【Эксклюзивное интервью с первым автором научной статьи】Давайте использовать электронные микроскопы CIQTEK!
【Эксклюзивное интервью с первым автором научной статьи】Давайте использовать электронные микроскопы CIQTEK!
June 11, 2025
Недавно ведущий международный академический журнал «Science» опубликовал научную статью под названием «Усталость анода из лития в твердотельных батареях», написанную профессором Вэй Ло из Университета Тунцзи совместно с профессором Юньхуэй Хуаном из Университета науки и технологий Хуачжун и другими соавторами.
В этом исследовании впервые было выявлено явление усталостного разрушения литий-металлического анода в твердотельных батареях, раскрыт новый механизм усталостного разрушения и предложены новые стратегии для предотвращения усталостного разрушения и повышения производительности твердотельных батарей.
В этом исследовании команда использовала
Вольфрамовая нить SEM
от CIQTEK
для испытаний на усталость с помощью СЭМ на месте и получил отличные результаты испытаний.
Недавно первый автор этой статьи, профессор Бо Чэнь из Университета Тунцзи, был приглашен посетить CIQTEK и дал нам интервью.
Профессор Бо Чен представляет: «Наша исследовательская группа в основном сосредоточена на двух аспектах: один из них — получение изображений с помощью синхротронного рентгеновского излучения, а другой — получение изображений с помощью электронной микроскопии, как в CIQTEK. Работа всей нашей исследовательской группы вращается вокруг нано- и микроструктур материалов, особенно трехмерных нано- и микроструктур материалов. Поэтому всю нашу исследовательскую группу можно назвать исследовательской группой нано- и микроструктур материалов».
Относительно статьи, недавно опубликованной в журнале «Science», профессор Бо Чэнь заявил: «В статье рассматривается явление, которое ранее не рассматривалось подробно, а именно усталость металлического лития. Раньше все считали, что это электрохимическая усталость, возникающая во время процессов зарядки и разрядки, но на самом деле во время этих процессов проявляется и механическая усталость».
«Основное открытие этого исследования заключается в том, что литий проявляет не только электрохимическую усталость во время зарядки и разрядки, но и механическую усталость, проявляющуюся во время этих процессов, которые в совокупности являются основными причинами разрушения литиевого металла твердотельных батарей. В статье также предполагается, что путем легирования лития для улучшения его физических свойств можно увеличить срок службы твердотельных батарей. Это новаторское открытие, и оно весьма интригует».
При разработке экспериментов команда наблюдала оба типа усталости, устанавливая усталостные устройства на электронный микроскоп. Поскольку у исследовательской группы был только один электронный микроскоп, для всестороннего наблюдения они использовали in-situ растяжение, разработанное профессором Цзисюэ Ли в Hangzhou Yuanwei Technology Company. Профессор Бо Чэнь сказал: «С помощью профессора Ли мы совместно создали устройство для испытания на усталость растяжения. Эксперимент по механической усталости металлического лития был проведен профессором Ли с использованием электронного микроскопа от CIQTEK для испытания на растяжение in-situ».
Когда его спросили о его взглядах на
Электронные микроскопы CIQTEK
Профессор Бо Чэнь был очень откровенен и искренен: «Для нас единственным требованием является то, чтобы оборудование работало хорошо».
Как исследователь, который любит практические исследования, профессор Бо Чен также поделился некоторыми личными идеями об использовании инструментов CIQTEK. Он упомянул, что когда инструмент предлагает и качество, и экономическую эффективность, это значительно повышает интерес исследователей к работе с машиной, снижает чувство отчуждения по отношению к дорогим инструментам и побуждает исследователей использовать машину более эффективно, тем самым высвобождая больше исследовательского творчества.
Заканчивая словами профессора Бо Чена,
CIQTEK
будем продолжать придерживаться лозунга: Успешные клиенты, успешные компаньоны!
Сверхвысокое разрешение Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью The CIQTEK SEM3300 Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Включает такие технологии, как "супертуннельная" электронная оптика, внутрилинзовые электронные детекторы и электростатические и электромагнитные составные объективные линзы. Применяя эти технологии к микроскопу с вольфрамовой нитью, можно превзойти давний предел разрешения такого СЭМ, что позволяет СЭМ с вольфрамовой нитью выполнять задачи анализа низкого напряжения, которые ранее были достижимы только с помощью полевых эмиссионных СЭМ.
Высокоскоростной Полностью автоматизированная полевая эмиссия Сканирующий электронный микроскоп Рабочая станция CIQTEK HEM6000 В оборудовании используются такие технологии, как сверхъяркая электронная пушка с большим током пучка, высокоскоростная система отклонения электронного пучка, высоковольтное торможение предметного столика, динамическая оптическая ось и иммерсионный электромагнитный и электростатический комбинированный объектив, позволяющие достигать высокоскоростного получения изображений, обеспечивая при этом разрешение в наномасштабе. Автоматизированный рабочий процесс предназначен для таких приложений, как более эффективный и интеллектуальный рабочий процесс получения изображений большой площади с высоким разрешением. Скорость получения изображений более чем в пять раз выше, чем у обычного сканирующего электронного микроскопа с полевой эмиссией (FESEM).
Простота использования Компактная вольфрамовая нить Сканирующий электронный микроскоп The Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM2100 отличается упрощенным рабочим процессом и соответствует отраслевым стандартам и привычкам пользователя в дизайне «Пользовательского интерфейса». Несмотря на минималистский программный интерфейс, он предоставляет комплексные автоматизированные функции, инструменты измерения и аннотирования, возможности управления постобработкой изображений, оптическую навигацию по изображениям и многое другое. Дизайн SEM2100 идеально реализует идею «Простота без ущерба для функциональности».
Высокопроизводительный и универсальный СЭМ с вольфрамовой нитью Микроскоп The Микроскоп сканирующего электронного микроскопа CIQTEK SEM3200 - это превосходный универсальный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью (СЭМ) с выдающимися общими возможностями. Его уникальная структура электронной пушки с двойным анодом обеспечивает высокое разрешение и улучшает соотношение сигнал/шум изображения при низких напряжениях возбуждения. Кроме того, он предлагает широкий спектр дополнительных принадлежностей, что делает SEM3200 универсальным аналитическим прибором с превосходной расходуемостью.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.