Новости и события

CIQTEK , a leading manufacturer and supplier of advanced Electron Paramagnetic Resonance (EPR) instrumentation, will host the " Symposium on Cutting-Edge Technology Applications of EPR – Focus on High-Frequency and High-Field EPR Technology and Complex System Analysis " in Hefei, China. The event will bring together international researchers, instrument scientists, and application experts to explore the latest developments in high-field EPR, high-frequency EPR spectroscopy, and complex system analysis . Event Details Date: March 31, 2026 Location: CIQTEK Co., Ltd., No. 1969, Kongquetai Road, High-tech Zone, Hefei, Anhui, China Advancing High-Field EPR for Complex Research Challenges As research moves toward increasingly complex biological and material systems, high-frequency and high-field EPR technologies are becoming essential tools for improving spectral resolution, sensitivity, and structural insight. This symposium will focus on how advanced EPR methods enable: Structural analysis of biological macromolecules and protein aggregation Investigation of spin dynamics and quantum systems Characterization of energy materials such as batteries Improved experimental accuracy through advanced instrumentation and data processing By addressing real experimental challenges, the event aims to support researchers in generating more reliable and high-quality EPR data . International Expert Insights Across Academia and Industry The symposium will feature a series of technical presentations from leading experts across academia and industry, covering both fundamental research and practical EPR applications . Key topics include: Next-generation X-, Q-, and W-band EPR instrumentation AI-enhanced spectral analysis and data interpretation EPR studies of tau protein aggregation and biomolecular structures EPR imaging techniques for battery research Ultra-low temperature systems for advanced spectroscopy The speaker lineup includes researchers from globally recognized institutions such as Peking University, Tsinghua University, and the French National Centre for Scientific Research (CNRS), highlighting the international scope of the event. Connecting EPR Users with Instrument Innovation In addition to scientific sessions, the symposium will provide opportunities for direct interaction between EPR users and instrument developers. Participants will benefit from: In-depth discussions on EPR system optimization and experimental workflows Insights into the latest advances in EPR instrument design and performance A guided visit to the CIQTEK Scientific Instrument Exhibition Center and Application Center These activities are designed to bridge the gap between application needs and instrument development , enabling more efficient and targeted research. Symposium Agenda

Компания CIQTEK, лидер в области высококачественного научного оборудования, с гордостью принимает участие в этом проекте. Совместная конференция FBNL по магнитно-резонансной томографии (FBNL-MR 2026) от со 2 по 5 июня в университете Лилля, Франция. Инновации на стенде Посетите сайт команды CIQTEK, чтобы ознакомиться с нашим передовым портфолио продуктов. ЭПР (ESR) и ЯМР спектрометры. Наши специалисты по применению продукции будут присутствовать на месте, чтобы обсудить, как технологии точных измерений CIQTEK поддерживают сложные исследования в области материаловедения, химии и биологических наук. Не пропустите нашу беседу! Присоединяйтесь к нам! Магнитный резонанс Менеджер решений, Доктор Джефф Сан Для 10-минутной презентации о будущем ЭПР-спектроскопии: Тема: ЭПР следующего поколения: сочетание высокопроизводительных приборов Q-диапазона с обработкой спектра с помощью искусственного интеллекта. Выделять: Узнайте, как CIQTEK объединяет высокочастотное оборудование Q-диапазона с алгоритмами искусственного интеллекта для революционного повышения спектрального разрешения и эффективности обработки данных. Мы с нетерпением ждём возможности наладить контакты с сообществами специалистов по магнитно-резонансной томографии во Франции, Бельгии, Нидерландах и Люксембурге. Для получения дополнительной информации посетите сайт. www.ciqtekglobal.com или свяжитесь с нами по адресу info@ciqtek.com.

[Оденсе, Дания] Компания CIQTEK с гордостью объявляет о своем участии в 77-я ежегодная конференция Северного общества микроскопии (SCANDEM 2026) Мероприятие проходило в Оденсе, Дания, с 9 по 12 июня. Посетите нас на стенде II.5. Будучи центром высокоточного приборостроения, Оденсе предоставляет компании CIQTEK идеальную площадку для достижения своих целей. Академический резонанс «В сотрудничестве с ведущими скандинавскими институтами. Укрепляя свои позиции в научных экосистемах Дании, Швеции и Норвегии, мы стремимся удовлетворить самые сложные потребности в характеризации и расширить возможности…» региональные исследования и промышленный рост с помощью наших высокоточных измерительных инструментов. Экспертное обсуждение: Инновации в высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии Одним из главных событий участия CIQTEK станет техническая презентация нашего менеджера по решениям: Докладчик: Доктор Майлз Яо, менеджер по решениям в компании CIQTEK. Тема: Раскройте потенциал уникального решения для высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии от CIQTEK. Фокус: Узнайте, как уникальные высокоскоростные решения CIQTEK для сканирующей электронной микроскопии позволяют получать крупномасштабные изображения высокого разрешения, что ускоряет повышение производительности исследований. Глобальное видение: Безупречная профессиональная поддержка CIQTEK Компания быстро расширяет свою глобальную сервисную сеть. На конференции SCANDEM 2026 наша европейская команда предоставит экспертную поддержку исследовательскому сообществу Северных стран. Мы стремимся к достижению высоких результатов. Оперативная и профессиональная подде

Он Учебные курсы SEM в Мюнстере, 2026 год. завершилось с выдающимся успехом, CIQTEK SEM3200 стала одной из самых обсуждаемых систем во время практических занятий. В ходе программы многие участники смогли практически сразу освоить работу с микроскопом, зачастую без предварительного ознакомления. Интуитивно понятный интерфейс системы, простота использования и высокое качество изображения произвели на участников неизгладимое и сильное впечатление. Практический опыт, который произвел неизгладимое впечатление. С 16 по 20 марта Сканирующий электронный микроскоп CIQTEK SEM3200 с вольфрамовой нитью активно использовался во время тренировок в Мюнстере, Германия. В отличие от традиционных демонстраций, здесь основное внимание уделялось реальному практическому использованию. Участникам предлагалось непосредственно управлять системой, изучать настройки и запускать собственные примеры. Уникальность этого опыта заключалась в том, как быстро пользователи адаптировались к прибору. Во многих случаях участники начали работать с SEM3200 самостоятельно, без необходимости пошаговых инструкций. Эта мгновенная простота использования стала одним из наиболее часто упоминаемых положительных моментов курса. Положительные отзывы от реальных пользователей В ходе занятий отзывы участников были неизменно положительными. Многие пользователи описывали SEM3200 следующим образом: Простота в использовании даже для начинающих пользователей. Оснащен чистым и интуитивно понятным интерфейсом. Способен получать четкие изображения высокого разрешения. Предлагая сбалансированный и практичный набор функций. Несколько участников выразили искреннее удивление по поводу того, как быстро они смогли начать работу и добиться значимых результатов. Для опытных пользователей микроскопии особенно выделялись эффективность рабочего процесса и быстродействие системы. Для начинающих пользователей простота управления значительно сократила время обучения. Реальные образцы, реальные результаты В ходе тренировочных занятий был протестирован широкий спектр реальных примеров, в том числе: Макрофаги Сплавы Эти экспериментальные исследования в реальных условиях позволили участникам оценить работу SEM3200 в практических ситуациях, а не в рамках контролируемых демонстраций. Результаты неизменно впечатляли пользователей. Высокое качество изображения, стабильная работа и гибкие возможности управления позволили участникам быстро получать полезные данные. Многие участники отметили, что система превзошла их ожидания, особенно в плане четкости изображения и общей удобности использования. О курсах повышения квалификации SEM в Мюнстере Учебные курсы SEM в Мюнстере организуются... Академия электронной микроскопии и аналитики gGmbH , хорошо зарекомендовавшее себя учреждение, специализирующееся на электронной микроскопии и микроанализе. Эти многолетние курсы привлекают исследователей, инженеров и представителей промышленности со всей Европы. Программа сочетает лекции с практическими занятиями, охватывая основы сканирующей эл...

CIQTEK Компания, ведущий мировой производитель высококачественных научных приборов, с гордостью объявляет о своем участии в 61-й ежегодной конференции Юго-восточного микроскопического общества (SEMS), которая пройдет с 11 по 13 мая 2026 года в Афинах, штат Джорджия. Команда CIQTEK в США: локализованная экспертиза и поддержка. Для более эффективного обслуживания североамериканского рынка компания CIQTEK создала специальную местную команду в США. На выставке SEMS 2026 наши специалисты по применению и сервисные инженеры проведут консультации на месте, продемонстрировав нашу оперативную местную сеть поддержки — от установки и разработки приложений до текущего технического обслуживания — обеспечивая бесперебойную работу для наших клиентов. Стратегическое значение: взаимодействие с академическим сообществом и региональный рост. Участие в SEMS 2026 — ключевой шаг в стремлении CIQTEK к региональному развитию. Мы с нетерпением ждем возможности пообщаться с исследователями из ведущих учреждений, таких как Университет Джорджии (UGA), чтобы выявить актуальные потребности и стимулировать будущие инновации. Это мероприятие также укрепляет наше присутствие в промышленных секторах юго-востока США. Сосредоточиться на Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) Технологии В соответствии с основной тематикой конференции, компания CIQTEK представит свою серию высокопроизводительных сканирующих электронных микроскопов (например, SEM3300). Эти платформы обеспечивают получение изображений высокого разрешения, исключительную стабильность и интеллектуальные рабочие процессы, предоставляя точные решения для характеризации материалов в исследованиях

CIQTEK участвовал в Ежегодная встреча и выставка TMS 2026 Мероприятие проходило с 15 по 19 марта 2026 года в Сан-Диего, Калифорния, США. Наша американская команда и местный партнер по дистрибуции приветствовали посетителей. Стенд № 307 где мы представили нашу последнюю разработку. растворы для электронной микроскопии для применения в материаловении. О программе TMS 2026 Организовано Общество минералов, металлов и материалов (TMS) Эта ежегодная встреча является ключевым событием для мирового сообщества материаловедов. Она объединяет исследователей, инженеров и специалистов отрасли, работающих в таких областях, как металлургия, передовые материалы, аддитивное производство и технологии характеризации. Это мероприятие предоставляет отличную платформу для обмена идеями, открытия новых технологий и обсуждения реальных проблем в области материаловедения и производства. Специализированные решения для материаловедческих исследований с использованием сканирующего электронного микроскопа. Компания CIQTEK представила решения для электронной микроскопии, разработанные для поддержки широкого спектра применений в материаловении. Наши системы хорошо подходят для: Микроструктурный анализ металлов и сплавов Анализ причин отказов и расследование причин дефектов Характеристика порошка и частиц Аддитивное производство и исследования новых материалов Многих посетителей особенно заинтересовало то, как системы CIQTEK обеспечивают стабильное качество изображения, оставаясь при этом простыми в эксплуатации. Для лабораторий, стремящихся найти баланс между производительностью, удобством использования и бюджетом, это сочетание особенн�

CIQTEK успешно участвовал в Питткон 2026 9–11 марта, Сан-Антонио, Техас. подключение с исследователи, инструмент специалисты, и промышленность профессионалы от через Север Америка и вокруг тот мир. В стенд # 1113 , тот CIQTEK команда представлено его последний решения в электрон микроскопия , ЯМР и ЭПР спектроскопия , и газ адсорбция анализ , рисунок сильный интерес от посетители работающий в материалы наука, химия, и передовой исследовать. Поддерживается к тот CIQTEK У. С. команда и местный распределение партнеры , тот киоск предоставил а гостеприимный космос для в- глубина технический обсуждения и жить демонстрации. Много посетители остановился к к учиться более о CIQTEK инструменты и исследовать как эти технологии может поддерживать их исследовать проекты. Демонстрация CIQTEK Электрон Микроскопия Электрон микроскопия был один из тот ключ основные моменты в тот CIQTEK киоск . Посетители имел тот возможность к учиться о CIQTEK электрон микроскопия (SE) M/FIB, TEM) решения , разработанный к предоставлять надежный высокий- разрешение визуализация для а широкий диапазон из приложения. Исследователи от университеты и исследовать лаборатории были особенно заинтересованный в как CIQTEK СЭМ системы может поддерживать материалы характеристика, наноструктура анализ, и полупроводник исследовать . Он CIQTEK команда общий настоящий приложение примеры и обсуждалось как стабильный визуализация производительность и пользователь- дружелюбно операция может помощь лаборатории получать высокий- качество результаты более эффективно. ЯМР и ЭПР Спектроскопия для Современный Исследовать CIQTEK также введен его Ассортимент спектрометров ядерного магнитного резонанса (ЯМР) и электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) что вызвало большой интерес у ученых в химия, катализ, и материалы исследовать. Много посетители были интересуется компанией CIQTEK. настольные решения для ЭПР разработан для того, чтобы сделать спектроскопию ЭПР более доступной для лабораторий, стремящихся компактный системы с сильный производительность. Обсуждения в тот киоск покрытый Широкий спектр применений, включая исследования свободных радикалов, ионов переходных металлов и дефектов материалов. . Поверхность и Пористость Анализ В добавление к электрон микроскопия и ЭПР, CIQTEK представлено его газ адсорбция анализаторы для поверхность область и пора структура характеристика. Эти инструменты являются широко использовал в исследовать районы такой как катализаторы, энергия материалы, пористая материалы, и относящийся к окружающей среде наука. Посетители были заинтересованный в обсуждение измерение рабочие процессы, данные интерпретация, и как газ адсорбция техники может дополнение другой характеристика методы в материалы исследовать. Укрепление Связи в Север Америка С поддержка со стороны Американская команда CIQTEK и местные партнеры Компания CIQTEK продолжает расширять свое присутствие на североамериканском рынке и оказывать оперативную техническую поддержку. клиенты! Свяжитесь с нашей командой в СШ...

CIQTEK примет участие 16-й Австрийское общество электронной микроскопии ( Семинар ASEM по передовой электронной микроскопии , происходящее в 20–21 апреля 2026 г. в Австрийский институт науки и технологий (ISTA) в Клостернойбург , Австрия . Этот семинар объединяет исследователей, инженеров и специалистов по микроскопии для изучения последних достижений в данной области. Технологии электронной микроскопии, сканирующая электронная микроскопия и научные приложения. . Демонстрация решений CIQTEK для электронной микроскопии. На мероприятии Команда CIQTEK по электронной микроскопии (ЕС) представит свой сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) и Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) системы , подчеркивая области применения в материаловедение, нанотехнологии, исследования полупроводников и биологические науки Участники смогут узнать о высокопроизводительных, надежных и удобных в использовании электронных микроскопах CIQTEK, разработанных для удовлетворения разнообразных исследовательских потребностей. Кроме того, доктор Фэнфа Яо, старший научный сотрудник по решениям в области электронной микроскопии из европейской группы CIQTEK, выступит с технической презентацией на тему " Раскройте потенциал уникальной высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии без ущерба для превосходного разрешения изображения при низком напряжении (кВ) для крупномасштабных объемных микроскопических приложений от CIQTEK. В докладе будут представлены последние достижения компании CIQTEK в области... высокоскоростная СЭМ-визуализация демонстрируя, как исследователи могут добиться быстрого сбора данных, сохраняя при этом прево