scanning electron microscope machine

СЭМ с вольфрамовой нитью | СЭМ3200

Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью

СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп общего назначения с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.

ⶠДвойной анод в электронной пушке *Дополнительно

sem3200 Intermittent Anode

Периодический анод

Периодический анод устанавливается между катодным узлом и анодом. При низком напряжении возбуждения эффективность вывода электронного луча может быть улучшена, разрешение может быть увеличено на 10%, а соотношение сигнал/шум может быть увеличено на 30%.

  • carbon material samples under low excitation voltages
  • carbon material samples under low excitation voltages

Для образцов углеродного материала при низких напряжениях возбуждения глубина проникновения луча невелика, что позволяет получить истинную информацию о морфологии поверхности с более подробной информацией об образце.

  • polymer fiber samples, high excitation voltages
  • polymer fiber samples, high excitation voltages

Для образцов полимерных волокон высокие напряжения возбуждения вызывают повреждение образца лучом, тогда как луч низкого напряжения позволяет сохранить детали поверхности без повреждений.


ⶠРежим РЭМ с низким вакуумом

СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 поддерживает двухступенчатый режим низкого вакуума: давление в камере 5–180 Па может быть достигнуто без апертуры, ограничивающей давление, а давление 180–1000 Па можно достичь с помощью PLA. Специально разработанная вакуумная камера объектива минимизирует длину свободного пробега электронов в условиях низкого вакуума и поддерживает разрешение на уровне 3 нм при 30 кВ.

Падающий электронный луч ионизирует молекулы воздуха на поверхности образца, создавая электроны и ионы, в которых ионы нейтрализуют заряженные частицы, генерируемые на поверхности образца, достигая эффекта уменьшения заряда.

  • SEM3200 Analysis Image
  • SEM3200 Analysis Image

Вторичная электронная эмиссия с поверхности образца ионизирует молекулы воздуха, одновременно генерируя электроны, ионы и фотосигналы. Генерируемые электроны затем ионизируют другие молекулы воздуха, и создается большое количество фотосигналов, которые затем улавливаются детектором низкого вакуума (LVD).

  • SEM Microscope sem3200
  • SEM Microscope sem3200 Analysis image

В режиме высокого вакуума LVD напрямую обнаруживает сигнал катодолюминесценции, излучаемый образцом, который может быть захвачен для катодолюминесцентной визуализации, с одновременным получением изображений по каналу BSED.


ⶠОптическая навигация

Использование вертикально установленной камеры для захвата оптических изображений для навигации по предметному столику позволяет обеспечить более интуитивное и точное позиционирование образца.

  • SEM Optical Navigation

â¶Интеллектуальная вспомогательная коррекция астигматизма изображения

В этом режиме значение астигматизма X и Y варьируется в зависимости от пикселей. Четкость изображения максимизируется при оптимальном значении астигматизма, что позволяет быстро регулировать стигмататор.

  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction
  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction


ⶠАвтоматические функции

Улучшены функции автоматической яркости и контрастности, автоматической фокусировки и автоматической коррекции астигматизма. Снимок одним щелчком мыши!

Автоматическая фокусировка

  • during autofocus
  • after autofocus

Автоматическая коррекция астигматизма

  • during autofocus
  • after autofocus

Автоматическая яркость и контрастность

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠБезопаснее в использовании


ⶠЛегкая замена нити

Предварительно отрегулированный сменный модуль накаливания готов к использованию.

Галерея изображений CIQTEK SEM микроскопа SEM3200


Металлургия

ⶠПрограммное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Дополнительно

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.


ⶠПрограммное обеспечение для постобработки изображений

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте постобработку онлайн или оффлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.


ⶠАвтоматическое измерение *Дополнительно

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.


ⶠКомплект разработки программного обеспечения (SDK) *Дополнительно

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.


ⶠАвтокарта *Необязательно

  • during autofocus

СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200
Электронная оптика Разрешение 3 нм @ 30 кВ, SE
7 нм @ 3 кВ, SE
4 нм @ 30 кВ, BSE
3 нм @ 30 кВ, SE, 30 Па
Ускоряющее напряжение 0,2 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид) 1 х ~ 300 000 х
Камера для образцов Низкий вакуум 5 ~ 1000 Па (опция)
Камера Оптическая навигация
Мониторинг камеры
Тип сцены 5-осевой вакуумный мотор, совместимый с двигателем
Диапазон XY 125 мм
Диапазон Z 50 мм
Диапазон Т - 10° ~ 90°
Диапазон R 360°
СЭМ-детекторы Стандарт Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Необязательно Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED)
Энергодисперсионный спектрометр (EDS / EDX)
Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
Необязательно Блокировка обмена образца
Панель управления трекболом и ручкой
Пользовательский интерфейс Операционная система Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB550 (FIB-SEM) оснащен колонной сфокусированного ионного луча для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкого напряжения, высокого разрешения», обеспечивающую его наноразмерные аналитические возможности. Ионные колонны позволяют использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, что обеспечивает возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом.

Узнать больше
sem electron microscope

Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для перекрестной визуализации образцов большого объема CIQTEK HEM6000 оснащен такими технологиями, как электронная пушка с большим током высокой яркости, высокоскоростная система отклонения электронного луча, высоковольтное замедление предметного столика для образца, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив. для достижения высокоскоростного получения изображений при обеспечении наноразрешения. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений с высоким разрешением на больших площадях. Скорость получения изображения может быть более чем в 5 раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).

Узнать больше
fesem edx

Эмиссионная электронная микроскопия с ультра-высоким разрешением (FESEM)А CIQTEK SEM5000X представляет собой FESEM с сверхвысоким разрешением с оптимизированной конструкцией столбца электронной оптики, снижая общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 Нм при 15 кВ и 1,0 Нм при 1 кВ Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в перспективных исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных полупроводниковых микросхем.

Узнать больше
sem microscope price

Прочитайте Ciqtek СемМикроскопы Понимание клиентов и LЗаработайте больше о сильных сторонах и достижениях Ciqtek в качестве лидера индустрии SEM!Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт