field emission scanning electron microscope fe sem

ФЕСЕМ | SEM4000Про

Аналитический сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM), оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки

Конструкция трехступенчатой ​​электромагнитной линзы CIQTEK SEM4000Pro обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS, EBSD, WDS и других. В стандартную комплектацию он входит режим низкого вакуума и высокопроизводительный низковакуумный детектор вторичных электронов, а также выдвижной детектор обратнорассеянных электронов, который облегчает наблюдение за плохо проводящими или непроводящими образцами.

ⶠЭлектронная оптика

sem4000pro Electron Optics

ⶠРежим низкого вакуума

В режиме низкого вакуума диапазон 10–180 Па может быть достигнут без отверстия для ограничения давления. Специально разработанная вакуумная камера объектива минимизирует длину свободного пробега электронов в условиях низкого вакуума и обеспечивает разрешение 1,5 нм при 30 кВ в режиме низкого вакуума.

Вторичная электронная эмиссия с поверхности образца ионизирует молекулы воздуха и одновременно генерирует электроны, ионы и фотоны. Генерируемые электроны дополнительно ионизируют другие молекулы воздуха, детектор вторичных электронов в низком вакууме (LVD) улавливает большое количество фотонных сигналов, образующихся в таком процессе.

  • SEM Low Vacuum Mode
  • SEM Low Vacuum Mode

Падающий электронный луч ионизирует молекулы воздуха на поверхности образца, генерируя электроны и ионы. Эти ионы нейтрализуют заряд поверхности, тем самым уменьшая эффект зарядки.

ⶠПрограммное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Дополнительно

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.


ⶠПрограммное обеспечение для постобработки изображений *Дополнительно

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте постобработку онлайн или офлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.


ⶠАвтоматическое измерение *Дополнительно

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.


ⶠКомплект разработки программного обеспечения (SDK) *Дополнительно

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000Pro FESEM
Электронная оптика Разрешение Высокий вакуум

0,9 нм @ 30 кВ, SE

Низкий вакуум

2,5 нм при 30 кВ, BSE, 30 Па

1,5 нм при 30 кВ, SE, 30 Па

Напряжение ускорения 0,2 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид) 1 ~ 1 000 000 x
Тип электронной пушки Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки
Камера для образцов Низкий вакуум Макс. 180 Па
Камера Двойные камеры (оптическая навигация + мониторинг камеры)
Диапазон XY 110 мм
Диапазон Z 65 мм
Диапазон Т -10° ~ +70°
Диапазон R 360°
СЭМ-детекторы и расширения Стандарт

Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)

Детектор низкого вакуума (LVD)

Детектор обратных электронов (BSED)

Необязательно

Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM)

Энергодисперсионный спектрометр (ЭДС)

Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

Загрузочный замок для замены образцов (4 дюйма / 8 дюймовï¼

Панель управления трекболом и ручкой

Пользовательский интерфейс Язык Английский
ОС Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигмататор
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB550 (FIB-SEM) оснащен колонной сфокусированного ионного луча для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкого напряжения, высокого разрешения», обеспечивающую его наноразмерные аналитические возможности. Ионные колонны позволяют использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, что обеспечивает возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом.

Узнать больше
fesem edx

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения (FESEM): 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ В CIQTEK SEM5000X сверхвысокого разрешения FESEM используется модернизированный процесс проектирования колонн, технология «SuperTunnel» и конструкция объектива высокого разрешения для улучшения разрешения изображений при низком напряжении. Количество портов камеры для образцов FESEM SEM5000X увеличивается до 16, а загрузочный замок для смены образцов поддерживает пластины размером до 8 дюймов (максимальный диаметр 208 мм), что значительно расширяет возможности применения. Расширенные режимы сканирования и расширенные автоматизированные функции повышают производительность и еще более оптимизируют работу.

Узнать больше
scanning electron microscope machine

Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп общего назначения с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.

Узнать больше
sem microscope price

Прочтите CIQTEK SEM Микроскопы отзывы клиентов и узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт