Новости и события

CIQTEK продолжает расширять свое присутствие в Европе с созданием Демо-станция SEM в Испании , управляемый надежным местным дистрибьютором ИЕСМАТ . Расположенная в Мадриде, демонстрационная станция оснащена Высокопроизводительный и универсальный СЭМ-микроскоп CIQTEK с вольфрамовой нитью SEM3200 , предоставляя испанским пользователям удобный доступ к демонстрациям в режиме реального времени, тестированию образцов и практическим занятиям. Центр также предлагает профессиональные услуги Обслуживание на испанском языке и технические консультации , помогая местным клиентам лучше понимать и применять передовые технологии электронной микроскопии CIQTEK. После установки CIQTEK SEM3200 компания IESMAT активно организовала серию семинары и мастер-классы в течение 2025 года , которые обычно проводятся раз в один-два месяца. Эти мероприятия приглашают исследователей и специалистов из академических кругов и промышленности изучить эффективность и преимущества Сканирующие электронные микроскопы CIQTEK через практические занятия и интерактивные обучающие мероприятия . Семинар IESMAT SEM в январе 2025 г. Семинар IESMAT SEM в феврале 2025 г. Последний семинар IESMAT по SEM в сентябре 2025 г. Следующее событие, IESMAT Электронная микроскопия, день II , состоится 6 ноября 2025 г., Мадрид Участникам будут предложены следующие возможности: Электронная микроскопия в режиме реального времени с CIQTEK SEM3200 Передовая аналитика с использованием EDS и EBSD Взгляд на текущие тенденции и будущие направления электронной микроскопии в Испании The Демонстрационная станция SEM в IESMAT знаменует собой важную веху в истории CIQTEK Европейская стратегия развития . CIQTEK расширяет доступ к передовым тех�

На этой неделе, CIQTEK был рад приветствовать команду нашего корейского дистрибьютора GSEM на Завод электронных микроскопов CIQTEK В Уси, Китай. В поездке приняли участие сотрудники отделов продаж, внедрения и обслуживания, которые приняли участие в серии интенсивных и профессиональных обучающих занятий, посвященных эксплуатации и обслуживанию электронных микроскопов. Завод CIQTEK по производству электронных микроскопов является специализированным производственным и учебным центром компании, специализирующимся на системах электронной микроскопии. Оснащённый передовыми производственными мощностями, прецизионными сборочными линиями и демонстрационными лабораториями, завод объединяет НИОКР, производство, контроль качества и обучение пользователей для обеспечения высокой производительности и надёжности. CIQTEK SEM , FIB-SEM , и ТЭМ линейки продуктов. Обучение проводил г-н Гао, руководитель отдела решений для электронной микроскопии CIQTEK, совместно со старшими инженерами отдела электронной микроскопии CIQTEK. В ходе программы участники получили систематическое обучение по ключевым процедурам, таким как прогрев ионного насоса, контроль положения апертуры, центрирование филамента, отработка навыков получения изображений высокого разрешения, а также установка и калибровка дополнительных устройств. В течение недели команда GSEM тесно сотрудничала с инженерами CIQTEK, чтобы получить как теоретические, так и практические знания о технологии электронной микроскопии CIQTEK. Занятия были разработаны таким образом, чтобы инженеры по продажам и сервисному обслуживанию GSEM обладали всеми необходимыми техническими знаниями для поддер�

CIQTEK достигла глобальной вехи, завершив первый в мире Модернизация ЭПР-спектрометра проект в Лондонском университете королевы Марии. Успешная модернизация демонстрирует высокий уровень технической экспертизы CIQTEK и его стремление предоставлять эффективные и высококачественные услуги исследователям по всему миру. Проект был реализован в Лондонский университет королевы Марии , в пределах Факультет физико-химических наук , где исследовательская группа ЭПР долгое время использовала устаревший ЭПР-спектрометр. Со временем их система перестала отвечать требованиям современных исследований магнитного резонанса. Столкнувшись с этой проблемой, группа искала надежный и эффективный способ расширить возможности ЭПР без полной замены имеющегося прибора. Узнав о Комплексная и передовая в отрасли услуга модернизации EPR от CIQTEK После подробного обсуждения с командой CIQTEK EPR исследователи нашли идеальное решение. Подход CIQTEK к модернизации обеспечивает экономически эффективный способ продления срока службы существующих приборов EPR и значительного повышения производительности за счет модернизации оборудования, оптимизированных систем управления и расширенных функций, таких как ЭПР непрерывной волны (CW) . Команда EPR готовит отправку В октябре 2025 года специалисты CIQTEK по установке и обучению предоставили комплексное обслуживание, включающее доставку и настройку на месте, а также профессиональное обучение пользователей. Модернизация была завершена эффективно, что позволило группе EPR Университета королевы Марии продолжить исследования с обновлённой высокопроизводительной системой. Команды EPR CIQTEK и Университета королевы Марии Доктор Лю, руководитель исследовательской группы ЭПР, поделился своими отзывами после завершения проекта: Это сотрудничество значительно превзошло наши ожидания. Эффективность обслуживания была превосходной, обучение — тщательным и хорошо организованным, и мы очень довольны результатами тестирования. Мы с нетерпением ждем возможности снова сотрудничать с CIQTEK в будущем. Его комментарии прекрасно отражают Принципы обслуживания CIQTEK: «Качественный сервис. Надёжный партнёр». Мы также хотели бы выразить нашу искреннюю благодарность нашим Британскому партнёру SciMed за ценную поддержку на местном уровне и координацию на протяжении всего проекта. Их сотрудничество обеспечивало бесперебойную коммуникацию и своевременное выполнение проекта на каждом этапе. О службе модернизации EPR CIQTEK Услуга модернизации и обновления CIQTEK EPR Возвращает существующим пользователям ЭПР-спектроскопов вторую жизнь своим приборам. Заменив устаревшие модули управления и детектирования на передовые технологии CIQTEK, исследователи могут наслаждаться повышенной стабильностью, чувствительностью и пользовательским интерфейсом, сопоставимыми со спектрометрами нового поколения, сохраняя при этом исходную системную платформу. Сервис поддерживает как непрерывные, так и импульсные конфигурации ЭПР-спектроскопии и совместим с широким спектром устаревших ...

