CIQTEK успешно завершает выставку SCANDEM 2026 в Оулу, Финляндия
CIQTEK успешно завершает выставку SCANDEM 2026 в Оулу, Финляндия
July 03, 2026
CIQTEK, ведущий поставщик решений в области высокоточных измерений и электронной микроскопии, с удовольствием сообщает об успешном завершении своего участия в ежегодной встрече SCANDEM 2026 Северного микроскопического общества, которая проходила с 9 по 12 июня 2026 года в Оулу, Финляндия.
Обзор мероприятия
SCANDEM — одна из самых продолжительных и влиятельных ежегодных конференций по микроскопии в Северном регионе. В этом году встреча была совместно организована Центром анализа материалов Биoцентра Оулу и Северным микроскопическим обществом и проходила в здании Kieppi Биoцентра Оулу. Конференция охватывала две основные тематические области: науки о жизни (от визуализации целых организмов до методов молекулярного уровня) и материаловедение (металлургия, геология, катализаторы, наночастицы и многое другое). В программу вошли пленарные лекции, научные доклады, постерные сессии и выставочный зал, в которых приняли участие около 120–150 посетителей и примерно 20 поставщиков оборудования. Примечательно, что Оулу был объявлен Европейской столицей культуры 2026 года, предлагая посетителям со всего мира уникальную культурную атмосферу и динамичную инновационную среду.
Основные моменты стенда CIQTEK
Стенд CIQTEK располагался в II.5выставочной зоны. Европейская команда (Frank, Miles, Markus, Changming) находилась на месте, чтобы представить два основных продукта электронной микроскопии и предоставить участникам профессиональные технические консультации.
Представленные продукты:
SEM5000X сверхвысокого разрешения FESEM: флагманский растровый электронный микроскоп с полевой эмиссией CIQTEK, оснащённый усовершенствованной электронной оптической системой, обеспечивающей получение изображений со сверхвысоким разрешением, идеально подходящий для точного наноразмерного структурного анализа в материаловедении, полупроводниках и науках о жизни.
HEM6000 высокоскоростной SEM: высокопроизводительная рабочая станция, разработанная для крупноформатной и серийной инспекции, с выдающимся высоким током пучка, исключительной стабильностью и автоматизированными рабочими процессами, значительно ускоряющая получение изображений для промышленного контроля качества и передовых исследований.
Презентация компании
CIQTEK провела презентацию на Сессии 1 (сессия компании LS1+MS1, зал 101A)примерно с 11:00 до 11:10.
Докладчик: Miles, специалист по решениям в CIQTEK
Тема: «Раскрытие возможностей уникального высокоскоростного решения растровой электронной микроскопии от CIQTEK»
В презентации были рассмотрены фундаментальные принципы высокоскоростной растровой электронной микроскопии с полевой эмиссией (FESEM) и показано, как эта передовая технология преобразует получение и анализ изображений в различных масштабах и при работе с большими объёмами данных. Miles объяснил, чем высокоскоростная FESEM от CIQTEK уникально отличается от других решений, и выделил области применения, в которых она превосходит другие технологии. Участники также узнали, как комплексный высокоскоростной пакет микроскопии CIQTEK объединяет несколько технологий для раскрытия настоящей пропускной способности, обеспечивая революционную производительность при сохранении превосходного разрешения изображений.
Ключевые темы презентации
Во время сессии компании презентация CIQTEK охватывала:
Мощный комплекс высокоскоростной технологии визуализации: объединение электронного источника с высокой яркостью и большим током пучка, высокоскоростного сканирующего привода, высокоскоростного электростатического отклонения пучка, высокоскоростной обработки изображений, высокоскоростного приёма электронных сигналов, высокоскоростной передачи видеосигнала, высокоскоростного предметного столика и высокоавтоматизированного рабочего процесса — обеспечивая более высокую скорость визуализации, более длительное непрерывное получение изображений и интеллектуальный рабочий процесс.
Система автоматической смены образцов: включает функцию плазменной очистки для эффективной подготовки и обработки образцов.
Характеристики HEM6000: подробные технические параметры, включая разрешение (1,5 нм при 1 кВ SE, 1,3 нм при 3 кВ SE, 1,5 нм при 15 кВ BSE), увеличение (66× – 1 000 000×), ускоряющее напряжение (100 В – 30 кВ), возможности предметного столика для образцов и скорость получения данных (10 нс/пиксель, 2×100 млн пикселей/с).
Штаб-квартира CIQTEK: расположена по адресу No. 1969, Kongquetai Road, High-tech Zone, Hefei, Anhui, China. Объект занимает территорию площадью 76 000 м² с общей площадью помещений 280 000 м², в нём работают более 800 сотрудников, а также имеется чистая комната площадью 4 000 м² (класс 10 000, частично класс 100).
Поддержка европейской команды
Эта выставка проводилась европейской командой CIQTEK, которая обладает обширной экспертизой в области оборудования для микроскопии и опытом обслуживания местного рынка, обеспечивая профессиональные и эффективные демонстрации продукции и техническую поддержку. На стенде для посетителей были доступны брошюры о продукции и индивидуально подготовленные USB-накопители.
Заключение
Участие CIQTEK в SCANDEM 2026 стало ещё одним важным шагом в стратегии глобального расширения компании. Мероприятие предоставило отличную платформу для взаимодействия с ведущими исследователями и экспертами мирового сообщества микроскопии, демонстрации передовых технологий электронной микроскопии CIQTEK и укрепления присутствия компании на европейском рынке. CIQTEK остаётся приверженной развитию инноваций в области электронной микроскопии и с нетерпением ожидает продолжения сотрудничества с международным научным сообществом.
О CIQTEK
CIQTEK является ведущим поставщиком решений в области высокоточных измерений и электронной микроскопии, ориентированным на предоставление передовых технологий для научных исследований и промышленных применений. Благодаря сильной приверженности инновациям и совершенству CIQTEK продолжает расширять границы технологий микроскопии и измерений по всему миру.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.