CIQTEK to Exhibit Live SEM at Analytica 2026 in Munich, Germany
CIQTEK to Exhibit Live SEM at Analytica 2026 in Munich, Germany
February 11, 2026
CIQTEK is heading to Analytica 2026 with a working SEM on the show floor, giving visitors the chance to see real imaging in action while exploring our NMR and BET analytical solutions in person.
From March 24 to 27, 2026, CIQTEK will join researchers, lab professionals, and industry partners at Analytica 2026 in Munich, Germany. You can find us at Booth A2.234 at the Trade Fair Center Messe München.
Instead of just showing brochures or videos, we are bringing a real instrument. Visitors can stop by, see how the system runs, and talk directly with our team about their applications and lab needs.
• Watch real samples being imaged live • Try the SEM interface and see how easy operation can be • Talk with application specialists about imaging challenges • Explore how SEM can fit everyday lab workflows
The SEM3200 is built for routine lab use, combining stable performance with practical operation, making it a strong fit for universities, research centers, and industrial labs.
More Than Electron Microscopy
CIQTEK will also introduce visitors to our broader analytical portfolio, including:
NMR Spectrometers, supporting chemical and materials analysis for both research and teaching environments.
CIQTEK CAN600 — это интеллектуальный жидкостный диспенсер нового поколения. спектрометр ядерного магнитного резонанса (ЯМР) оснащенный сверхзащищенным ультраоднородный Сверхпроводящий магнит 600 МГц передовая распределенная системная архитектура с модульной интегрированной консолью и высокочувствительными, полностью автоматизированными настроечными зондами. CAN600 оснащен высокоинтегрированными приемопередающими радиочастотными каналами, что позволяет проводить эксперименты с несколькими приемниками. Его инновационная конструкция обеспечивает быструю настройку и выравнивание помех, значительно сокращая время, необходимое для подготовки эксперимента. Дополнительные устройства, такие как интеллектуальный сенсорный экран управления, расширяют возможности управления системой, позволяя пользователям отслеживать состояние прибора и управлять доступом к образцам непосредственно с помощью сенсорного экрана, что повышает гибкость экспериментов ЯМР. Благодаря сочетанию высокопроизводительного оборудования и интеллектуального программного обеспечения, CAN600 предоставляет исследователям более надежную и удобную платформу для ЯМР-спектроскопии.
Га + Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Оснащена колонной с фокусированным ионным пучком для наноанализа и подготовки образцов. Она использует технологию «супертуннельной» электронной оптики, низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также обладает функцией «низкое напряжение, высокое разрешение», обеспечивающей аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонки облегчают Ga + Источник ионов жидкого металла с высокостабильными и высококачественными ионными пучками, обеспечивающий возможности нанопроизводства. DB550 — это универсальная рабочая станция для наноанализа и производства нанокомпонентов со встроенным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.
Серия CIQTEK Climber — анализаторы удельной площади поверхности и размера пор предназначены для быстрого, точного и стабильного тестирования, поддерживают одновременное анализирование до 6 образцов, что обеспечивает совершенно новый опыт тестирования. ⪠Проверка удельной поверхности и распределения пор по размерам твердых веществ, суспензий и порошков ⪠0,0005 м2/г и выше анализ удельной площади поверхности ⪠Анализ размера пор 0,35 ~ 500 нм ⪠Тест на ставку из пяти пунктов можно пройти за 20 минут
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.