сканирующая электронная микроскопия для биоматериалов товар, сканирующая электронная микроскопия для биоматериалов поставщик, сканирующая электронная микроскопия для биоматериалов производитель.

Анализ интерфейса полупроводник-металл с помощью полевой эмиссии высокого разрешения с помощью СЭМ

Jun 27 , 2025

Интерфейс между полупроводниковыми материалами и металлическими электродами играет решающую роль в работе электронных устройств. Морфология поверхности, химический состав и электронная структура на интерфейсе напрямую влияют на ключевые факторы, такие как проводимость, стабильность и общая надежность устройства. Поэтому комплексный характеристика интерфейса полупроводник-металл имеет важное значен...

Посмотреть больше

Наномасштабная прецизионная выборка с помощью DualBeam FIB-SEM: применение наноманипуляций в полупроводниковых и биомедицинских исследованиях

Jun 30 , 2025

Почему важен точный отбор проб в наномасштабе В таких передовых областях, как материаловедение, науки о жизни и исследования полупроводниковых приборов, прецизионный отбор проб в наномасштабе часто является предпосылкой для значимых результатов. Будь то извлечение определенного места отказа из полупроводникового кристалла или изоляция органелл из отдельной клетки, обычные методы отбора проб часто ...

Посмотреть больше

Визуализация и количественная оценка пористости в биоактивных костных каркасах, напечатанных на 3D-принтере, с использованием микроскопов SEM

Jul 10 , 2025

Понимание роли пористости в инженерии костной ткани Биоактивные костные матриксы, изготовленные методом 3D-печати, играют важнейшую роль в инженерии костной ткани, где пористость является ключевым параметром, влияющим на адгезию клеток, пролиферацию, транспорт питательных веществ и формирование новой кости. Как чрезмерно высокая, так и слишком низкая пористость могут негативно влиять на механическ...

Посмотреть больше

Категории

Блог

Новый блог

Горячие Теги

Спектрометр электронного парамагнитного резонанса Детекторы сканирующего электронного микроскопа ЭПР-спектрометр Сканирующий электронный микроскоп Электронный спиновый резонанс Импульсная ЭПР-спектроскопия СЭМ-микроскопы энергодисперсионная спектроскопия

Блог

Анализ интерфейса полупроводник-металл с помощью полевой эмиссии высокого разрешения с помощью СЭМ

Наномасштабная прецизионная выборка с помощью DualBeam FIB-SEM: применение наноманипуляций в полупроводниковых и биомедицинских исследованиях

Визуализация и количественная оценка пористости в биоактивных костных каркасах, напечатанных на 3D-принтере, с использованием микроскопов SEM