CIQTEK представит высокоскоростную объемную электронную микроскопию на форуме vEM Technology Forum 2026
CIQTEK представит высокоскоростную объемную электронную микроскопию на форуме vEM Technology Forum 2026
September 28, 2026
CIQTEK примет участие в 2026 vEM Technology Forum в Пекинском университете в Пекине, где представит наши новейшие решения для объемной электронной микроскопии (Volume EM).
Посетители могут встретиться с командой CIQTEK на нашем стенде, чтобы узнать, как высокоскоростной СЭМ, получение изображений с высоким разрешением при низком ускоряющем напряжении, автоматизированная съемка больших площадей и 3D-реконструкция могут помочь исследователям работать с постоянно растущими и сложными наборами данных объемной микроскопии.
Стендовый доклад CIQTEK
На форуме Синь Жэнь (Люк), старший менеджер по решениям в области электронной микроскопии CIQTEK, представит нашу последнюю работу, посвященную высокоскоростному СЭМ для крупномасштабной объемной электронной микроскопии (Volume EM).
Название стендового доклада: Раскрытие потенциала уникальной высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии без ущерба для превосходного разрешения изображений при низком ускоряющем напряжении для крупномасштабных задач объемной микроскопии от CIQTEK
В докладе будет рассмотрено, как HEM6000 сочетает в себе высокую скорость получения изображений, высокое разрешение при низком ускоряющем напряжении, съемку больших площадей и интеллектуальную автоматизацию для поддержки рабочих процессов крупномасштабной объемной электронной микроскопии.
Встреча с CIQTEK в Пекине
Форум 2026 vEM Technology Forum объединяет исследователей и экспертов в области микроскопии для обмена идеями по технологиям Volume EM, рабочим процессам, автоматизации, крупномасштабной визуализации, обработке данных и новым областям применения.
Мы с нетерпением ждем встречи с сообществом vEM, чтобы поделиться нашими последними разработками и узнать о реальных задачах визуализации, над которыми работают исследователи.
Посетите стенд CIQTEK, познакомьтесь с нашей командой по электронной микроскопии и узнайте, что высокоскоростная объемная электронная микроскопия может дать вашим исследованиям.
Дата: 11–15 октября 2026 г. Место проведения: Пекинский университет, Пекин, Китай
Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.