CIQTEK примет участие в ежегодном собрании GLMS 2026 в Мичигане, США
CIQTEK примет участие в ежегодном собрании GLMS 2026 в Мичигане, США
September 29, 2026
CIQTEK примет участие в ежегодном собрании Great Lakes Microscopy Society (GLMS) 2026 года9 октября 2026 г., в Мичиганском технологическом университете в Хотоне, штат Мичиган.
Собрание объединяет исследователей, студентов и специалистов по микроскопии, работающих в области электронной микроскопии, микроанализа, материаловедения и биологических исследований.
Встреча с командой CIQTEK U.S. EM
На GLMS 2026 компания CIQTEK продемонстрирует свои решения в области электронной микроскопии для широкого спектра исследовательских задач.
Наша команда по электронной микроскопии в США будет присутствовать на месте, чтобы пообщаться с участниками и обсудить реальные задачи микроскопии и потребности в рабочих процессах.
Опытные менеджеры по решениям в области ЭМ также будут готовы ответить на технические вопросы и помочь исследователям подобрать подходящие решения для микроскопии для их лабораторий.
Дата: 9 октября 2026 г. Место проведения: Мичиганский технологический университет, Хотон, штат Мичиган, США
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.
Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).
Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.