Что Вы ищете?

Популярные запросы

Blog

Блог

Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения дополнительной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации!

Дом /

Поиск

Детекторы сканирующего электронного микроскопа

Jun 13 , 2024

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — мощный инструмент для различных применений в науках о материалах, науках о жизни и других областях. Для получения дополнительной информации и улучшения характеристик СЭМ были разработаны различные виды детекторов. Ниже приведены несколько распространенных типов детекторов SEM : Детектор обратно рассеянных электронов (BSE). Детекторы BSE используются для ...

Теги : Детекторы сканирующего электронного микроскопа Сэм с edx eds сем с bse se
Посмотреть больше
В чем заключается принцип СЭМ?

Jun 17 , 2024

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) основана на принципе использования сфокусированного луча электронов высокой энергии для исследования поверхности образца и получения детального изображения с высоким разрешением. Источник электронов: SEM работает с использованием источника электронов, обычно нагретой вольфрамовой нити или автоэмиссионной пушки, для создания пучка электронов. Генерация ...

Теги : Принципы сканирующей электронной микроскопии Сканирующая электронная микроскопия работает для Сканирующая электронная микроскопия использует
Посмотреть больше
Непрерывная и импульсная ЭПР-спектроскопия

Jun 26 , 2024

Спектроскопия ЭПР (электронного парамагнитного резонанса) , также известная как спектроскопия электронного спинового резонанса (ЭПР) , представляет собой метод, используемый для изучения электронной структуры парамагнитных частиц. Существует два основных типа ЭПР-спектроскопии: ЭПР-спектроскопия непрерывной волны (CW) и импульсная ЭПР-спектроскопия . ЭПР-спектроскопия непрерывного де...

Теги : Импульсная ЭПР-спектроскопия ЭПР-спектроскопия непрерывной волны Спектроскопия непрерывного электронного парамагнитного резонанса
Посмотреть больше
Компании, производящие СЭМ-микроскопы на Ближнем Востоке

Jul 19 , 2024

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это современный научный инструмент, используемый для получения изображений и анализа образцов с высоким разрешением. В нескольких странах Ближнего Востока есть хорошо зарекомендовавшие себя научно-исследовательские институты и университеты. Саудовская Аравия, Объединенные Арабские Эмираты (ОАЭ), Турция, Египет и Ирак вкладывают значительные средства в науч...

Теги : СЭМ-микроскопы Сканирующий электронный микроскоп лучшая цена на Ближнем Востоке
Посмотреть больше
СЭМ против ТЭМ: открытие микроскопического мира

Jul 22 , 2024

В области микроскопических изображений два доминирующих метода произвели революцию в нашем понимании сложности наномира: сканирующая электронная микроскопия (SEM) и просвечивающая электронная микроскопия (TEM) . Эти мощные инструменты открыли новые возможности для различных научных дисциплин, позволяя исследователям углубляться в состав, структуру и поведение широкого спектра материалов. Мы сравни...

Теги : Сканирующий электронный микроскоп СЭМ против ТЭМ СЭМ и ТЭМ
Посмотреть больше
Значение значения g в ЭПР-спектроскопии

Jul 30 , 2024

Спектроскопия электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) — мощный экспериментальный метод изучения электронной структуры и свойств парамагнитных частиц. В ЭПР-спектроскопии значение g играет решающую роль в понимании поведения и окружения неспаренных электронов в парамагнитных системах. Цель этой статьи - предоставить обзор значений g и их значения в ЭПР-спектроскопии. 1. Понимание значени...

Теги : значение g в ЭПР-спектроскопии g-фактор в ЭПР тензор g в эпр
Посмотреть больше
Руководство по выбору подходящего детектора электронов СЭМ

Aug 08 , 2024

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) — мощный метод визуализации и анализа наноматериалов с высоким разрешением. Детекторы электронов являются важными компонентами РЭМ и отвечают за захват электронов и преобразование их в электрические сигналы. Для получения точных и надежных результатов крайне важно выбрать правильный детектор электронов. В этой статье будут обсуждаться ключевые факторы, кот...

Теги : детектор для сканирующей электронной микроскопии Сэм-детектор электронов редакторы Sem EDX
Посмотреть больше
Что такое SEM EDS EDX?

Aug 15 , 2024

Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) — это метод микроскопии, в котором используется сфокусированный электронный луч для создания детальных изображений поверхности образца. Электронный луч сканирует образец по растровой схеме, а результирующие сигналы, генерируемые взаимодействием электронного луча с поверхностью образца, обнаруживаются и используются для формирования изображения. СЭМ обеспеч...

Теги : энергодисперсионная спектроскопия Эдс Сэм edx сем.
Посмотреть больше

1 2 3

В общей сложности 3 страницы

Категории

Blog

Новый блог

Горячие Теги

Спектрометр электронного парамагнитного резонанса Детекторы сканирующего электронного микроскопа ЭПР-спектрометр Сканирующий электронный микроскоп Электронный спиновый резонанс Импульсная ЭПР-спектроскопия СЭМ-микроскопы энергодисперсионная спектроскопия

Оставить сообщение

Оставить сообщение

Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.

Дом

Продукты

Чат

контакт