FESEM best price for sale
FESEM best price for sale

Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп | СЭМ5000

CIQTEK SEM5000 — это сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией, обеспечивающий возможность получения изображений и анализа с высоким разрешением, поддерживаемый множеством функций, преимуществами усовершенствованной конструкции электронно-оптической колонны, технологией туннелирования электронного луча высокого давления (SuperTunnel), низкой аберрацией и отсутствием погружения. объектив, обеспечивает получение изображений с высоким разрешением при низком напряжении, магнитный образец также можно анализировать.

Благодаря оптической навигации, автоматизированным функциям, тщательно разработанному пользовательскому интерфейсу взаимодействия человека с компьютером, а также оптимизированному процессу эксплуатации и использования, независимо от того, являетесь ли вы экспертом или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнить работу по визуализации и анализу с высоким разрешением.

 

• Визуализация высокого разрешения при низком ускоряющем напряжении.

• Электромагнитный композитный объектив повышает разрешение при низком напряжении и позволяет наблюдать магнитные образцы.

• Технология туннелирования под высоким давлением (SuperTunnel) обеспечивает разрешение при низком напряжении.

• Электронный оптический путь без кроссовера эффективно снижает аберрации системы и повышает разрешение.

• Объектив с постоянной температурой и водяным охлаждением обеспечивает стабильность, надежность и повторяемость работы объектива.

• Магнитно-отклоняемая система с шестью отверстиями и различными апертурами, с автоматическим переключением апертур, не требующая механической регулировки, обеспечивает получение изображения с высоким разрешением или режим анализа большого луча посредством быстрого переключения одним щелчком мыши.

 

Ключевые параметры Разрешение

0,9 нм при 15 кВ, SE

1,3 нм при 1,0 кВ, SE

0,8 нм при 30 кВ, STEM

Ускоряющее напряжение 20 В ~ 30 кВ
Увеличение 1 ~ 2 500 000 х
Тип электронной пушки Автоэмиссионная электронная пушка Шоттки высокой яркости
Камера для образцов Вакуумная система Полностью автоматическое управление, безмасляная вакуумная система
Камера Двойные камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
Диапазон этапов

X: 125 мм, Y: 125 мм, Z: 50 мм

Т: -10°~ +90°, Р: 360°

(*Доступна дополнительная версия камеры очень большого размера)

Детекторы и расширения Стандартный

Детектор SE с линзой

Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)

Необязательный

Детектор обратнорассеянных электронов с плоской вставкой и средним углом наклона

Автоматический выдвижной сканирующий детектор электронов STEM

Блокировка обмена образцами

Быстрый глушитель луча

Энергодисперсионная спектроскопия (EDS/EDX)

Картина дифракции обратного рассеяния электронов (EBSD)

Электронно-лучевой ток (EBIC)

Катодолюминесценция (КЛ)

Стадия растяжения на месте

Нано Манипулятор

Крупномасштабное сшивание изображений

Панель управления трекболом и ручками

Программное обеспечение Язык Английский
Операционная система Окна
Навигация Nav-Cam, навигация с помощью жестов
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автофокус, автоматический стигматор

 

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком Ga+ The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Имеет сфокусированную ионную колонку для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию электронной оптики «супертуннель», низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкое напряжение, высокое разрешение», чтобы гарантировать его аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонны обеспечивают источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками для обеспечения возможностей нанопроизводства. DB550 — это многофункциональная рабочая станция для наноанализа и производства с интегрированным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Узнать больше
fesem edx

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Узнать больше
field emission sem price

Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный The CIQTEK SEM4000X является стабильным, универсальным, гибким и эффективным сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Он достигает разрешения 1,8 нм при 1,0 кВ и легко справляется с задачами получения изображений высокого разрешения для различных типов образцов. Его можно модернизировать, добавив режим сверхвысокого замедления пучка для дальнейшего повышения разрешения при низком напряжении. Микроскоп использует многодетекторную технологию с внутриколонным детектором электронов (UD), способным регистрировать сигналы SE и BSE, обеспечивая высокое разрешение. Детектор электронов (LD), установленный в камере, включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножители, обеспечивающие повышенную чувствительность и эффективность, что позволяет получать стереоскопические изображения превосходного качества. Удобный графический интерфейс пользователя включает в себя автоматизированные функции, такие как автоматическая регулировка яркости и контрастности, автофокусировка, автоматический стигматор и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.

Узнать больше
scanning electron microscope machine

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение

Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт