CIQTEK успешно завершает участие в Microscopy & Microanalysis 2026

CIQTEK участвует в конференции Microscopy & Microanalysis 2026

12 августа 2026 года

С 2 по 6 августа CIQTEK участвовала в Microscopy & Microanalysis 2026 (M&M 2026), проходившей в Baird Center в Милуоки, штат Висконсин, США. На стенде 718 CIQTEK представила свой сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью SEM3300 и встретилась с участниками конференции.

M&M — это ежегодный форум, посвящённый науке и технологиям микроскопии и микроанализа. Во время мероприятия CIQTEK представила на своём стенде СЭМ SEM3300 с вольфрамовой нитью. С помощью материалов о продукции, демонстрации изображений и общения на месте команда представила посетителям электронно-микроскопические продукты CIQTEK и направления их применения.

3 августа CIQTEK провела учебный семинар поставщика под названием:

Раскрытие возможностей уникальной высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии без компромиссов в превосходном разрешении изображений при низком кВ для применений объёмной микроскопии больших масштабов от CIQTEK

Презентация была посвящена высокоскоростной сканирующей электронной микроскопии для применений объёмной микроскопии больших масштабов. Участники посетили презентацию и обменялись идеями с командой CIQTEK на стенде.

На протяжении всей конференции CIQTEK команда приветствовала посетителей и проводила обсуждения по продуктам электронной микроскопии и связанным с ними применениям. Мы благодарим организаторов M&M 2026 и всех, кто посетил стенд CIQTEK. CIQTEK продолжит развивать технологии и продукты электронной микроскопии для научных и промышленных пользователей.