Что Вы ищете?
Популярные запросы
fesem edx

FESEM сверхвысокого разрешения | SEM5000X

Сканирующая электронная микроскопия сверхвысокого разрешения с полевой эмиссией (FESEM)

The CIQTEK SEM5000X представляет собой сверхвысокоразрешающий FESEM с оптимизированной конструкцией электронно-оптической колонны, снижающей общие аберрации на 30%, достигая сверхвысокого разрешения 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Его высокое разрешение и стабильность делают его выгодным в передовых исследованиях наноструктурных материалов, а также в разработке и производстве высокотехнологичных узловых полупроводниковых ИС-чипов.

Узнать сейчас

▶ Электронная оптика

SEM5000X Electron Optics

Модернизация объектива

Хроматическая аберрация линзы была снижена на 12%, сферическая аберрация линзы была снижена на 20%, а общая аберрация была снижена на 30%.

SEM5000X Electron Optics

Технология торможения двойным лучом

Замедление луча в линзе, применимое к образцам с большими объемами, поперечными сечениями и неровными поверхностями. Технология двойного замедления (замедление луча в линзе + тандемное замедление луча на столике образца) бросает вызов ограничениям сценариев захвата сигнала с поверхности образца.

▶ Изображения с высоким разрешением при низком напряжении

▶ Внутрилинзовый электронный детектор / образец

▶ Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)

▶ Выдвижной детектор обратно-рассеянных электронов (BSED) *Необязательный

FESEM Retractable Back-Scattered Electron Detector (BSED)

▶ Режим ECCI на основе BSED (электронно-канальная контрастная визуализация)

«Эффект каналирования электронов» означает значительное уменьшение рассеяния электронов кристаллическими решетками, когда падающий электронный пучок удовлетворяет условию дифракции Брэгга, позволяя большому количеству электронов проходить через решетку, тем самым проявляя эффект «каналирования».

Для поликристаллических материалов с однородным составом и полированными плоскими поверхностями интенсивность обратно рассеянных электронов зависит от относительной ориентации между падающим электронным пучком и кристаллическими плоскостями. Зерна с большим изменением ориентации демонстрируют более сильные сигналы, поэтому более яркие изображения, качественная характеристика с такой картой ориентации зерен достигается.

▶ Одновременная многоканальная визуализация с помощью различных детекторов

▶ Выдвижной детектор сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СТЭМ)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

>> Несколько режимов работы: Визуализация в светлом поле (BF), Визуализация в темном поле (DF), Визуализация в темном поле под большим углом (HAADF)

▶ Достижения в области электронной микроскопии CIQTEK — больше возможностей

>> Энергодисперсионная спектрометрия

>> Католическая люминесценция

>> ЭБСД

▶ Программное обеспечение для анализа частиц и пор (частицы) *Необязательный

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

Программное обеспечение микроскопа CIQTEK SEM использует различные алгоритмы обнаружения и сегментации целей, подходящие для различных типов образцов частиц и пор. Оно позволяет проводить количественный анализ статистики частиц и пор и может применяться в таких областях, как материаловедение, геология и экология.

▶ Программное обеспечение для постобработки изображений *Необязательный

SEM Microscope Image Post-processing Software

Выполняйте онлайн- и офлайн-постобработку изображений, полученных с помощью электронных микроскопов, и интегрируйте часто используемые функции обработки изображений ЭМ, удобные инструменты измерения и аннотирования.

▶ Автоматическое измерение *Необязательный

SEM Microscope software Auto Measure

Автоматическое распознавание краев ширины линии, что приводит к более точным измерениям и более высокой согласованности. Поддержка нескольких режимов обнаружения краев, таких как Line, Space, Pitch и т. д. Совместимость с несколькими форматами изображений и оснащен различными часто используемыми функциями постобработки изображений. Программное обеспечение простое в использовании, эффективное и точное.

▶ Комплект для разработки программного обеспечения (SDK) *Необязательный

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Предоставляют набор интерфейсов для управления микроскопом SEM, включая получение изображений, настройки рабочих условий, включение/выключение питания, управление столиком и т. д. Краткие определения интерфейсов позволяют быстро разрабатывать специальные сценарии и программное обеспечение для работы электронного микроскопа, обеспечивая автоматическое отслеживание интересующих областей, сбор данных промышленной автоматизации, коррекцию дрейфа изображения и другие функции. Может использоваться для разработки программного обеспечения в специализированных областях, таких как анализ диатомовых водорослей, проверка примесей в стали, анализ чистоты, контроль сырья и т. д.

