CIQTEK Electron Microscopy расширяет свое глобальное присутствие на выставке ESEM 2025 в Египте
CIQTEK Electron Microscopy расширяет свое глобальное присутствие на выставке ESEM 2025 в Египте
October 13, 2025
CIQTEK
большая честь иметь возможность участвовать в
Международная конференция Египетского общества электронной микроскопии (ESEM) 2025 г.
, который проходил 13–15 октября в
Научно-исследовательский институт Теодора Бильгарца (TBRI)
в Гизе, Египет. Это мероприятие собрало экспертов по электронной микроскопии, исследователей и представителей промышленности со всего Ближнего Востока, Африки и других регионов, способствуя развитию микроскопии как в науках о жизни, так и в материаловедении.
Тема этого года:
«Роль электронной микроскопии в прояснении невидимого»
, вызвали большой резонанс на сессиях, посвященных нейропатологии, биопсии почек, инфекционным агентам, наноструктурной визуализации и новым методам микроскопии. TBRI сыграл ключевую роль в организации мероприятия совместно с египетскими университетами, такими как Танта и Асьют.
Вклад и участие CIQTEK
На выставке ESEM 2025 компания CIQTEK представила свою
Линейка продуктов SEM
, включая
ФИБСЭМ
,
ФЕСЭМ
, и
Вольфрамовая нить СЭМ
Наш стенд вызвал интерес у исследователей в области биологии и материаловедения, желавших увидеть визуализацию реальных образцов, работу при низком напряжении и аналитическую интеграцию.
Помимо экспозиций, представители CIQTEK участвовали в техническом обмене, обсуждая, как современные инструменты СЭМ могут способствовать развитию региональной исследовательской инфраструктуры. Мы подчеркнули нашу приверженность
предоставление высокопроизводительных инструментов, конкурентоспособных цен и локальных сетей поддержки
для содействия внедрению в различных лабораториях региона.
Влияние и перспективы
Конференция подчеркнула, как микроскопия продолжает открывать невидимое — от клеточной ультраструктуры до феноменов наноматериалов. Для многих участников это была редкая возможность получить доступ к широкому спектру методов визуализации под одной крышей и напрямую пообщаться с такими поставщиками, как CIQTEK.
Взаимодействуя с местными учёными и организациями, CIQTEK расширяет своё глобальное присутствие и способствует развитию микроскопии в недостаточно представленных регионах. Мы с нетерпением ждём продолжения нашей поддержки в Африке и на Ближнем Востоке, предлагая установку оборудования, обучение и оперативное обслуживание.
Аналитический Шоттки Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro аналитическая модель FE-SEM, оснащенная высокояркой и долговечной полевой электронной пушкой Шоттки. Ее трехступенчатая конструкция электромагнитной линзы обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS / EDX, EBSD, WDS и т. д. Модель стандартно поставляется с режимом низкого вакуума и высокопроизводительным низковакуумным вторичным электронным детектором, а также выдвижным детектором обратно рассеянных электронов, что позволяет наблюдать за плохо проводящими или непроводящими образцами.
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.
Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.