 66~1,000,000x
Электронная пушка Высокояркая полевая электронная пушка Шоттки
Тип объектива Иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив
Электростатический дефлектор Пятиступенчатый Четырехступенчатый Четырехступенчатый
Система загрузки образцов Вакуумная система Полностью автоматическая безмасляная вакуумная система
Мониторинг образцов Горизонтальная камера наблюдения за основной камерой; вертикальная камера наблюдения за шлюзовой камерой обмена образцами
Максимальный размер выборки 4 дюйма в диаметре
Тип образца Моторизованный 3-осевой предметный столик (*опционально предметный столик с пьезоэлектрическим приводом)
Диапазон перемещения образца X, Y: 110 мм; Z: 16 мм
Повторяемость образца X：±0,6 мкм; Y：±0,3 мкм
Обмен образцами Полностью автоматический
Продолжительность обмена образцами <15 минут
Очистка камеры шлюза Полностью автоматическая система плазменной очистки
Получение и обработка изображений Время выдержки 10 нс/пиксель
Скорость получения 2*100 Мпикс/с
Размер изображения 16 К*16 К
Детектор и аксессуары Низкоугольный выдвижной детектор обратно рассеянных электронов Необязательный Никто Стандарт
Детектор обратно рассеянных электронов с малым углом наклона, нижний монтаж Необязательный Стандарт Никто
Детектор электронов в колонне Стандарт Необязательный Необязательный
Внутриколонный детектор обратнорассеянных электронов с большим углом Необязательный Необязательный Необязательный
Пьезоэлектрический столик для образцов Необязательный Необязательный Необязательный
Режим высокого разрешения с большим полем зрения (SW) Необязательный Никто Никто
Система плазменной очистки загрузочной камеры Необязательный Необязательный Необязательный
6-дюймовая система загрузки образцов Необязательный Необязательный Необязательный
Активная антивибрационная платформа Необязательный Необязательный Необязательный
Уменьшение шума; Сшивание больших областей поля; 3D-реконструкция Необязательный Необязательный Необязательный
Пользовательский интерфейс Язык Английский
ОС Окна
Навигация Оптическая навигация, навигация жестами
Автоматическая функция Автоматическое распознавание образца, автоматический выбор области визуализации, автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор
Горячие Теги : разрешение сканирующего электронного микроскопа цена Сэм микроскопа применение сканирующего электронного микроскопа сканирующая электронная микроскопия наночастиц увеличение сем микроскопа сем bse лучший сканирующий электронный микроскоп сканирующий электронный микроскоп рядом со мной
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Предмет : Высокоскоростной СЭМ | HEM6000
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy
FIB-SEM | DB550

Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Узнать больше
field emission scanning electron microscope fe sem
FESEM | SEM4000Pro

Аналитический Шоттки Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro аналитическая модель FE-SEM, оснащенная высокояркой и долговечной полевой электронной пушкой Шоттки. Ее трехступенчатая конструкция электромагнитной линзы обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS / EDX, EBSD, WDS и т. д. Модель стандартно поставляется с режимом низкого вакуума и высокопроизводительным низковакуумным вторичным электронным детектором, а также выдвижным детектором обратно рассеянных электронов, что позволяет наблюдать за плохо проводящими или непроводящими образцами.

Узнать больше
scanning electron microscope machine
Вольфрамовая нить накала СЭМ | SEM3200

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.

Узнать больше
sem microscope price
Истории клиентов CIQTEK SEM Microscopes

Прочитайте CIQTEK СЭМ Микроскопы понимание потребностей клиентов и Узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт