Семинар CIQTEK и SciMed по электронной микроскопии, день — 25 февраля 2025 г.

Это однодневное мероприятие, охватывающее множество тем для пользователей ЭМ: от подготовки проб, включая ионное измельчение Бема и жидкие образцы, до реального оборудования, такого как настольные и напольные СЭМ. День будет состоять из серии технических презентаций, посвященных теме Электронная микроскопия, за которой последуют несколько практических занятий.

Участники получат представление обо всех предложениях SciMed в области электронной микроскопии и соответствующей подготовки проб. Им также будет продемонстрирован комплекс ЭМ компании SciMed, расположенный в LMCC Университета Лафборо, который включает в себя CIQTEK SEM3200, высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, известный своим исключительным качеством изображения и универсальностью в различных приложениях.

SNE-ALPHA от SEC — это компактный настольный СЭМ, который сочетает в себе простоту управления и сверхвысокое разрешение, что делает его идеальным для детального анализа размеров частиц и 3D-рендеринга. Кроме того, участники познакомятся с ионно-лучевой мельницей SEMPREP SMART от Technoorg Linda, оснащенной высокоэнергетическими и низкоэнергетическими источниками ионов аргона, предназначенными для точной окончательной полировки и очистки образцов для SEM, FEG, FIB и EBSD образцов, что обеспечивает отсутствие повреждений поверхностей и облегчает быстрый анализ поперечного сечения. Наконец, будет представлен аксессуар Aquarius Liquid для СЭМ от FlowVIEW.

Этот всеобъемлющий обзор позволит участникам понять, как эти передовые инструменты могут расширить их исследовательские и аналитические возможности.

Тезисы докладов

Резюме доклада: Фрэнк Чен из CIQTEK

«Революция в аналитической микроскопии: расширяя границы с CIQTEK SEM3200»
В этом докладе Пол Ванден Бранден расскажет, как CIQTEK SEM3200 переопределяет стандарты высокопроизводительной сканирующей электронной микроскопии. Он углубится в передовую технологию вольфрамовой нити, надежные возможности обработки изображений и универсальные применения в различных отраслях. Участники узнают, как этот инструмент дает исследователям возможность получать точные и высококачественные данные, одновременно оптимизируя эффективность рабочего процесса. Эта сессия обещает открыть новые возможности для интеграции передовых инструментов SEM как в академические, так и в промышленные условия.

Резюме доклада: Доктор. Дэн Мерривезер

«Сила настольного SEM – SNE Alpha как аналитическая платформа SEM»
Присоединяйтесь к доктору Дэну Мерривезеру, который развенчивает тайны сканирующей электронной микроскопии с помощью SEC-Alpha, компактного и удобного настольного РЭМ. Он обсудит его инновационные функции, такие как визуализация с высоким разрешением, анализ размера частиц и 3D-рендеринг, продемонстрировав его потенциал для преобразования повседневных аналитических задач. Этот доклад идеально подходит для профессионалов, которые ищут доступное, но мощное решение SEM для обеспечения точности и инноваций в своей работе.

Резюме доклада: Доктор. Мартон Петер Ириц

Представление линейки ионно-лучевого фрезерования от Technoorg Linda с практическими примерами применения в широком спектре отраслей и применений