▶ Автокарта *Необязательный

FESEM Microscope software Auto Measure

Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM5000X FESEM
Электронная оптика Разрешение 0,6 нм при 15 кВ, SE
1,0 нм при 1 кВ, SE
Ускоряющее напряжение 0,02 кВ ~30 кВ
Увеличение 1 ~ 2 500 000 х
Тип электронной пушки Электронная пушка с автоэмиссией Шоттки
Камера для образцов Камеры Двойные камеры (оптическая навигация + монитор камеры)
Тип сцены 5-осевой механический эвцентрический предметный столик
Диапазон сцен X=110 мм, Y=110 мм, Z=65 мм
Т: -10*~+70°, П: 360°
Детекторы и расширения SEM Стандарт Детектор в линзе
Детектор Эверхарта-Торнли (ETD)
Необязательный

Выдвижной детектор обратно-рассеянных электронов (BSED)

Выдвижной сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM)

Детектор низкого вакуума (LVD)

Энергодисперсионный спектрометр (EDS/EDX)

Картина дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD)

Загрузочный шлюз для обмена образцами (4 дюйма / 8 дюймов)

Панель управления с трекболом и ручкой

Режим Duo-Dec (Дуо-Дек)

Пользовательский интерфейс Языки Английский
Операционная система Окна
Навигация Оптическая навигация, быстрая навигация жестами, трекбол (опционально)
Автоматические функции Автоматическая яркость и контрастность, автоматическая фокусировка, автоматический стигматор

Горячие Теги : Производитель сканирующего электронного микроскопа, глобальный поставщик Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп по лучшей цене Применение сканирующего электронного микроскопа Сканирующий электронный микроскопpdf Примечания к сканирующему электронному микроскопу Детекторы SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения FE высокая производительность FE SEM FEG SEM
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Предмет : FESEM сверхвысокого разрешения | SEM5000X
Представлять на рассмотрение
сопутствующие товары
fib sem microscopy
FIB-SEM | DB550

Сканирующий электронный микроскоп с автоэмиссией и фокусированным ионным пучком Ga+ The Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) CIQTEK DB550 Имеет сфокусированную ионную колонку для наноанализа и подготовки образцов. Он использует технологию электронной оптики «супертуннель», низкую аберрацию и немагнитную конструкцию объектива, а также имеет функцию «низкое напряжение, высокое разрешение», чтобы гарантировать его аналитические возможности в наномасштабе. Ионные колонны обеспечивают источник ионов жидкого металла Ga+ с высокостабильными и высококачественными ионными пучками для обеспечения возможностей нанопроизводства. DB550 — это многофункциональная рабочая станция для наноанализа и производства с интегрированным наноманипулятором, системой впрыска газа и удобным графическим интерфейсом.

Узнать больше
field emission scanning electron microscope fe sem
FESEM | SEM4000Pro

Аналитический Шоттки Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FESEM) CIQTEK SEM4000Pro аналитическая модель FE-SEM, оснащенная высокояркой и долговечной полевой электронной пушкой Шоттки. Ее трехступенчатая конструкция электромагнитной линзы обеспечивает значительные преимущества в аналитических приложениях, таких как EDS / EDX, EBSD, WDS и т. д. Модель стандартно поставляется с режимом низкого вакуума и высокопроизводительным низковакуумным вторичным электронным детектором, а также выдвижным детектором обратно рассеянных электронов, что позволяет наблюдать за плохо проводящими или непроводящими образцами.

Узнать больше
scanning electron microscope machine
Вольфрамовая нить SEM | SEM3200

Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM3200 - это превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двойным анодом обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных принадлежностей, что делает SEM3200 универсальным аналитическим прибором с превосходной расходуемостью.

Узнать больше
sem microscope price
Истории клиентов CIQTEK SEM Микроскопы

Прочитайте CIQTEK СЭМ Микроскопы понимание потребностей клиентов и l Узнайте больше о сильных сторонах и достижениях CIQTEK как лидера отрасли SEM! Электронная почта: info@ciqtek.com

Узнать больше
Вершина

Оставить сообщение
Оставить сообщение
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Представлять на рассмотрение

Дом

Продукты

Чат

контакт