sem microscope for sale

СЭМ с вольфрамовой нитью | СЭМ2100

Простота использования Компактная вольфрамовая нить Сканирующий электронный микроскоп

The Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM2100 отличается упрощенным рабочим процессом и соответствует отраслевым стандартам и привычкам пользователя в дизайне «Пользовательского интерфейса». Несмотря на минималистский программный интерфейс, он предоставляет комплексные автоматизированные функции, инструменты измерения и аннотирования, возможности управления постобработкой изображений, оптическую навигацию по изображениям и многое другое. Дизайн SEM2100 идеально реализует идею «Простота без ущерба для функциональности».

Оптическая навигация

Использование вертикально установленной камерной камеры для получения оптических изображений для навигации по предметному столику образца позволяет обеспечить более интуитивное и точное позиционирование образца.


▶Интеллектуальная вспомогательная коррекция астигматизма изображения

В этом режиме значение астигматизма X и Y меняется в зависимости от пикселей. Четкость изображения максимальна при оптимальном значении астигматизма, что позволяет быстро настроить стигматор.


Автоматические функции

Улучшенные функции автоматической яркости и контрастности, автоматической фокусировки и автоматической коррекции астигматизма. Визуализация одним щелчком!

>> Автоматическая фокусировка

>> Автоматическая коррекция астигматизма

>> Автоматическая яркость и контрастность


Безопаснее в использовании


Простая замена нити

Предварительно выровненный сменный модуль нити готов к использованию.

Программное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Необязательный

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.


Программное обеспечение для постобработки изображений

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте онлайн- и офлайн-постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерения и аннотирования.


Автоматическое измерение *Необязательный

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание краев ширины линии, что приводит к более точным измерениям и более высокой согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как Line, Space, Pitch и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.


Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) *Необязательный

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставляют набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, проверка примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.


Автокарта *Необязательный

Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM2100
Электронная оптика Разрешение 3,9 нм при 20 кВ, SE
4,5 нм при 20 кВ, BSE
Ускоряющее напряжение 0,5 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (поляроид) 1 х ~ 300 000 х
Камера для образцов Камера Оптическая навигация
Мониторинг палаты
Тип сцены 3-осевой, ось XYZ, совместимый с вакуумом, моторизованный
Диапазон XY 125 мм
Диапазон Z 50 мм
Детекторы СЭМ Стандарт Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Необязательный Выдвижной детектор обратно-рассеянных электронов (BSED)
Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)
Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
Необязательный Шлюз для обмена образцами
Панель управления с трекболом и ручкой
Пользовательский интерфейс Операционная система Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком Ga+ The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Имеет сфокусированную ионную колонку для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию электронной оптики «супертуннель», низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкое напряжение, высокое разрешение», чтобы гарантировать его аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонны обеспечивают источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками для обеспечения возможностей нанопроизводства. DB550 — это многофункциональная рабочая станция для наноанализа и производства с интегрированным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Узнать больше
sem electron microscope

Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).

Узнать больше
fesem edx

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Узнать больше
field emission scanning electron microscopy

Высокое разрешение при низком возбуждении The CIQTEK SEM5000Pro это высокое разрешение Шоттки сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Специализируется на высоком разрешении даже при низком напряжении возбуждения. Использование передовой технологии электронной оптики «Super-Tunnel» обеспечивает свободный от пересечений путь луча и конструкцию электростатическо-электромагнитной составной линзы. Эти достижения снижают эффект пространственной зарядки, минимизируют аберрации линз, повышают разрешение изображений при низком напряжении и достигают разрешения 1,2 нм при 1 кВ, что позволяет напрямую наблюдать непроводящие или полупроводящие образцы, эффективно снижая повреждение образцов от облучения.

Узнать больше
field emission scanning electron microscope fe sem

Аналитический Шоттки Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro аналитическая модель FE-SEM, оснащенная высокояркой и долговечной полевой электронной пушкой Шоттки. Ее трехступенчатая конструкция электромагнитной линзы обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS / EDX, EBSD, WDS и т. д. Модель стандартно поставляется с режимом низкого вакуума и высокопроизводительным низковакуумным вторичным электронным детектором, а также выдвижным детектором обратно рассеянных электронов, что позволяет наблюдать за плохо проводящими или непроводящими образцами.

Узнать больше
field emission sem price

Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный The CIQTEK SEM4000X является стабильным, универсальным, гибким и эффективным сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) . Он достигает разрешения 1,9 нм при 1,0 кВ и легко справляется с задачами визуализации высокого разрешения для различных типов образцов. Его можно модернизировать с помощью режима замедления ультра-луча, чтобы еще больше улучшить разрешение при низком напряжении. Микроскоп использует технологию мультидетектора с электронным детектором в колонке (UD), способным обнаруживать сигналы SE и BSE, обеспечивая при этом высокое разрешение. Электронный детектор, установленный в камере (LD), включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножительные трубки, предлагая более высокую чувствительность и эффективность, что приводит к стереоскопическим изображениям с превосходным качеством. Графический пользовательский интерфейс удобен для пользователя, с функциями автоматизации, такими как автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигматор и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро захватывать изображения сверхвысокого разрешения.

Узнать больше
scanning electron microscope market

Сверхвысокое разрешение Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью The CIQTEK SEM3300 Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Включает такие технологии, как "супертуннельная" электронная оптика, внутрилинзовые электронные детекторы и электростатические и электромагнитные составные объективные линзы. Применяя эти технологии к микроскопу с вольфрамовой нитью, можно превзойти давний предел разрешения такого СЭМ, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа низкого напряжения, которые ранее были достижимы только с помощью полевых эмиссионных СЭМ.

Узнать больше
scanning electron microscope machine

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM3200 - это превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двойным анодом обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных принадлежностей, что делает SEM3200 универсальным аналитическим прибором с превосходной расходуемостью.

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт