Что Вы ищете?
Популярные запросы
scanning electron microscope market

СЭМ с вольфрамовой нитью | СЭМ3300

Сканирующий электронный микроскоп нового поколения с вольфрамовой нитью

CIQTEK SEM3300 сканирующий электронный микроскоп (SEM) включает в себя такие технологии, как «супертуннельная» электронная оптика, встроенные в линзу детекторы электронов и объективы из электростатических и электромагнитных соединений. Применяя эти технологии в микроскопе с вольфрамовой нитью, давний предел разрешения такого СЭМ превышается, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа при низком напряжении, которые ранее были достижимы только с помощью СЭМ с автоэлектронной эмиссией.

Узнать сейчас

ⶠВнутренний детектор электронов

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Изображения диафрагмы литиевой батареи, снятые при напряжении 1 кВ и увеличении в 20 000 раз на пленке, изображения, сделанные с помощью SEM3300

ⶠОптическая навигация

Использование вертикально установленной камеры камеры для получения оптических изображений для навигации по предметному столику позволяет обеспечить более интуитивное и точное позиционирование образца.

  • SEM Optical Navigation

ⶠАвтоматические функции

Улучшенные функции автоматической яркости и контрастности, автоматической фокусировки и автоматической коррекции астигматизма. Снимок одним щелчком мыши!

Автоматическая фокусировка

  • during autofocus
  • after autofocus

Автоматическая коррекция астигматизма

  • during autofocus
  • after autofocus

Автоматическая яркость и контрастность

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠБезопаснее в использовании

ⶠЛегкая замена нити

Предварительно отрегулированный сменный модуль накаливания готов к использованию.

Галерея изображений CIQTEK SEM микроскопа SEM3300

ⶠПрограммное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Дополнительно

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.

ⶠПрограммное обеспечение для постобработки изображений

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте постобработку онлайн или оффлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.

ⶠАвтоматическое измерение *Дополнительно

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.

ⶠКомплект разработки программного обеспечения (SDK) *Дополнительно

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

ⶠАвтокарта *Необязательно

  • during autofocus

Технические характеристики СЭМ-микроскопа CIQTEK SEM3300
Электронная оптика Разрешение 2,5 нм @ 15 кВ, SE
4 нм @ 3 кВ, SE
5 нм @ 1 кВ, SE
Ускоряющее напряжение 0,1 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид) 1 х ~ 300 000 х
Камера для образцов Камера Оптическая навигация
Мониторинг камеры
Тип сцены 5-осевой вакуумный мотор, совместимый с двигателем
Диапазон XY 125 мм
Диапазон Z 50 мм
Диапазон Т - 10° ~ 90°
Диапазон R 360°
СЭМ-детекторы Стандарт Внутрилинзовый детектор электронов (внутренняя линза)
Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Необязательно Выдвижной детектор обратно рассеянных электронов (BSED)
Энергодисперсионный спектрометр (EDS / EDX)
Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)
Необязательно Загрузочный замок для обмена образца
Панель управления трекболом и ручками
Пользовательский интерфейс Операционная система Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор
Горячие Теги : продам сканирующие электронные микроскопы производители СЭМ стоимость Сэм микроскопа виды сканирующего электронного микроскопа купить сканирующий электронный микроскоп СЭМ-технология почти ничего увеличение Сэма
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Предмет : СЭМ с вольфрамовой нитью | СЭМ3300
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy
ФИБ-СЭМ | ДБ550

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB550 (FIB-SEM) оснащен колонной сфокусированного ионного луча для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкого напряжения, высокого разрешения», обеспечивающую его наноразмерные аналитические возможности. Ионные колонны позволяют использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, что обеспечивает возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом.

Узнать больше
sem electron microscope
Высокоскоростной СЭМ | ХЕМ6000

Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для перекрестной визуализации образцов большого объема CIQTEK HEM6000 оснащен такими технологиями, как электронная пушка с большим током высокой яркости, высокоскоростная система отклонения электронного луча, высоковольтное замедление предметного столика для образца, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив. для достижения высокоскоростного получения изображений при обеспечении наноразрешения. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений с высоким разрешением на больших площадях. Скорость получения изображения может быть более чем в 5 раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).

Узнать больше
fesem edx
Ultra-High Res Fesem | SEM5000X

Эмиссионная электронная микроскопия с ультра-высоким разрешением (FESEM)А CIQTEK SEM5000X представляет собой FESEM с сверхвысоким разрешением с оптимизированной конструкцией столбца электронной оптики, снижая общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 Нм при 15 кВ и 1,0 Нм при 1 кВ Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в перспективных исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных полупроводниковых микросхем.

Узнать больше
sem microscope price
CIQTEK SEM Микроскопы клиентов истории клиентов

Прочитайте Ciqtek СемМикроскопы Понимание клиентов и LЗаработайте больше о сильных сторонах и достижениях Ciqtek в качестве лидера индустрии SEM!Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт