ФЕСЭМ | SEM5000Pro поставщик, ФЕСЭМ | SEM5000Pro производитель, ФЕСЭМ

ФЕСЭМ | SEM5000Pro

Высокое разрешение при низком возбуждении

The CIQTEK SEM5000Pro это высокое разрешение Шоттки сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Специализируется на высоком разрешении даже при низком напряжении возбуждения. Использование передовой технологии электронной оптики «Super-Tunnel» обеспечивает свободный от пересечений путь луча и конструкцию электростатическо-электромагнитной составной линзы.

Эти достижения снижают эффект пространственной зарядки, минимизируют аберрации линз, повышают разрешение изображений при низком напряжении и достигают разрешения 1,2 нм при 1 кВ, что позволяет напрямую наблюдать непроводящие или полупроводящие образцы, эффективно снижая повреждение образцов от облучения.

Низкое напряжение, высокое разрешение
Высокая стабильность
Внутрилинзовый электронный детектор

*Загрузочный шлюз для обмена образцами (совместимо с 8-дюймовым дисплеем)
Электромагнитное отклонение луча с помощью многоотверстийной апертуры
Отличная расширяемость

▶ Электронная оптика

★ Технология электронно-оптической колонны «Супертуннель»/торможение пучка в линзе
Уменьшение эффекта пространственной зарядки, обеспечение разрешения при низком напряжении.

★ Отсутствие кроссовера на пути электронного пучка
Эффективно уменьшает аберрации объектива и улучшает разрешение.

★ Электромагнитная и электростатическая составная линза объектива
Уменьшают аберрации, значительно улучшают разрешение при низких напряжениях и позволяют наблюдать магнитные образцы.

★ Объектив с водяным охлаждением и постоянной температурой
Обеспечить стабильность, надежность и повторяемость работы объектива.

★ Изменяемая многоотверстная апертура с электромагнитной системой отклонения луча
Автоматическое переключение между апертурами без механического движения, что позволяет быстро переключаться между режимами съемки.

▶ Режим ECCI на основе BSED (электронно-канальная контрастная визуализация)

«Эффект каналирования электронов» означает значительное уменьшение рассеяния электронов кристаллическими решетками, когда падающий электронный пучок удовлетворяет условию дифракции Брэгга, позволяя большому количеству электронов проходить через решетку, тем самым проявляя эффект «каналирования».

Для поликристаллических материалов с однородным составом и полированными плоскими поверхностями интенсивность обратно рассеянных электронов зависит от относительной ориентации между падающим электронным пучком и кристаллическими плоскостями. Зерна с большим изменением ориентации демонстрируют более сильные сигналы, поэтому более яркие изображения, качественная характеристика с такой картой ориентации зерен достигается.

Сплавы, напечатанные на 3D-принтере (подготовленные с помощью ионно-лучевой полировки)
Нержавеющая сталь (подготовленная с помощью ионно-лучевой полировки)

▶ Одновременная многоканальная визуализация с помощью различных детекторов

Высокое разрешение было достигнуто при исследовании топографических особенностей поверхности с помощью внутрилинзового электронного детектора.
Хорошие стереоскопические изображения морфологических признаков с помощью детектора Эверхарта-Торнли
Изображение с контрастом атомного числа (Z-контраст) с использованием выдвижного детектора обратно рассеянных электронов

▶ Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СТЭМ)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Несколько режимов работы: Визуализация в светлом поле (BF), Визуализация в темном поле (DF), Визуализация в темном поле под большим углом (HAADF)

Визуализация среза растения в светлом поле (STEM-BF)
Темнопольная визуализация среза растения (STEM-DF)
Изображение с контрастом атомного числа (Z-контраст) с выдвижным детектором обратно рассеянных электронов

▶ Достижения в области электронной микроскопии CIQTEK — больше возможностей

>> Энергодисперсионная спектрометрия

>> Католическая люминесценция

>> ЭБСД

Галерея изображений микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro

>> Материаловедение - Наноматериалы

Непроводящий двумерный материал C3N4, неразрушающая характеристика его тонкой слоистой структуры в условиях низкого напряжения при 500 В
Визуализация никелевой пены с сильным трехмерным эффектом с использованием возбуждающего напряжения 2 кВ с детектором Эверхарта-Торнли (ETD)
Визуализация субнанометрового серебряного порошка с использованием внутрилинзового электронного детектора при 3 кВ в условиях высокого вакуума

>> Материаловедение - Энергетические материалы

Прекурсор катода литий-ионного аккумулятора - фосфат железа с плохой проводимостью, полученный с помощью внутрилинзового электронного детектора (In-lens) в условиях низкого напряжения (1 кВ)
Качество металлизации поверхности фотоэлектрических кремниевых пластин, полученное с помощью детектора Эверхарта-Торнли (ETD), установленного в камере, при напряжении 2 кВ
Поверхность пленки SEI (твердоэлектролитная интерфаза) на неисправном отрицательном электроде, полученная в условиях высокого вакуума с использованием внутрилинзового электронного детектора (In-lens Electron Detector) при 3 кВ

