CIQTEK Global Tour: Showcasing Advanced SEM Solutions at SCANDEM 2026, Denmark
CIQTEK Global Tour: Showcasing Advanced SEM Solutions at SCANDEM 2026, Denmark
March 26, 2026
[Odense, Denmark] CIQTEK is proud to announce its participation in the 77th Annual Meeting of the Nordic Microscopy Society (SCANDEM 2026), held in Odense, Denmark, from June 9 to 12.
Visit Us at Booth II.5
As a hub for precision instrumentation, Odense provides the perfect stage for CIQTEK to achieve "Academic Resonance" with top-tier Nordic institutions. By deepening our roots in the scientific ecosystems of Denmark, Sweden, and Norway, we aim to address the most demanding characterization needs and empower regional research and industrial growth through our precision measurement tools.
Expert Talk: High-Speed SEM Innovation
A highlight of CIQTEK’s participation will be a technical presentation by our Solution Manager:
Speaker: Dr. Miles Yao, Solution Manager at CIQTEK
Topic:Unlocking the Power of Unique High-Speed Scanning Electron Microscopy Solution from CIQTEK
Focus: Discover how CIQTEK’s unique high-speed SEM solutions enable large-scale, high-resolution imaging to accelerate research productivity.
Global Vision: Seamless Professional Support
CIQTEK is rapidly expanding its global service network. At SCANDEM 2026, our European team will provide direct expertise to the Nordic research community. We are committed to delivering responsive and professional support across borders—from installation to specialized application development—ensuring scientific excellence for our partners in Northern Europe.
CIQTEK SEM5000 — это сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией, обеспечивающий возможность получения изображений и анализа с высоким разрешением, поддерживаемый множеством функций, преимуществами усовершенствованной конструкции электронно-оптической колонны, технологией туннелирования электронного луча высокого давления (SuperTunnel), низкой аберрацией и отсутствием погружения. объектив, обеспечивает получение изображений с высоким разрешением при низком напряжении, магнитный образец также можно анализировать. Благодаря оптической навигации, автоматизированным функциям, тщательно разработанному пользовательскому интерфейсу взаимодействия человека с компьютером, а также оптимизированному процессу эксплуатации и использования, независимо от того, являетесь ли вы экспертом или нет, вы можете быстро приступить к работе и выполнить работу по визуализации и анализу с высоким разрешением.
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The СЭМ-микроскоп CIQTEK SEM3200 — превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с вольфрамовой нитью накала и выдающимися общими характеристиками. Уникальная конструкция электронной пушки с двумя анодами обеспечивает высокое разрешение и улучшенное соотношение сигнал/шум при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, SEM3200 предлагается с широким набором дополнительных аксессуаров, что делает его универсальным аналитическим прибором с превосходными возможностями расширения.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.