CIQTEK SEM2000 — это фундаментальный и универсальный аналитический сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью с разрешением от 20 кВ до 3,9 нм и поддержкой повышения напряжения до 30 кВ, позволяющий наблюдать микроструктурную информацию субмикромасштабных образцов.
Он имеет более широкий диапазон движений, чем настольный СЭМ. Он подходит для быстрого скрининга образцов и имеет больше интерфейсов расширения для BSED, EDS/EDX и других аксессуаров, обеспечивающих более широкий спектр применений.
Понятный и простой интерфейс
Функции просты и удобны в эксплуатации. Даже новички могут быстро приступить к работе после быстрого обучения.
Расширенные функции автоматизации
Автоматическая контрастность яркости, автофокусировка и автоматическая дисперсия изображения настраиваются одним щелчком мыши.
Расширенные функции измерения
Функции управления фотографиями, предварительного просмотра и редактирования с функциями измерения, такими как длина, площадь, округлость и угол.
Рекомендуемые функции
Легко перемещаться, нажимая на то место, которое вы хотите увидеть.
Стандартная оптическая навигационная камера для фотографий сцены с образцами высокого разрешения и быстрого позиционирования образцов.
Более удобная для новичков конструкция предотвращения столкновений для максимальной защиты чувствительных устройств.
*Программное обеспечение легко работать с созданием изображений одним щелчком мыши.
Оптимальное расстояние анализа и расстояние изображения — два в одном, что позволяет легко оценить качество работы.
Одновременное отображение множественной информации
Программное обеспечение поддерживает переключение между SE и BSE одним щелчком мыши для гибридной визуализации. Одновременно можно наблюдать как морфологическую, так и композиционную информацию образца.
Индикаторы разрешения
Универсальные детекторы
Высокочувствительный детектор обратного рассеяния
· Многоканальная визуализация
Детектор имеет компактную конструкцию и высокую чувствительность. Благодаря 4-сегментной конструкции нет необходимости наклонять образец для получения теневых изображений в разных направлениях, а также изображений распределения состава.
· Сравнение визуализации вторичных электронов (SE) и визуализации обратно рассеянных электронов (BSE).
В режиме визуализации обратно рассеянных электронов эффект заряда значительно уменьшается и можно получить больше информации о составе поверхности образца.
Энергетический спектр
Результаты сканирующего анализа энергетического спектра металлических включений.
Дифракция обратного рассеяния электронов (EBSD)
Электронный микроскоп с вольфрамовой нитью с большим током луча полностью соответствует требованиям тестирования EBSD высокого разрешения и способен анализировать поликристаллические материалы, такие как металлы, керамика и минералы, для калибровки ориентации кристаллов и размера зерна.
На рисунке показана антиподальная карта EBSD образца металлического Ni, которая может идентифицировать размер и ориентацию зерен, определять границы зерен и двойники, а также делать точные выводы об организации и структуре материала.
Электрооптические системы | Электронная пушка | Предварительно выровненная вольфрамовая нить среднего размера вилочного типа |
Разрешение | 3,9 нм при 20 кВ (ЮВ) 4,5 нм при 20 кВ (BSE) |
|
Увеличение | 1 х ~ 300 000 х | |
Ускоряющее напряжение | 0,5 кВ ~ 20 кВ | |
Системы визуализации | Детектор | Детектор вторичных электронов (ETD) *Детектор обратных электронов (ДСЭД), *энергетический спектрометр ЭДС и др. |
Формат изображения | TIFF, JPG, BMP, PNG | |
Вакуумная система | Высокий вакуум | Лучше, чем 5×10 -4 Па |
Режим управления | Полностью автоматизированная система управления | |
Насосы | Механический насос ×1, Молекулярный насос ×1 | |
Образец камеры | Камера | Оптическая навигация |
Пример таблицы | Двухосный автоматический | |
Расстояние | Х: 100 мм Y: 100 мм |
|
Программное обеспечение | Операционная система | Окна |
Навигация | Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов | |
Автоматические функции | Автоматическая яркость, контрастность, автофокус, автоматическое рассеивание | |
Специальные функции | Интеллектуальная ассистированная дисперсия, *Крупномасштабное сшивание изображений (дополнительные аксессуары) | |
Требования к установке | Космос | Д ≥ 3000 мм, Ш ≥ 4000 мм, В ≥ 2300 мм |
Температура | 20°С (68°F) ~ 25°С (77°F) | |
Влажность | ≤ 50 % | |
Источник питания | 220 В переменного тока (±10 %), 50 Гц, 2 кВА |