>> Материаловедение - Полимерные материалы и металлические материалы

Использование детектора Эверхарта-Торнли (ETD) в условиях высокого вакуума и низкого напряжения (1 кВ) для визуализации морфологии полистирольных микросфер. Не наблюдалось явления зарядки, что привело к сильному трехмерному восприятию
Неразрушающая 500-вольтовая визуализация полимерных мембранных волокон литий-ионных аккумуляторов в условиях поверхностной чувствительности
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Высокоразрешающая визуализация наноразмерных выделений на поверхностях изломов с использованием выдвижного детектора обратно рассеянных электронов (BSED)

>> Магнитные материалы - Полимерные материалы и металлические материалы

Полимерные магнитные шарики с плохой проводимостью, характеризующиеся использованием низкого напряжения в 2 кВ с детектором Эверхарта-Торнли (ETD) для характеристики биологически направленной доставки лекарств
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
Для изучения поверхности разрушения железоникелевого сплава использовалась визуализация 10 кВ с помощью детектора Эверхарта-Торнли (ETD).
Полимерные магнитные шарики, характеризующиеся с помощью низковольтного детектора Эверхарта-Торнли (ETD) напряжением 2 кВ, демонстрируют ярко выраженное ощущение трехмерности.

>> Полупроводниковые материалы

Визуализация поверхностных рисунков и цепей на чипе с использованием выдвижного детектора обратно-рассеянных электронов (BSED)
Характеристика поверхности и краев отверстий фоторезиста с помощью детектора Эверхара-Торнли (ETD) при низком напряжении (2 кВ)
Визуализация паяных соединений золотых проводов на чипе с использованием выдвижного детектора обратно рассеянных электронов (BSED). Образец, приготовленный с помощью ионно-лучевой полировки

>> Науки о жизни

Характеристика иридофоров в клетках кожи ящерицы с использованием детектора STEM в CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

Цвета животных в природе можно разделить на две категории в зависимости от механизмов их формирования: пигментные цвета и структурные цвета.
Цвета пигментов достигаются за счет изменений в составе пигмента и наложения цветов, аналогично принципам «основных цветов».
Структурные цвета, с другой стороны, генерируются посредством отражения света с различной длиной волны сложными физиологическими структурами, основанными в первую очередь на принципах оптики. Иридофоры, обнаруженные в клетках кожи ящериц, обладают структурами, похожими на дифракционные решетки. Мы называем эти структуры «кристаллическими пластинами». Кристаллические пластины могут отражать и рассеивать свет с различной длиной волны. Исследования показали, что, изменяя размер, расстояние и угол кристаллических пластин в иридофорах ящериц, можно изменять длины волн света, рассеиваемого и отражаемого их кожей. Это открытие имеет важное значение для понимания механизмов изменения цвета кожи ящериц.

▶ Программное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Необязательный

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

▶ Программное обеспечение для постобработки изображений *Необязательный

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте онлайн- и офлайн-постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерения и аннотирования.

▶ Автоматическое измерение *Необязательный

Автоматическое распознавание краев ширины линии, что приводит к более точным измерениям и более высокой согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как Line, Space, Pitch и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.

▶ Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) *Необязательный

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставляют набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, проверка примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

▶ Автокарта *Необязательный

Микроскоп CIQTEK FESEM SEM5000Pro в кампусе Ульсан, Корейский политехнический университет
Наши корейские клиенты успешно установили FESEM SEM5000 в кампусе Ульсана. Он широко признан одним из самых современных SEM. (Видео включено)

>> Читать далее

CIQTEK FESEM SEM5000Pro Введение

CIQTEK FESEM SEM5000Pro в кампусе Политехнического университета в Ульсане, Корея

Внутри завода CIQTEK: экскурсия по производству электронных микроскопов

Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Электронная оптика	Разрешение	0,8 нм при 15 кВ, SE 1,2 нм при 1,0 кВ, SE
	Ускоряющее напряжение	0,02 кВ ~ 30 кВ
	Увеличение (поляроид)	1 ~ 2 500 000 х
	Тип электронной пушки	Электронная пушка с автоэмиссией Шоттки
Камера для образцов	Камера	Двойные камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
	Камера	Двойные камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
	Диапазон сцен	X: 110 мм, Y: 110 мм, Z: 65 мм Т: -10°～ +70°, П: 360°
Детекторы и расширения SEM	Стандарт	Детектор электронов Inlens Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Детекторы и расширения SEM	Необязательный	Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED) Выдвижной сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM) Детектор низкого вакуума (LVD) Энергодисперсионная спектроскопия (EDS/EDX) Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) Загрузочный шлюз для обмена образцами (4 дюйма/8 дюймов) Панель управления с трекболом и ручкой
Программное обеспечение	Язык	Английский
	Операционная система	Окна
	Навигация	Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
	Автоматические функции	Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор

Горячие Теги : Производитель и поставщик полевых сканирующих электронных микроскопов Детекторы SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM высокое разрешение FESEM лучшая цена Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки высокой яркости Лучшее увеличение полевой эмиссионной сканирующей электронной микроскопии Применение полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскопpdf Примечания к полевому эмиссионному сканирующему электронному микроскопу

Оставить сообщение

Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.

Предмет : ФЕСЭМ | SEM5000Pro