▶
Двуханодная структура электронной пушки
*Необязательный
Прерывистый анод
Промежуточный анод устанавливается между катодным узлом и анодом. При низком напряжении возбуждения эффективность извлечения электронного пучка может быть повышена, разрешение может быть увеличено на 10%, а отношение сигнал/шум – на 30%.
Для образцов углеродных материалов при низких возбуждающих напряжениях глубина проникновения луча невелика, что позволяет получить истинную информацию о морфологии поверхности с более подробной информацией об образце.
Для образцов полимерных волокон высокие напряжения возбуждения вызывают повреждение образца лучом, в то время как низковольтный луч позволяет сохранить детали поверхности без повреждений.
▶
Режим СЭМ низкого вакуума
Микроскоп CIQTEK SEM3200 поддерживает двухступенчатые режимы низкого вакуума: давление в камере может достигать 5–180 Па без ограничивающей апертуры, а давление в камере — 180–1000 Па — с использованием PLA. Специально разработанная вакуумная камера объектива минимизирует длину свободного пробега электронов в условиях низкого вакуума и поддерживает разрешение 3 нм при 30 кВ.
Падающий электронный луч ионизирует молекулы воздуха на поверхности, образуя электроны и ионы, при этом ионы нейтрализуют заряженные частицы, образующиеся на поверхности образца, достигая эффекта ослабления заряда.
Вторичная электронная эмиссия с поверхности образца ионизирует молекулы воздуха, одновременно генерируя электроны, ионы и фотосигналы. Образовавшиеся электроны затем ионизируют другие молекулы воздуха, создавая большое количество фотосигналов, которые затем регистрируются детектором низкого вакуума (LVD).
В режиме высокого вакуума LVD напрямую обнаруживает сигнал катодолюминесценции, испускаемый образцом, который можно захватить для получения катодолюминесцентного изображения с одновременной визуализацией с канала BSED.
▶
Оптическая навигация
Использование вертикально установленной камерной камеры для получения оптических изображений для навигации по предметному столику образца позволяет более интуитивно и точно позиционировать образец.
▶Интеллектуальная вспомогательная коррекция астигматизма изображения
В этом режиме значение астигматизма по осям X и Y меняется в зависимости от пикселя. Чёткость изображения достигается при оптимальном значении астигматизма, что позволяет быстро настроить стигматор.
▶
Автоматические функции
Улучшенные функции автоматической регулировки яркости и контрастности, автоматической фокусировки и автоматической коррекции астигматизма. Съёмка одним щелчком!
>> Автоматическая фокусировка
>>
Автоматическая коррекция астигматизма
>>
Автоматическая яркость и контрастность
▶
Безопаснее в использовании
▶
Простая замена нити
Предварительно выровненный сменный модуль нити готов к использованию.
