CIQTEK представляет достижения в области технологии SEM на выставке MC2025 в Германии

С 24 по 29 августа 2025 г. CIQTEK участвовал в Конференция по микроскопии 2025 (MC2025) состоявшемся в Карлсруэ, Германия, одном из крупнейших и наиболее влиятельных мероприятий в Европе в области электронная микроскопия Конференция привлекла ведущих учёных, разработчиков приборов и промышленных пользователей, создав динамичную платформу для академического обмена и технологического сотрудничества.

В рамках программы CIQTEK провела Презентация экспонента под названием:
«Раскрытие силы Высокоскоростная сканирующая электронная микроскопия — без ущерба для превосходного разрешения изображений при низком кВ».

В презентации был подчеркнут подход CIQTEK к обеспечению высокопроизводительная сканирующая электронная микроскопия сохраняя при этом исключительное разрешение при низких ускоряющих напряжениях — баланс критически важен для приложений в материаловедение, анализ неисправностей полупроводников и исследования в области естественных наук Доклад вызвал значительный интерес у участников и спровоцировал оживленные дискуссии о том, как современные системы СЭМ могут ускорить как фундаментальные исследования, так и промышленные приложения.

Помимо презентации, команда CIQTEK активно общалась с исследователями и профессионалами отрасли, делясь своими знаниями о более широких планах компании. портфолио электронной микроскопии и изучение возможностей для сотрудничества. Эти обмены опытом не только углубили понимание технологических преимуществ CIQTEK, но и укрепили связи в мировом сообществе микроскопистов.

Успешное участие CIQTEK в MC2025 отражает ее постоянную миссию расширить границы технологии ЭМ-визуализации и предоставить исследователям по всему миру мощные, доступные и инновационные решения . В перспективе компания продолжит расширять международное партнерство и вносить свой вклад в развитие открытий с помощью микроскопии.