CIQTEK укрепляет партнерские отношения на Analytica Africa 2025
CIQTEK укрепляет партнерские отношения на Analytica Africa 2025
July 14, 2025
С 8 по 10 июля,
CIQTEK
присоединился к научному и аналитическому сообществу
Analytica Lab Африка 2025
в Йоханнесбурге,
ЮАР
Это важнейшее мероприятие, проходившее в конференц-центре Галлахера, объединило лидеров в области технологий, исследователей и дистрибьюторов со всего континента.
На стенде № M04 компания CIQTEK представила мощную линейку научных приборов, включая наши
Электронные микроскопы
,
ЯМР
&
ЭПР-спектрометры
, и
Анализаторы площади поверхности BET
. В ходе выставки нам посчастливилось пообщаться с широким кругом специалистов, многие из которых выразили глубокую заинтересованность в развитии аналитических возможностей посредством совместного партнерства.
Энтузиазм и профессионализм посетителей действительно вдохновляли. Analytica Lab Africa 2025 стала ценной площадкой для обмена идеями и изучения потребностей местного рынка: от подробных технических обсуждений до переговоров о возможном дистрибуции.
После выставки команда CIQTEK отправилась в целенаправленную поездку по Южной Африке, встречаясь с представителями местных лабораторий, учреждений и потенциальными партнёрами. Это личное взаимодействие позволяет нам лучше понять практические применения и продолжить укреплять доверие и укреплять динамику развития в регионе.
Искренне благодарим всех, кто посетил наш стенд и поделился своими идеями. Мы с нетерпением ждем будущих событий и надеемся на совместное развитие южноафриканского научного сообщества.
Оставайтесь с нами для получения дополнительных новостей с дороги!
Сверхвысокое разрешение Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью The CIQTEK SEM3300 Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Включает такие технологии, как "супертуннельная" электронная оптика, внутрилинзовые электронные детекторы и электростатические и электромагнитные составные объективные линзы. Применяя эти технологии к микроскопу с вольфрамовой нитью, можно превзойти давний предел разрешения такого СЭМ, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа низкого напряжения, которые ранее были достижимы только с помощью полевых эмиссионных СЭМ.
Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).
Серия CIQTEK Climber — анализаторы удельной площади поверхности и размера пор предназначены для быстрого, точного и стабильного тестирования, поддерживают одновременное анализирование до 6 образцов, что обеспечивает совершенно новый опыт тестирования. ⪠Проверка удельной поверхности и распределения пор по размерам твердых веществ, суспензий и порошков ⪠0,0005 м2/г и выше анализ удельной площади поверхности ⪠Анализ размера пор 0,35 ~ 500 нм ⪠Тест на ставку из пяти пунктов можно пройти за 20 минут
CIQTEK CAN600 — это интеллектуальный жидкостный датчик нового поколения. спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР) , оснащенный сверхзащищенным, ультраоднородный Сверхпроводящий магнит 600 МГц , усовершенствованная распределенная архитектура системы с модульной интегрированной консолью и высокочувствительными, полностью автоматизированными настраиваемыми зондами. CAN600 отличается высокоинтегрированными приемопередающими радиочастотными каналами, что позволяет проводить эксперименты с несколькими приемниками. Его новая конструкция поддерживает быструю настройку и шиммирование, что значительно сокращает время, необходимое для настройки эксперимента. Такие аксессуары, как интеллектуальный сенсорный экран управления, расширяют возможности управления системой, позволяя пользователям контролировать состояние прибора и управлять доступом к образцам непосредственно с помощью прикосновения, что повышает гибкость экспериментов ЯМР. Объединяя высокопроизводительное оборудование с интеллектуальным программным обеспечением, CAN600 представляет собой более надежную и удобную платформу ЯМР для исследователей.
Настольный спектрометр электронного парамагнитного резонанса или электронного спинового резонанса (ЭПР, ЭПР) в X-диапазоне The CIQTEK EPR200M это недавно разработанный настольный ЭПР-спектрометр специализирующийся на качественном и количественном анализе свободные радикалы, ионы переходных металлов, легирование материалов и дефекты . Это превосходный исследовательский инструмент для мониторинга химических реакций в реальном времени, углубленной оценки свойств материалов и изучения механизмов деградации загрязняющих веществ в науке об окружающей среде. EPR200M имеет компактную конструкцию и в высокой степени интегрирует микроволновый источник, магнитное поле, зонд и главный контроллер, обеспечивая чувствительность и стабильность, а также совместимость с различными экспериментальными потребностями. Удобный интерфейс позволяет даже начинающим пользователям быстро приступить к работе, что делает прибор EPR по-настоящему простым в использовании. ★ Напишите нашим экспертам по электронной почте, чтобы получить индивидуальные решения, расценки или подробные брошюры: info@ciqtek.com
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.
Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.