Чхонан, Южная Корея — CIQTEK сделала ещё один важный шаг вперёд в Азии с установкой растрового электронного микроскопа с сфокусированным ионным пучком (FIB-SEM) DB550 в Научно-исследовательском институте CLARE в Чхонане, Южная Корея.
Новая установка позволяет исследователям и промышленным пользователям в Южной Корее познакомиться с высокоразрешающей визуализацией, точной нанообработкой и расширенными аналитическими возможностями, предлагаемыми CIQTEK DB550. Система обеспечивает выдающееся качество для модификации микроструктур, 3D-анализа методом послойного снятия и просмотра, а также автоматизированной подготовки ламелей для ТЭМ, поддерживая широкий спектр применений в анализе отказов полупроводников, технологиях дисплеев, материаловедении и НИОКР.
Расположенный в высокотехнологичном городе Mirae Ace в Чхонане, Научно-исследовательский институт CLARE является ведущей исследовательской и аналитической организацией в Южной Корее, занимающейся передовой характеристикой материалов, испытаниями на наноуровне и высокоточным микроанализом. Обслуживая таких крупных лидеров отрасли, как Samsung Semiconductor и Samsung Display, а также ведущие университеты и исследовательские институты, CLARE предоставляет индивидуальные аналитические решения, техническую экспертизу и консультации.
Теперь испытательная площадка Научно-исследовательского института CLARE оснащена полностью работоспособной системой CIQTEK DB550, предлагающей практические демонстрации и аналитические услуги для посетителей и клиентов, чтобы они могли изучить возможности двухлучевой системы, интуитивно понятный программный интерфейс и универсальность при выполнении сложных рабочих процессов проверки полупроводников и дисплеев.
«Наличие CIQTEK DB550 в нашей лаборатории позволяет нам напрямую демонстрировать нашим клиентам передовые возможности FIB-SEM и расширять наши испытательные услуги для ключевых отраслевых партнёров, таких как Samsung Semiconductor и Samsung Display», — сказал представитель Научно-исследовательского института CLARE. «Это отличное дополнение к нашим аналитическим возможностям и важный шаг в расширении наших предложений в области высококлассной микроскопии».
Теперь, когда DB550 введён в эксплуатацию в Южной Корее, местные пользователи могут напрямую оценить его производительность и получить доступ к передовой технологии FIB-SEM при поддержке местной экспертизы и технических услуг CLARE. Это сотрудничество знаменует собой важную веху в продолжающихся усилиях CIQTEK по расширению доступности передовых решений в области электронной микроскопии в Азиатско-Тихоокеанском регионе.
