Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью
СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп общего назначения с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.
Периодический анод
Периодический анод устанавливается между катодным узлом и анодом. При низком напряжении возбуждения эффективность вывода электронного луча может быть улучшена, разрешение может быть увеличено на 10%, а соотношение сигнал/шум может быть увеличено на 30%.
Для образцов углеродного материала при низких напряжениях возбуждения глубина проникновения луча невелика, что позволяет получить истинную информацию о морфологии поверхности с более подробной информацией об образце.
Для образцов полимерных волокон высокие напряжения возбуждения вызывают повреждение образца лучом, тогда как луч низкого напряжения позволяет сохранить детали поверхности без повреждений.
СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 поддерживает двухступенчатый режим низкого вакуума: давление в камере 5–180 Па может быть достигнуто без апертуры, ограничивающей давление, а давление 180–1000 Па можно достичь с помощью PLA. Специально разработанная вакуумная камера объектива минимизирует длину свободного пробега электронов в условиях низкого вакуума и поддерживает разрешение на уровне 3 нм при 30 кВ.
Падающий электронный луч ионизирует молекулы воздуха на поверхности образца, создавая электроны и ионы, в которых ионы нейтрализуют заряженные частицы, генерируемые на поверхности образца, достигая эффекта уменьшения заряда.
Вторичная электронная эмиссия с поверхности образца ионизирует молекулы воздуха, одновременно генерируя электроны, ионы и фотосигналы. Генерируемые электроны затем ионизируют другие молекулы воздуха, и создается большое количество фотосигналов, которые затем улавливаются детектором низкого вакуума (LVD).
В режиме высокого вакуума LVD напрямую обнаруживает сигнал катодолюминесценции, излучаемый образцом, который может быть захвачен для катодолюминесцентной визуализации, с одновременным получением изображений по каналу BSED.
Использование вертикально установленной камеры для захвата оптических изображений для навигации по предметному столику позволяет обеспечить более интуитивное и точное позиционирование образца.
В этом режиме значение астигматизма X и Y варьируется в зависимости от пикселей. Четкость изображения максимизируется при оптимальном значении астигматизма, что позволяет быстро регулировать стигмататор.
Улучшены функции автоматической яркости и контрастности, автоматической фокусировки и автоматической коррекции астигматизма. Снимок одним щелчком мыши!
Предварительно отрегулированный сменный модуль накаливания готов к использованию.
Металлургия
Полупроводник
Новые энергетические материалы
Керамика
Полимерные и волокнистые материалы
Биомедицинский
Еда
Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.
Выполняйте постобработку онлайн или оффлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.
Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.
Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.
Введение в SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью CIQTEK SEM3200 |
Основные характеристики РЭМ-микроскопа CIQTEK с вольфрамовой нитью SEM3200 и часто задаваемые вопросы |
СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 | ||||
Электронная оптика | Разрешение | 3 нм @ 30 кВ, SE 7 нм @ 3 кВ, SE 4 нм @ 30 кВ, BSE 3 нм @ 30 кВ, SE, 30 Па |
||
Ускоряющее напряжение | 0,2 кВ ~ 30 кВ | |||
Увеличение (Полароид) | 1 х ~ 300 000 х | |||
Камера для образцов | Низкий вакуум | 5 ~ 1000 Па (опция) | ||
Камера | Оптическая навигация | |||
Мониторинг камеры | ||||
Тип сцены | 5-осевой вакуумный мотор, совместимый с двигателем | |||
Диапазон XY | 125 мм | |||
Диапазон Z | 50 мм | |||
Диапазон Т | - 10° ~ 90° | |||
Диапазон R | 360° | |||
СЭМ-детекторы | Стандарт | Детектор Эверхарта-Торнли (ETD) | ||
Необязательно | Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED) Энергодисперсионный спектрометр (EDS / EDX) Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) |
|||
Необязательно | Блокировка обмена образца | |||
Панель управления трекболом и ручкой | ||||
Пользовательский интерфейс | Операционная система | Окна | ||
Навигация | Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция) | |||
Автоматические функции | Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор |