CIQTEK, ведущий производитель в области оптической и электронной микроскопии, недавно заключил стратегическое партнерство с JH Technologies, известным дистрибьютором в Северной Америке. Целью этого сотрудничества является предоставление новейших сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) клиентам во всем регионе, одновременно повышая престиж CIQTEK. Обладая 37-летним обширным опытом в сфере поставок микроскопических и оптических решений, CIQTEK гарантирует, что JH Technologies может предлагать СЭМ высокого разрешения и периферийное оборудование для удовлетворения разнообразных потребностей своих клиентов. Это партнерство позволяет JH Technologies расширить свои предложения и предоставить комплексные решения для всего рабочего процесса СЭМ, включая ПЭМ (просвечивающие электронные микроскопы) и FIB (системы сфокусированного ионного пучка). Джон Хубач, генеральный директор JH Technologies, выразил энтузиазм по поводу нового предприятия, заявив, что CIQTEK SEM, TEM и FIB предлагают беспрецедентное разрешение, уникальные технологии и впечатляющую окупаемость инвестиций (ROI). Сочетание существующих линеек продуктов и аналитической лаборатории JH Technologies, а также передовых продуктов CIQTEK делает компанию лидером в предоставлении решений с добавленной стоимостью для всего рабочего процесса SEM. Алекс Чжан, директор по зарубежному маркетингу CIQTEK, также выразил радость по поводу партнерства с такой уважаемой и опытной компанией, как JH Technologies. Чжан похвалил JH Technologies за их знающих сотрудников отдела продаж, понимание рынка, квалифицированную команду обслуживания и впечатляющий выставочный зал, которые делают их идеальным партнером для расширения бизнеса CIQTEK

CIQTEK, глобальный разработчик и производитель высокоточных научных инструментов, рад объявить о своем партнерстве с LINK-GULF LLC в качестве эксклюзивного дистрибьютора в регионе Ближнего Востока. По настоящему соглашению ООО «ЛИНК-ГАЛФ» будет являться уполномоченным представителем и дистрибьютором серии микроскопов

Недавно, разработанный CIQTEK криогенный сканирующий азотно-вакансионный микроскоп (SNVM) был успешно доставлен исследовательской группе профессора Вонг Чун-лина в Городском университете Гонконга. Это означает более широкое признание технического потенциала и возможностей компании CIQTEK в области точных измерений. Магнетизм является одним из фундаментальных свойств материалов, и микроскопическое изображение магнетизма является важным направлением в исследованиях экспериментальной физики. Углубленно изучая микроскопические магнитные свойства материалов, ученые могут получить представление о структуре, электронных свойствах и взаимодействиях материалов, что имеет большое значение для разработки новых магнитных накопительных материалов и сверхпроводящих материалов. Cриогенный Сканирующий азотно-вакансионный микроскоп представляет собой прецизионный измерительный прибор, который сочетает в себе оптическое обнаружение алмазного NV-центра с использованием технологии магнитного резонанса и технологии сканирования атомно-силовой микроскопии. Его можно использовать для количественных и неразрушающих магнитных измерений с высоким разрешением, высокой чувствительностью в широком диапазоне температур от 2К до 300К. Он имеет наномасштабное пространственное разрешение и сверхвысокую чувствительность обнаружения одиночных спинов. Это обеспечит новый подход к исследованиям в области наук о жизни, материаловедения, физики конденсированного состояния и других областях. Городской университет Гонконга — государственный исследовательский университет, расположенный в Гонконге, известный своими выдающимис