field emission scanning electron microscope fe sem

ФЕСЕМ | SEM4000Pro

Аналитический полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FESEM) с большим лучом I

CIQTEK SEM4000Pro представляет собой аналитическую модель FE-SEM, оснащенную высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Конструкция трехступенчатой ​​электромагнитной линзы обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS/EDX, EBSD, WDS и других. В стандартную комплектацию он входит режим низкого вакуума и высокопроизводительный низковакуумный детектор вторичных электронов, а также выдвижной детектор обратно рассеянных электронов, который облегчает наблюдение за плохо проводящими или непроводящими образцами.

ⶠЭлектронная оптика

sem4000pro Electron Optics

ⶠРежим низкого вакуума

В режиме низкого вакуума диапазон 10–180 Па может быть достигнут без отверстия для ограничения давления. Специально разработанная вакуумная камера объектива минимизирует длину свободного пробега электронов в условиях низкого вакуума и обеспечивает разрешение 1,5 нм при 30 кВ в режиме низкого вакуума.

Вторичная электронная эмиссия с поверхности образца ионизирует молекулы воздуха и одновременно генерирует электроны, ионы и фотоны. Генерируемые электроны дополнительно ионизируют другие молекулы воздуха, детектор вторичных электронов в низком вакууме (LVD) улавливает большое количество фотонных сигналов, образующихся в таком процессе.

  • SEM Low Vacuum Mode
  • SEM Low Vacuum Mode

Падающий электронный луч ионизирует молекулы воздуха на поверхности образца, генерируя электроны и ионы. Эти ионы нейтрализуют заряд поверхности, тем самым уменьшая эффект зарядки.

ⶠПрограммное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Дополнительно

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение CIQTEK SEM Microscope использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов частиц и образцов пор. он позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и наука об окружающей среде.


ⶠПрограммное обеспечение для постобработки изображений *Дополнительно

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте постобработку онлайн или офлайн изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте широко используемые функции обработки ЭМ-изображений, удобные инструменты измерения и аннотации.


ⶠАвтоматическое измерение *Дополнительно

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание границ ширины линии, что приводит к более точным измерениям и большей согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как линия, пространство, шаг и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.


ⶠКомплект разработки программного обеспечения (SDK) *Дополнительно

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставить набор интерфейсов для управления SEM-микроскопом, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать конкретные сценарии работы электронного микроскопа и программное обеспечение, позволяющее автоматическое отслеживание интересующих регионов, сбор данных промышленной автоматизации, коррекция дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как диатомовый анализ, контроль примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.


ⶠАвтокарта *Необязательно

FESEM Microscope software Auto Measure

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000Pro FESEM
Электронная оптика Разрешение Высокий вакуум

0,9 нм @ 30 кВ, SE

Низкий вакуум

2,5 нм при 30 кВ, BSE, 30 Па

1,5 нм при 30 кВ, SE, 30 Па

Напряжение ускорения 0,2 кВ ~ 30 кВ
Увеличение (Полароид) 1 ~ 1 000 000 x
Тип электронной пушки Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки
Камера для образцов Низкий вакуум Макс. 180 Па
Камера Двойные камеры (оптическая навигация + мониторинг камеры)
Диапазон XY 110 мм
Диапазон Z 65 мм
Диапазон Т -10° ~ +70°
Диапазон R 360°
СЭМ-детекторы и расширения Стандарт

Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)

Детектор низкого вакуума (LVD)

Детектор обратных электронов (BSED)

Необязательно

Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (STEM)

Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)

Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

Загрузочный замок для замены образцов (4 дюйма / 8 дюймовï¼

Панель управления трекболом и ручкой

Пользовательский интерфейс Язык Английский
ОС Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация с помощью жестов, трекбол (опция)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигматор
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Предмет : ФЕСЕМ | SEM4000Pro
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM) с колонками со сфокусированным ионным пучком (FIB) Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом CIQTEK DB550 (FIB-SEM) оснащен колонной сфокусированного ионного луча для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкого напряжения, высокого разрешения», обеспечивающую его наноразмерные аналитические возможности. Ионные колонны позволяют использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, что обеспечивает возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом.

Узнать больше
fesem edx

Полевая эмиссионная сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения (FESEM) бросает вызов ограничениям CIQTEK SEM5000X — это FESEM сверхвысокого разрешения с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30 % и обеспечивающей сверхвысокое разрешение 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. . Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным для передовых исследований наноструктурных материалов, а также для разработки и производства высокотехнологичных узловых полупроводниковых микросхем.

Узнать больше
scanning electron microscope machine

Высокопроизводительный и универсальный SEM-микроскоп с вольфрамовой нитью СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — это превосходный сканирующий электронный микроскоп общего назначения с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных аксессуаров, что делает SEM3200 универсальным аналитическим инструментом с отличными расходами.

Узнать больше
sem microscope price

Прочтите CIQTEK SEM Микроскопы отзывы клиентов и узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт