*Загрузочный шлюз для обмена образцами (совместимо с 8-дюймовым дисплеем)
Электромагнитное отклонение луча с помощью многоотверстийной апертуры
Отличная расширяемость

▶ Электронная оптика

★ Технология электронно-оптической колонны «Супертуннель»/торможение пучка в линзе
Уменьшает эффект пространственной зарядки, обеспечивая разрешение при низком напряжении.

★ Отсутствие кроссоверов на пути электронного пучка
Эффективно уменьшает аберрации объектива и улучшает разрешение.

★ Электромагнитный и электростатический составной объектив
Уменьшить аберрации, значительно улучшить разрешение при низких напряжениях и обеспечить наблюдение за магнитными образцами.

★ Объектив с водяным охлаждением и постоянной температурой
Обеспечить стабильность, надежность и повторяемость работы объектива.

★ Изменяемая многоотверстная апертура с электромагнитной системой отклонения луча
Автоматическое переключение между диафрагмами без механического движения, что позволяет быстро переключаться между режимами съемки.

▶ Режим ECCI на основе BSED (электронно-канальная контрастная визуализация)

«Эффект каналирования электронов» означает значительное уменьшение рассеяния электронов кристаллическими решетками, когда падающий электронный пучок удовлетворяет условию дифракции Брэгга, позволяя большому количеству электронов проходить через решетку, тем самым демонстрируя эффект «каналирования».

Для поликристаллических материалов с однородным составом и полированными плоскими поверхностями интенсивность обратно рассеянных электронов зависит от относительной ориентации падающего электронного пучка и кристаллографических плоскостей. Зёрна с большей вариацией ориентации дают более сильные сигналы, а следовательно, более яркие изображения. Качественная характеристика достигается с помощью такой карты ориентации зёрен.

Сплавы, напечатанные на 3D-принтере (полученные с помощью ионно-лучевой полировки)
Нержавеющая сталь (подготовленная с помощью ионно-лучевой полировки)

▶ Одновременная многоканальная визуализация с помощью различных детекторов

Высокое разрешение при исследовании топографических особенностей поверхности было достигнуто с помощью внутрилинзового электронного детектора.
Качественные стереоскопические изображения морфологических признаков с помощью детектора Эверхарта-Торнли
Изображение с контрастом по атомному числу (Z-контраст) с использованием выдвижного детектора обратно рассеянных электронов

▶ Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СТЭМ)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Несколько режимов работы: Визуализация в светлом поле (BF), визуализация в темном поле (DF), визуализация в кольцевом темном поле под большим углом (HAADF)

Визуализация среза растения в светлом поле (STEM-BF)
Темнопольная съемка среза растения (STEM-DF)
Изображение с атомно-числовым контрастом (Z-контраст) с выдвижным детектором обратно рассеянных электронов

▶ Достижения в области электронной микроскопии CIQTEK — больше возможностей

>> Энергодисперсионная спектрометрия

>> Католуминесценция

>> ЭБСД

Галерея изображений микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro

>> Материаловедение – Наноматериалы

Непроводящий двумерный материал C3N4, неразрушающая характеристика его тонкой слоистой структуры в условиях низкого напряжения 500 В
Визуализация никелевой пены с сильным трехмерным эффектом с использованием возбуждающего напряжения 2 кВ с детектором Эверхарта-Торнли (ETD)
Визуализация субнанометрового серебряного порошка с использованием внутрилинзового электронного детектора при 3 кВ в условиях высокого вакуума

>> Материаловедение - Энергетические материалы

Прекурсор катода литий-ионного аккумулятора — фосфат железа с плохой проводимостью, полученный с помощью внутрилинзового электронного детектора (In-lens Electron Detector) в условиях низкого напряжения (1 кВ)
Качество металлизации поверхности фотоэлектрических кремниевых пластин, полученное с помощью детектора Эверхарта-Торнли (ETD), установленного в камере, при напряжении 2 кВ
Поверхность пленки SEI (твердоэлектролитной интерфазы) на неисправном отрицательном электроде, полученная в условиях высокого вакуума с использованием внутрилинзового электронного детектора (In-lens Electron Detector) при 3 кВ

>> Материаловедение - Полимерные материалы и металлические материалы

Использование детектора Эверхарта-Торнли (ETD) в условиях высокого вакуума и низкого напряжения (1 кВ) для визуализации морфологии полистирольных микросфер. Явление зарядки не наблюдалось, что привело к выраженному трёхмерному восприятию.
Неразрушающая визуализация 500 В полимерных мембранных волокон литий-ионных аккумуляторов в условиях поверхностной чувствительности
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Высокоразрешающая визуализация наноразмерных выделений на поверхностях изломов с использованием выдвижного детектора обратно рассеянных электронов (BSED)

>> Магнитные материалы - Полимерные материалы и металлические материалы

Полимерные магнитные шарики с плохой проводимостью, характеризующиеся низким напряжением 2 кВ с помощью детектора Эверхарта-Торнли (ETD) для характеристики биологически направленной доставки лекарств.
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
Для характеристики поверхности разрушения железоникелевого сплава использовалась визуализация 10 кВ с помощью детектора Эверхарта-Торнли (ETD).
Полимерные магнитные шарики, характеризуемые с помощью низковольтного детектора Эверхарта-Торнли (ETD) напряжением 2 кВ, демонстрируют ярко выраженное чувство трехмерности.

