CIQTEK Quantum Diamond AFM на Китайском симпозиуме по сканирующей зондовой микроскопии 2019

С 27 по 28 сентября в Экспертном здании прошел «Китайский симпозиум по сканирующей зондовой микроскопии (SPM2019)», организованный Ключевой лабораторией прецизионных научных инструментов Аньхойского генерального университета Китайского университета науки и технологий (USTC) и организованный CIQTEK. USTC в Хэфэе, Аньхой, Китай.

 

 

Групповое фото SPM2019

 

С 1990-х по 2012 год Китайский симпозиум SPM успешно провел двенадцать сессий, сыграв важную роль в прогрессе науки и техники и развитии высокотехнологичных производств.

 

На церемонии открытия конференции вице-президент Ло Сишэн рассказал об истории развития и состоянии сканирующей зондовой микроскопии. Он также подчеркнул первоначальную цель и важность этой конференции, надеясь способствовать общению и обмену между экспертами и учеными посредством этой конференции, и пожелал конференции полного успеха.

 

 

Сайт СПМ2019

 

Эксперты и ученые из известных университетов и исследовательских институтов, таких как Пекинский университет и Китайский университет Гонконга, а также многие мировые разработчики инструментов для сканирующих зондовых микроскопов собрались в USTC, чтобы провести академический обмен результатами научных исследований СЗМ и развитием индустриализации.

 

Конференция предоставила платформу для академического обмена. Присутствовавшие эксперты поделились своими научными достижениями в области СЗМ за последние годы и вместе обсудили новые тенденции будущего развития СЗМ. В ходе конференции экспертами и учеными было сделано 14 приглашенных докладов, 17 устных докладов и 2 корпоративных доклада по пяти темам, включая «Фундаментальные теории и методы моделирования, связанные со СЗМ», «Прогресс в области приборостроения СЗМ», «Важные приложения СЗМ». , «Стандартизация СЗМ» и «Продвижение продукции отечественных и зарубежных производителей СЗМ».

 

 

Генеральный директор CIQTEK доктор Ю Хэ выступил с докладом

 

В качестве соорганизатора конференции и разработчика научных инструментов, связанных со СЗМ, д-р Ю Хэ, генеральный директор CIQTEK, принял участие в конференции и выступил с презентацией на тему «Разработка и разработка квантового алмазного атомно-силового микроскопа». 

CIQTEK также представила свой квантово-алмазный атомно-силовой микроскоп на выставочной площадке этой конференции и провела всестороннюю презентацию и демонстрацию его участникам.

 

 

Ли Бинцзян, директор отдела маркетинга CIQTEK, представил на месте квантово-алмазный атомно-силовой микроскоп.

 

Квантовый алмазный атомно-силовой микроскоп CIQTEK

 

CIQTEK QDAFM — это сканирующий NV-центральный микроскоп, основанный на алмазно-азотно-вакансионном центре (NV-центре) и технологии сканирования АСМ. Магнитные свойства образца определяются количественно и неразрушающим способом путем квантового контроля и считывания спинового состояния алмазным зондом. Основанная на алмазной магнитометрии и квантовой механике, QDAFM обладает наноразмерным пространственным разрешением и сверхвысокой чувствительностью обнаружения и может использоваться для разработки и изучения магнитных текстур, магнитных накопителей высокой плотности и спинтроники. 

Существует две версии: версия для окружающей среды и криогенная версия.

 

Квантовый алмазный атомно-силовой микроскоп CIQTEK