Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный
CIQTEK SEM4000X — это стабильный, универсальный, гибкий и эффективный сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией (FE-SEM). Он достигает разрешения 1,9 нм при 1,0 кВ и легко решает задачи получения изображений с высоким разрешением для различных типов образцов. Его можно модернизировать, добавив режим замедления сверхлучевого луча, чтобы еще больше повысить разрешение при низком напряжении.
В микроскопе используется мультидетекторная технология с встроенным в колонку электронным детектором (UD), способным обнаруживать сигналы SE и BSE, обеспечивая при этом работу с высоким разрешением. Установленный в камере детектор электронов (LD) включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножители, обеспечивающие более высокую чувствительность и эффективность, что позволяет получать стереоскопические изображения превосходного качества. Графический пользовательский интерфейс удобен для пользователя и оснащен такими функциями автоматизации, как автоматическая яркость и контрастность, автофокусировка, автоматический стигатор и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.
Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.
Выполняйте постобработку онлайн или офлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.
Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.
Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.
Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM | ||
Электронная оптика | Разрешение | 0,9 нм при 30 кВ, SE 1,2 нм при 15 кВ, SE 1,9 нм при 1 кВ, SE 1,5 нм при 1 кВ (ультра-замедление луча) 1 нм при 15 кВ (Сверхлучевое замедление) |
Напряжение ускорения | 0,2 кВ ~ 30 кВ | |
Увеличение (Полароид) | 1 ~ 1 000 000 x | |
Тип электронной пушки | Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки | |
Камера для образцов | Камера | Двойные камеры (оптическая навигация + мониторинг камеры) |
Диапазон ступеней |
Х: 110 мм Y: 110 мм Z: 50 мм Т: -10°~ +70° П: 360° |
|
СЭМ-детекторы и расширения | Стандарт |
Внутренний детектор электронов: UD-BSE/UD-SE Детектор Эверхарта-Торнли: LD |
Необязательно |
Детектор обратных электронов (BSED) Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM) Детектор низкого вакуума (LVD) Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX) Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD) Загрузочный замок для замены образцов (4 дюйма/8 дюймов) Панель управления трекболом и ручкой Технология режима ультра-торможения луча |
|
Пользовательский интерфейс | Язык | Английский |
ОС | Окна | |
Навигация | Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция) | |
Автоматические функции | Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор |