Конференция и выставка Питткон 2024

X-диапазон Электрон Парамагнитный резонанс или спектрометр электронного спинового резонанса (EPR, ESR)А CIQTEK EPR200M это недавно спроектированный Спектрометр EPR специализируясь на качественном и количественном анализе Свободные радикалы, ионы переходных металлов, легирование материала и дефектыПолем Это отличный исследовательский инструмент для мониторинга химических реакций в реальном времени, углубленной оценки свойств материала и изучения механизмов деградации загрязняющих веществ в науке окружающей среды EPR200M принимает компактную конструкцию и высоко интегрирует микроволновый источник, магнитное поле, зонд и основной контроллер, обеспечивая чувствительность и стабильность, совместимая с различными экспериментальными потребностями Интерфейс, удобный для пользователя, позволяет даже новым пользователям быстро запустить, что делает инструмент EPR действительно простым в использовании ● Напишите нашим экспертам на пользовательские решения, цитаты или подробные брошюры: info@ciqtek.com

Высокое разрешение при низком возбуждении The CIQTEK SEM5000Pro это высокое разрешение Шоттки сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Специализируется на высоком разрешении даже при низком напряжении возбуждения. Использование передовой технологии электронной оптики «Super-Tunnel» обеспечивает свободный от пересечений путь луча и конструкцию электростатическо-электромагнитной составной линзы. Эти достижения снижают эффект пространственной зарядки, минимизируют аберрации линз, повышают разрешение изображений при низком напряжении и достигают разрешения 1,2 нм при 1 кВ, что позволяет напрямую наблюдать непроводящие или полупроводящие образцы, эффективно снижая повреждение образцов от облучения.

Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).

Сверхвысокое разрешение Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью The CIQTEK SEM3300 Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Включает такие технологии, как "супертуннельная" электронная оптика, внутрилинзовые электронные детекторы и электростатические и электромагнитные составные объективные линзы. Применяя эти технологии к микроскопу с вольфрамовой нитью, можно превзойти давний предел разрешения такого СЭМ, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа низкого напряжения, которые ранее были достижимы только с помощью полевых эмиссионных СЭМ.

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком Ga+ The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Имеет сфокусированную ионную колонку для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию электронной оптики «супертуннель», низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкое напряжение, высокое разрешение», чтобы гарантировать его аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонны обеспечивают источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками для обеспечения возможностей нанопроизводства. DB550 — это многофункциональная рабочая станция для наноанализа и производства с интегрированным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM3200 - это превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двойным анодом обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных принадлежностей, что делает SEM3200 универсальным аналитическим прибором с превосходной расходуемостью.

Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ) 120 кВ 1. Разделенные рабочие пространства: Пользователи работают с TEM в разделенной комнате с комфортом, снижая влияние окружающей среды на TEM. 2. Высокая эксплуатационная эффективность: Специальное программное обеспечение объединяет высокоавтоматизированные процессы, обеспечивая эффективное взаимодействие TEM с мониторингом в реальном времени. 3. Улучшенный опыт эксплуатации: Оборудован автоэмиссионной электронной пушкой с высокоавтоматизированной системой. 4. Высокая расширяемость: Для пользователей зарезервировано достаточное количество интерфейсов для перехода на более высокую конфигурацию, отвечающую разнообразным требованиям приложений.

Модернизируйте старую спектроскопию EPR для передовых исследований EPRЭто модернизируется, в том числе функции, включая:●–¶ Более высокая чувствительность:Ультра-низкий шум микроволнового источника и технология обнаружения сигналов ●–¶ Лучшее разрешение: Точная технология управления магнитным полем●–¶ Отличная совместимость: Совместим с широким диапазоном спектрометров EPR ●–¶ Быстрая доставка: Полная доставка модернизированного оборудования в течение 2-6 месяцев ●–¶ Высококачественное обслуживание: Установка на месте и 2-летняя гарантия ● Напишите нам по электронной почте для более подробной информации: info@ciqtek.com

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

CIQTEK SEM5000 — это сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией, обеспечивающий возможность получения изображений и анализа с высоким разрешением, поддерживаемый множеством функций, преимуществами усовершенствованной конструкции электронно-оптической колонны, технологией туннелирования электронного луча высокого давления (SuperTunnel), низкой аберрацией и отсутствием погружения. объектив, обеспечивает получение изображений с высоким разрешением при низком напряжении, магнитный образец также можно анализировать. Благодаря оптической навигации, автоматизированным функциям, тщательно разработанному пользовательскому интерфейсу взаимодействия человека с компьютером, а также оптимизированному процессу эксплуатации и использования, независимо от того, являетесь ли вы экспертом или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнить работу по визуализации и анализу с высоким разрешением.