CIQTEK представит передовые научные и нефтепромысловые приборы на выставке ARABLAB 2025 в Дубае

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Серия CIQTEK Climber — анализаторы удельной площади поверхности и размера пор предназначены для быстрого, точного и стабильного тестирования, поддерживают одновременное анализирование до 6 образцов, что обеспечивает совершенно новый опыт тестирования. ⪠Проверка удельной поверхности и распределения пор по размерам твердых веществ, суспензий и порошков ⪠0,0005 м2/г и выше анализ удельной площади поверхности ⪠Анализ размера пор 0,35 ~ 500 нм ⪠Тест на ставку из пяти пунктов можно пройти за 20 минут

The CIQTEK CAN400 — это интеллектуальный жидкостный спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР) Система спектрометра состоит из сверхпроводящего магнита со сверхвысокой однородностью и сверхвысокой экранировкой, многофункциональной интеллектуальной консоли и высокочувствительного полностью автоматизированного настроечного зонда, а также других модулей. CAN400 может включать в себя несколько высокоинтегрированных радиочастотных приёмопередатчиков. Усовершенствованная конструкция повышает производительность настройки, шиммирования и автоматической смены образцов, сокращая время эксперимента. Такие аксессуары, как интеллектуальный сенсорный экран, расширяют интерфейс управления системой ЯМР. Вставку и извлечение образцов можно контролировать и контролировать с помощью сенсорного экрана, что повышает гибкость различных экспериментов. CAN400 сочетает в себе высокопроизводительное аппаратное обеспечение и интеллектуальное программное обеспечение, предоставляя пользователям более надежную и удобную экспериментальную платформу ЯМР.