CIQTEK to Showcase Advanced SEM Technology and U.S. Local Support at SEMS 2026

Стабильный, универсальный, гибкий и эффективный Он CIQTEK SEM4000X является стабильным, универсальным, гибким и эффективным Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) Он обеспечивает разрешение 1,8 нм при 1,0 кВ и легко справляется с задачами получения изображений высокого разрешения для различных типов образцов. Его можно модернизировать с помощью режима сверхсильного замедления пучка для дальнейшего повышения разрешения при низком напряжении. Микроскоп использует многодетекторную технологию с встроенным электронным детектором (ЭД), способным обнаруживать сигналы SE и BSE, обеспечивая при этом высокое разрешение. Электронный детектор (ЛД), установленный в камере, включает в себя кристаллический сцинтиллятор и фотоумножители, обеспечивая более высокую чувствительность и эффективность, что приводит к получению стереоскопических изображений превосходного качества. Графический пользовательский интерфейс удобен в использовании и включает в себя функции автоматизации, такие как автоматическая регулировка яркости и контраста, автофокусировка, автостигматизация и автоматическое выравнивание, что позволяет быстро получать изображения сверхвысокого разрешения.

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM) The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Сверхвысокое разрешение Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью The CIQTEK SEM3300 Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Включает такие технологии, как "супертуннельная" электронная оптика, внутрилинзовые электронные детекторы и электростатические и электромагнитные составные объективные линзы. Применяя эти технологии к микроскопу с вольфрамовой нитью, можно превзойти давний предел разрешения такого СЭМ, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа низкого напряжения, которые ранее были достижимы только с помощью полевых эмиссионных СЭМ.