field emission sem price

ФЕСЕМ | SEM4000X

Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный

CIQTEK SEM4000X — это стабильный, универсальный, гибкий и эффективный сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссионной эмиссией (FE-SEM). Он достигает разрешения 1,9 нм при 1,0 кВ и легко решает задачи получения изображений с высоким разрешением для различных типов образцов. Его можно модернизировать, добавив режим замедления сверхлучевого луча, чтобы еще больше повысить разрешение при низком напряжении.

В микроскопе используется мультидетекторная технология с встроенным в колонку электронным детектором (UD), способным обнаруживать сигналы SE и BSE, обеспечивая при этом работу с высоким разрешением. Установленный в камере детектор электронов (LD) включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножители, обеспечивающие более высокую чувствительность и эффективность, что позволяет получать стереоскопические изображения превосходного качества. Графический пользовательский интерфейс удобен для пользователя и оснащен такими функциями автоматизации, как автоматическая яркость и контрастность, автофокусировка, автоматический стигатор и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.

ⶠЭлектронная оптика

sem Electron Optics

ⶠПрограммное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Дополнительно

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.


ⶠПрограммное обеспечение для постобработки изображений *Дополнительно

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте постобработку онлайн или офлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.


ⶠАвтоматическое измерение *Дополнительно

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.


ⶠКомплект разработки программного обеспечения (SDK) *Дополнительно

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.


ⶠАвтокарта *Необязательно

FESEM Microscope software Auto Measure

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM
Электронная оптика Разрешение 0,9 нм при 30 кВ, SE
1,2 нм при 15 кВ, SE
1,9 нм при 1 кВ, SE
1,5 нм при 1 кВ (ультра-замедление луча)
1 нм при 15 кВ (Сверхлучевое замедление)
Напряжение ускорения 0,2 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид) 1 ~ 1 000 000 x
Тип электронной пушки Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки
Камера для образцов Камера Двойные камеры (оптическая навигация + мониторинг камеры)
Диапазон ступеней

Х: 110 мм

Y: 110 мм

Z: 50 мм

Т: -10°~ +70°

П: 360°

СЭМ-детекторы и расширения Стандарт

Внутренний детектор электронов: UD-BSE/UD-SE

Детектор Эверхарта-Торнли: LD

Необязательно

Детектор обратных электронов (BSED)

Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM)

Детектор низкого вакуума (LVD)

Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)

Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

Загрузочный замок для замены образцов (4 дюйма/8 дюймов)

Панель управления трекболом и ручкой

Технология режима ультра-торможения луча

Пользовательский интерфейс Язык Английский
ОС Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигатор
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Предмет : ФЕСЕМ | SEM4000X
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB550 (FIB-SEM) оснащен колонной сфокусированного ионного луча для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкого напряжения, высокого разрешения», обеспечивающую его наноразмерные аналитические возможности. Ионные колонны позволяют использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, что обеспечивает возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом.

Узнать больше
fesem edx

Эмиссионная электронная микроскопия с ультра-высоким разрешением (FESEM)А CIQTEK SEM5000X представляет собой FESEM с сверхвысоким разрешением с оптимизированной конструкцией столбца электронной оптики, снижая общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 Нм при 15 кВ и 1,0 Нм при 1 кВ Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в перспективных исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных полупроводниковых микросхем.

Узнать больше
scanning electron microscope machine

Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп общего назначения с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.

Узнать больше
sem microscope price

Прочитайте Ciqtek СемМикроскопы Понимание клиентов и LЗаработайте больше о сильных сторонах и достижениях Ciqtek в качестве лидера индустрии SEM!Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт