Новости и события

31 мая: «Как точно измерить размер пор?» проводится Лабораторией магнитного резонанса Аналитического центра Университета Цинхуа. Серия лекций была официально открыта, и Ся Пань, генеральный директор подразделения прецизионных измерений государственных приборов, поделился докладом «Ключевые моменты точного определения размера пор материала и анализа примеров испытаний», и около 60 исследователей в смежных областях посетили и обменялись мнениями. углубленный обмен мнениями офлайн и онлайн.   Офлайн-место проведения семинара          Профессор Ян Хайцзюнь отметил, что пористая структура материалов напрямую влияет на эксплуатационные характеристики материалов, а точное измерение размера пор материала широко используется во многих дисциплинах и отраслях. Серия лекций будет посвящена теме «Как точно измерить поры» и пригласит экспертов в смежных областях продолжить делиться различными методами анализа пор.      Профессор Ян Хайцзюнь, химический факультет Университета Цинхуа          Ся Пан из CIQTEK сказал в своем отчете, что принцип низкотемпературной адсорбции азота для анализа удельной площади поверхности и размера пор является широко используемым методом испытаний на международной арене, имеющим зрелую теоретическую поддержку и идеальные стандартные руководства. В реальном процессе испытаний требования к испытаниям различаются для разных типов материалов и разных диапазонов размеров пор. Используя различные инструменты для анализа адсорбции газа, независимо разработанные CIQTEK, в своем отчете он объяснил анализ и тестирование различных типов ультрамикропористых, микропористых и мезопористых материалов. В частности, он подробно рассказал об анализе размеров пор ультрамикропористых и микропористых материалов, которые находят все более широкое применение, от выбора инструментов до настройки параметров в процессе испытаний, выбора моделей для анализа данных испытаний и интерпретация результатов испытаний, особенно анализ размеров пор ультрамикропористых материалов с размером пор менее 0,7 нм.     Генеральный директор CIQTEK Ся Пань          Недавно EASY-V 1440, высокопроизводительный микропористый анализатор, был официально доставлен в Аналитический центр Университета Цинхуа. Ся Пань сообщил, что этот инструмент предназначен для определения характеристик поверхности микропористых материалов. Основанное на трубопроводе из нержавеющей стали, устройство имеет революционную конструкцию трубки для проб VCR с металлической поверхностной герметичностью, которая улучшает общую герметизацию во время потока газопровода и имеет преимущества длительного сохранения вакуума, сверхнизкого коэффициента парциального давления, постоянного контроль температуры и несколько флюсов. Он может широко использоваться в области защиты окружающей среды, топливных элементов, фармацевтической и каталитической промышленности и особенно подходит для исследователей, у которых есть...

 Мы рады сообщить, что на сегодняшний день продукты спектрометра ЭПР CIQTEK стали частью  27  исследовательских публикаций высокого уровня !     Один из избранных результатов    Катализируемое ванадием восстановление азота до аммиака через промежуточное соединение [V]=NNH 2  . Журнал Американского химического общества (2023 г.) Вэньшуан Хуан, Лин-Я Пэн, Цзяюй Чжан, Чэньруй Лю, Гоюн Сун, Цзи-Ху Су, Вэй-Хай Фан, Ганглун Цуй и Шаовэй Ху     Абстрактный   Атмосфера Земли богата N 2  (78%), но активация и конверсия азота оказались сложной задачей из-за его химической инертности. В аммиачной промышленности для преобразования N 2  и H 2  в NH 3  на поверхности твердых катализаторов используются условия высокой температуры и высокого давления . В условиях окружающей среды некоторые микроорганизмы могут связывать и превращать N 2  в NH 3  с помощью азотфиксирующих ферментов на основе Fe(Mo/V). Хотя большой прогресс был достигнут в структуре и промежуточных соединениях ферментов азотфиксации, природа связывания N 2  с активным центром и подробный механизм восстановления N 2  остаются неясными.  С целью лучшего понимания механизма реакции и разработки катализаторов синтеза аммиака в мягких условиях были проведены различные исследования по активации N 2 комплексами переходных металлов. Однако до сих пор каталитическая конверсия N 2  в NH 3  комплексами переходных металлов остается проблемой. Несмотря на решающую роль ванадия в биологической фиксации азота, существует несколько четко определенных комплексов ванадия, которые могут катализировать превращение N 2  в NH 3 . В частности, остаются неизвестными интермедиаты V(NxHy), полученные в реакциях переноса протона/электрона лигированного N 2  . В данной статье сообщается о восстановлении азота до аммиака, катализируемом комплексом металлического ванадия, а также о первом выделении и характеристике промежуточного соединения нейтрального гидразидного комплекса ([V]=NNH 2 ) из активированной азотом системы, при этом процесс циклического преобразования моделируется с помощью восстановление протонированного аминокомплекса ванадия ([V]-NH 2 ) с получением диазотного соединения и выделением аммиака. Эти результаты обеспечивают беспрецедентное понимание механизма восстановления N 2  , связанного с азотфиксирующими ферментами FeV, путем объединения теоретических расчетов для выяснения возможного превращения азота в аммиак через дистальный путь в этой каталитической системе.   Группа профессора доктора Шаовея Ху из Пекинского педагогического университета занимается разработкой комплексов переходных металлов для активации инертных малых молекул. Недавно в сотрудничестве с группой профессора доктора Ганглонга Цуй мы сообщили о восстановлении азота до аммиака, катализируемом металлокомплексами ванадия, посредством сочетания теоретических расчетов и экспериментальных исследований. Результаты это...

18 января успешно прошла ежегодная вечеринка CIQTEK по случаю завершения 2023 года. Основная площадка в Хэфэе и вся команда CIQTEK на пяти дополнительных площадках по всему Китаю подвели итоги захватывающего 2022 года и с нетерпением ждали нового 2023 года.         ↓ Посмотрите видео, чтобы узнать об основных моментах ежегодной вечеринки CIQTEK в конце 2023 года ↓    Оглядываясь назад на 2022 год, генеральный директор CIQTEK доктор Ю Хэ представил серию ярких результатов и подробных тематических исследований. Он сказал: «Помощь клиентам в достижении ценности» — это причина нашего существования, а «помощь коллегам в достижении ценности» — наш фундаментальный подход.   В 2022 году CIQTEK выпустила квантовый алмазный микроскоп, прибор для квантовых прецизионных измерений SEM3300, который переосмысливает сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, а также новую серию газоадсорбционных приборов, которая является лидером в отрасли, и другие высококлассные научные инструменты.   В 2022 году продукты для измерения и контроля CIQTEK были поставлены более чем 500 клиентам, а центр приложений измерял образцы для клиентов более 8000 раз. Между тем, он успешно провел первый «Фестиваль квантовой науки и технологий», «Форум CIQTEK» и другие инновационные мероприятия.   В 2022 году CIQTEK выиграла первую премию Национальной инновационной базы метрологической культуры и научного образования, первую премию Премии за прогресс в области науки и технологий провинции Аньхой, первую премию Постдокторской исследовательской станции провинции Аньхой и другие 16 квалификационные награды.   В 2023 году мы будем бесстрашны и идём вперёд! В 2023 году

4 января У Цзиньсун и другие эксперты из Департамента науки и технологий провинции Аньхой посетили CIQTEK, и генеральный директор CIQTEK доктор Ю Хэ тепло приветствовал их.  Доктор Ю Хэ представил компанию приглашенным экспертам в выставочном зале CIQTEK.   В выставочном зале CIQTEK доктор Ю Хэ представил разработки компании и ее основные инструменты и оборудование, такие как квантовый алмазный атомно-силовой микроскоп, квантовый компьютер с ионной ловушкой, атомный магнитометр, сканирующий электронный микроскоп, спектрометр электронного парамагнитного резонанса, продукты серии квантовых вычислений и контроля измерений, анализатор удельной поверхности и размера пор.   На последующем симпозиуме доктор Хэ Ю перечислил последние достижения некоторых крупных исследовательских проектов CIQTEK и внес предложения по разработке научных инструментов в области квантовых технологий, сценариям применения и потребностям в талантах.   Делегация экспертов провинциального департамента науки и технологий выразила признание достижений CIQTEK, а также заявила, что провинциальный департамент науки и технологий сосредоточит внимание на проблемах предприятий, будет следить за их потребностями, хорошо выполнять сервисную работу и предоставлять решительная поддержка процветающего развития квантовой индустрии в провинции Аньхой.   Высококлассные научные инструменты являются краеугольным камнем научно-технических инноваций и первой станцией для преобразования результатов научных исследований. CIQTEK будет придерживаться первоначального намерения, продолжать прилагать усилия в области ключевых основных технологий, посто�

Производство является основой реальной экономики, и важность производства подчеркивается во всем мире. Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) как мощный аналитический инструмент сыграет большую роль в улучшении инноваций в производстве и повышении качества продукции.   Однако на практике часто возникают опасения, что SEM легко повредить, сложен в использовании и требует много времени для запуска, что приводит к высоким скрытым затратам.   Команда исследований и разработок CIQTEK SEM решила эту проблему с целью « каждый может использовать » для создания « легкой, но не простой » вольфрамовой нити SEM2000.  Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью CIQTEK SEM2000     Легко, но не просто   Интерфейс управления SEM2000 прост , легок в запуске, долговечен, имеет низкий уровень отказов, и даже новички могут легко его использовать. Высокая степень автоматизации SEM2000 , ключевые изображения, автоматическая фокусировка, автоматическая дисперсия и функция автоматического контраста значительно упрощают этапы отладки параметров. SEM2000 имеет полный процесс предотвращения столкновений , который позволяет полностью избежать соприкосновения образца с полярным башмаком объектива, вторичным электронным детектором и другими деталями.   Ниже приведены фотографии, сделанные новичком в использовании SEM2000 после короткого периода обучения. Четкое изображение, хороший контраст и большая глубина резкости.      Если вы хотите снизить стоимость использования и повысить эффективность работы. Если вы никогда раньше не пользовались электронным микроскопом и хотите впервые попробовать SEM. Если вы хотите, чтобы инстру

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) с вольфрамовой нитью экономична, проста в обслуживании, относительно проста в эксплуатации и требует меньше места, что упрощает ее использование широким кругом людей. Однако в течение долгого времени разрешение РЭМ с вольфрамовой нитью оставалось неизменным, что затрудняло достижение пользователем более высокого разрешения.   Компания CIQTEK недавно представила SEM3300 , сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью, в котором разрешение с 20 кВ успешно увеличено до 2,5 нм, что на 16 % лучше, чем у обычных электронных микроскопов с вольфрамовой нитью! 3 кВ, разрешение 4 нм, улучшение в 2 раза! Разрешение 1 кВ 5 нм, улучшение в 3 раза!  Он переопределяет отраслевые стандарты сканирующей электронной микроскопии с вольфрамовой нитью, значительно превосходя по характеристикам обычную электронную микроскопию с вольфрамовой нитью во всех диапазонах напряжений!   CIQTEK SEM3300   Следующие три изображения представляют собой реальные изображения стандартных частиц золота при разном напряжении, размер каждой частицы составляет около 300 нм, с острыми краями, богатыми деталями и различной высотой.    Изображения стандартных частиц золота при разном напряжении, полученные с помощью SEM3300    Хорошо известно, что материал диафрагмы литиевых батарей имеет плохую электропроводность и крошечные поры, поэтому для получения более качественных изображений необходимо использовать низковольтный автоэмиссионный электронный микроскоп с высоким разрешением. На рисунке а показан эффект обычного РЭМ с вольфрамовой нитью, детали размыты и неясны. SEM3300 легко справляется с этой сложной задачей: поры перегородки четко видны при напряжении 1 кВ, а края пор достаточно острые для осмотра перегородки (рис. b).    Рисунок a: Перегородка литиевой батареи, сфотографированная с помощью обычного РЭМ с вольфрамовой нитью, с размытыми и нечеткими деталями.    Рисунок б: Сфотографированная SEM3300 диафрагма литиевой батареи, четко видны поры диафрагмы, острый край отверстия     Как CIQTEK SEM3300 меняет представление о СЭМ с вольфрамовой нитью?   Группа исследований и разработок CIQTEK SEM проанализировала основные факторы, ограничивающие разрешение SEM с вольфрамовой нитью: Эмиссионная структура вольфрамовой нити представляет собой трехэлектродную структуру с катодом, затвором и анодом. При низком ускоряющем напряжении яркость нити накаливания будет значительно снижена из-за эффекта объемного заряда и аберрации источника электронов. При низкой энергии приземления хроматические и дифракционные аберрации, вызванные дисперсией энергии, велики, что приводит к образованию большого пятна луча. Чтобы обеспечить эффективность сбора бокового детектора вторичных электронов, рабочее расстояние относительно велико, а увеличение объектива недостаточно велико.   В ответ на эти проблемы компания CIQTEK добавила трубку высокого напряжения 10 кВ от анода непосредст...

Недавно новостное агентство Центрального телевидения Китая (CCTV) взяло интервью и сообщило о сканирующем электронном микроскопе CIQTEK.     «Это коммерческий сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью и разрешением 2,5 нм (CIQTEK Tungsten Filament Scanning Electronic Microscope SEM3300), который был выпущен только в конце ноября».    Источник изображения: НОВОСТИ CCTV   Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью CIQTEK SEM3300   «Чтобы иметь возможность перенести ключевую базовую технологию из лаборатории в различные отрасли промышленности и добиться массового производства, технология квантовых прецизионных измерений в качестве ядра базы индустриализации научных приборов - Quantum Science Instrument Valley (штаб-квартира CIQTEK) активизируется. строительство. "   Источник изображения: НОВОСТИ CCTV    Источник изображения: НОВОСТИ CCTV

Недавно информационное агентство Синьхуа пригласило CIQTEK записать видеоинтервью на тему «Изучение прецизионных квантовых измерений». CIQTEK очень гордится и рад возможности распространить знания о квантовых технологиях и информацию среди общественности.      В интервью Фрэнк Чен, менеджер по развитию зарубежного бизнеса компании CIQTEK, продемонстрировал и представил приборы для прецизионных квантовых измерений собственной разработки, такие как квантово-алмазный атомно-силовой микроскоп (QDAFM) и спектрометр электронного парамагнитного резонанса (ЭПР или ЭПР).   Следующее взято из информационного агентства Синьхуа (или  проверьте новости здесь ):  «Прибор для измерения квантовой точности, называемый квантовым алмазным атомно-силовым микроскопом, может достигать наномасштабного высокого пространственного разрешения и сверхвысокой чувствительности обнаружения за один спин. Узнайте больше о квантовом микроскопе вместе с аспирантом из Бангладеш в китайском Аньхое.   Производство компании «Синьхуа Глобал Сервис  »