Практическая демонстрация CIQTEK FIB SEM — подготовка образцов наномикропилляров

Практическая демонстрация CIQTEK FIB-SEM

Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом (FIB-SEM) необходим для различных применений, таких как диагностика дефектов, ремонт, ионная имплантация, обработка на месте, ремонт маски, травление, модификация конструкции интегральных схем, изготовление чипов. , безмасочная обработка, изготовление наноструктур, сложное наноструктурирование, трехмерное изображение и анализ материалов, сверхчувствительный анализ поверхности, модификация поверхности и подготовка образцов для просвечивающей электронной микроскопии.

CIQTEK представил FIB-SEM DB550, который оснащен независимо управляемым полевым сканирующим электронным микроскопом (FE-SEM) со сфокусированным ионным пучком ( ФИБ) Столбцы. Это элегантный и универсальный инструмент для наномасштабного анализа и подготовки образцов, в котором используется технология электронной оптики «SuperTunnel», низкая аберрация и немагнитная конструкция объектива с низким напряжением и возможностью высокого разрешения для обеспечения наномасштабного анализа. Ионная колонна позволяет использовать источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильным и высококачественным ионным пучком, обеспечивающим возможности нанопроизводства. DB550 оснащен встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа, электрическим механизмом защиты от загрязнений объектива и удобным программным обеспечением с графическим пользовательским интерфейсом, что позволяет создать универсальную рабочую станцию ​​для наномасштабного анализа и производства.

Чтобы продемонстрировать выдающиеся характеристики DB550, CIQTEK запланировала специальное мероприятие под названием "Практическая демонстрация CIQTEK FIB-SEM". Это Программа представит видеоролики, демонстрирующие широкое применение этого передового оборудования в таких областях, как материаловедение, полупроводниковая промышленность и биомедицинские исследования. Зрители получат представление о принципах работы DB550., оцените потрясающие микромасштабные изображения и изучите значимость этой технологии для научных исследований и промышленного развития.

Приготовление нано-микропиллярного Sобразца

Наномикропиллярный Sобразец был успешно получен, продемонстрировав мощные возможности CIQTEK сканирующего электронного микроскопа с фокусированным ионным лучом в наномасштабной обработке и анализе. Характеристики продукта обеспечивают точную, эффективную и мультимодальную поддержку испытаний для клиентов, занимающихся наномеханическими испытаниями, способствуя прорывам в исследованиях материалов.