>> Полупроводниковые материалы

Визуализация поверхностных рисунков и цепей на чипе с помощью выдвижного детектора обратно-рассеянных электронов (BSED)
Характеристика поверхности и краев отверстий фоторезиста с помощью низковольтного (2 кВ) детектора Эверхара-Торнли (ETD)
Визуализация паяных соединений золотых проводов на чипе с помощью выдвижного детектора обратно-рассеянных электронов (BSED). Образец подготовлен методом ионно-лучевой полировки.

>> Науки о жизни

Характеристика иридофоров в клетках кожи ящериц с использованием STEM-детектора в CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Цвета животных в природе можно разделить на две категории в зависимости от механизмов их формирования: пигментные цвета и структурные цвета.
Цвета пигментов достигаются за счет изменений в составе пигмента и наложения цветов, аналогично принципам «основных цветов».
Структурные цвета, с другой стороны, возникают в результате отражения света различной длины волны сложными физиологическими структурами, основанными, главным образом, на принципах оптики. Иридофоры, обнаруженные в клетках кожи ящериц, обладают структурами, похожими на дифракционные решётки. Мы называем эти структуры «кристаллическими пластинками». Кристаллические пластинки способны отражать и рассеивать свет различной длины волны. Исследования показали, что, варьируя размер, расстояние между кристаллическими пластинками и угол наклона иридофоров ящериц, можно изменять длины волн света, рассеиваемого и отражаемого их кожей. Это открытие важно для понимания механизмов изменения цвета кожи ящериц.

▶ Программное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Необязательный

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для разных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

▶ Программное обеспечение для постобработки изображений *Необязательный

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте онлайн или офлайн постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерений и аннотаций.

▶ Автоматическое измерение *Необязательный

Автоматическое распознавание границ линий, что обеспечивает более точные измерения и более высокую стабильность. Поддержка различных режимов определения границ, таких как «Линия», «Пробел», «Шаг» и т. д. Совместимость с различными форматами изображений и широкий набор распространённых функций постобработки изображений. Программа проста в использовании, эффективна и точна.

▶ Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) *Необязательный

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставляет набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройку рабочих условий, включение/выключение питания, управление предметным столиком и т. д. Чёткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных для промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

▶ Автокарта *Необязательный

Микроскоп CIQTEK FESEM SEM5000Pro в кампусе Ульсан Корейского политехнического университета
Наши корейские клиенты успешно установили FESEM SEM5000 в кампусе Ульсана. Он по праву считается одним из самых современных СЭМ на сегодняшний день. (Видео прилагается)

>> Читать далее

Введение в CIQTEK FESEM SEM5000Pro

CIQTEK FESEM SEM5000Pro в кампусе Ульсанского политехнического университета, Корея

Внутри завода CIQTEK: экскурсия по производству электронных микроскопов

Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Электронная оптика	Разрешение	0,7 нм при 15 кВ, SE 1,1 нм при 1,0 кВ, SE
	Ускоряющее напряжение	0,02 кВ ~ 30 кВ
	Увеличение (Polaroid)	1 ~ 2 500 000 x
	Тип электронной пушки	Электронная пушка с полевой эмиссией Шоттки
Камера для образцов	Камера	Две камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
	Камера	Две камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
	Диапазон этапов	X: 110 мм, Y: 110 мм, Z: 65 мм Т: -10°～ +70°, П: 360°
Детекторы и расширения SEM	Стандартный	Детектор электронов Inlens Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Детекторы и расширения SEM	Необязательный	Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED) Выдвижной сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (СТЭМ) Детектор низкого вакуума (LVD) Энергодисперсионная спектроскопия (EDS/EDX) Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) Загрузочный шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов) Панель управления с трекболом и ручкой
Программное обеспечение	Язык	Английский
	Операционная система	Окна
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор

Горячие Теги : Производитель и поставщик полевых сканирующих электронных микроскопов Детекторы SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM высокое разрешение FESEM лучшая цена Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки высокой яркости Лучшее увеличение полевой эмиссионной сканирующей электронной микроскопии Применение полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскопpdf Примечания к полевому эмиссионному сканирующему электронному микроскопу

Оставить сообщение

Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.

Предмет : FESEM | SEM5000Pro