CIQTEK сотрудничает с JH Technologies в качестве регионального дистрибьютора электронных микроскопов в Северной Америке.
CIQTEK сотрудничает с JH Technologies в качестве регионального дистрибьютора электронных микроскопов в Северной Америке.
January 09, 2025
CIQTEK, ведущий производитель в области оптической и электронной микроскопии, недавно заключил стратегическое партнерство с JH Technologies, известным дистрибьютором в Северной Америке. Целью этого сотрудничества является предоставление новейших сканирующих электронных микроскопов (СЭМ)клиентам во всем регионе, одновременно повышая престиж CIQTEK.
Обладая 37-летним обширным опытом в сфере поставок микроскопических и оптических решений, CIQTEK гарантирует, что JH Technologies может предлагать СЭМ высокого разрешения и периферийное оборудование для удовлетворения разнообразных потребностей своих клиентов. Это партнерство позволяет JH Technologies расширить свои предложения и предоставить комплексные решения для всего рабочего процесса СЭМ, включая ПЭМ(просвечивающие электронные микроскопы) иFIB(системы сфокусированного ионного пучка).
Джон Хубач, генеральный директор JH Technologies, выразил энтузиазм по поводу нового предприятия, заявив, что CIQTEK SEM, TEM и FIBпредлагают беспрецедентное разрешение, уникальные технологии и впечатляющую окупаемость инвестиций (ROI). Сочетание существующих линеек продуктов и аналитической лаборатории JH Technologies, а также передовых продуктов CIQTEK делает компанию лидером в предоставлении решений с добавленной стоимостью для всего рабочего процесса SEM.
Алекс Чжан, директор по зарубежному маркетингу CIQTEK, также выразил радость по поводу партнерства с такой уважаемой и опытной компанией, как JH Technologies. Чжан похвалил JH Technologies за их знающих сотрудников отдела продаж, понимание рынка, квалифицированную команду обслуживания и впечатляющий выставочный зал, которые делают их идеальным партнером для расширения бизнеса CIQTEK в Северной Америке.
CIQTEKспециализируется на предоставлении индивидуальных продуктов и прикладных решений в различных научных дисциплинах, включая экологию, биохимию, полупроводниковые чипы и материаловедение. Ассортимент их продукции включает сканирующие электронные микроскопы (SEM), спектроскопию электронного парамагнитного резонанса, сканирующие зондовые микроскопы NV, а также анализаторы площади поверхности и пор BET. Имея более 700 сотрудников, в том числе значительную команду исследователей, разработчиков и инженеров, компания CIQTEK стремится к инновациям, повышению производительности и обеспечению превосходного обслуживания клиентов через свои 12 центров приложений.
Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.
Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.