CIQTEK сделала еще один важный шаг вперед в Европе с установкой Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE-SEM) SEM4000Pro в Демонстрационный шоурум SYNERGIE4 в Франция . Новая установка позволяет исследователям и промышленным пользователям в Европе испытать визуализация высокого разрешения, аналитическая производительность и простота эксплуатации Система CIQTEK SEM4000Pro обеспечивает превосходное качество изображений для точного микроструктурного исследования и подходит для широкого спектра применений в материаловедении, микроэлектронике и научно-исследовательских и опытно-конструкторских работах. SYNERGIE4 — французский дистрибьютор и поставщик услуг CIQTEK в области передовых решений для микроскопии и микроанализа. Обладая обширным опытом в области электронной микроскопии и аналитических приборов, SYNERGIE4 оказывает поддержку университетам, исследовательским институтам и промышленным лабораториям по всей Франции, предлагая индивидуальные решения, техническую экспертизу и обучение. Теперь в демонстрационном центре SYNERGIE4 представлен полностью работоспособный CIQTEK SEM4000Pro, предлагающий посетителям практические демонстрации его возможностей визуализации, интуитивно понятного программного интерфейса и универсальности в различных областях исследований. «Наличие CIQTEK SEM4000Pro в нашем выставочном зале позволяет нам демонстрировать его возможности визуализации непосредственно нашим клиентам», — заявил представитель SYNERGIE4. «Это отличное дополнение к нашим демонстрационным возможностям и важный шаг в расширении нашего портфолио микроскопов». Благодаря тому, что SEM4000Pro теперь доступен во Франции, европейские поль

По мере того, как производство полупроводников переходит к более тонким технологическим узлам, анализ дефектов на уровне пластины, определение местоположения неисправностей и микро-наноизготовление стали ключевыми факторами повышения выхода годных изделий. CIQTEK представляет Решение для двухлучевой обработки полноразмерных пластин диаметром 8 дюймов , объединяя визуализацию высокого разрешения и точную обработку ионным пучком для достижения «наблюдения-анализа-резки» по всей пластине, обеспечивая мощную техническую поддержку для современных полупроводниковых процессов. Это решение оснащено 150-миллиметровым высокоточным столиком для образцов с большим ходом, что позволяет проводить неразрушающее исследование и обработку 8-дюймовых пластин. Внешняя оптическая система навигации и интеллектуальные алгоритмы предотвращения столкновений обеспечивают быстрое и точное позиционирование пластин и безопасную работу. Система оснащена электронной пушкой с полевой эмиссией Шоттки с разрешением 0,9 нм при 15 кВ и разрешением ионного пучка 3 нм при 30 кВ, что позволяет обнаруживать дефекты, поперечную резку и создавать микроструктуры в наномасштабе. Основные преимущества: 150-мм подвижный столик: Сочетает в себе большой запас хода и высокую точность для широкого диапазона наблюдений. Отличная совместимость с приборами разных размеров. Прочная конструкция обеспечивает устойчивость пластин и быструю, надежную загрузку. 8-дюймовая быстрая замена: Интеллектуальная несущая конструкция со скользящим основанием для устойчивости и долговечности. Полноразмерная совместимость: поддерживает пластины размером 2/4/6/8 дюймо

В науках о жизни достижение высокой точности и масштабного трехмерного структурного и динамического анализа биологических образцов, таких как клетки и ткани, стало ключом к преодолению узких мест в исследованиях. CIQTEK ввел многотехнологический маршрут Объемная электронная микроскопия (ВЭМ) решение, интегрирующее SS-SEM, SBF-SEM и FIB-SEM . Это обеспечивает универсальную, высокопроизводительную и интеллектуальную платформу для биологической 3D-реконструкции, помогая исследователям раскрывать тайны жизни на микроуровне. Три продвинутых технических маршрута 01. Высокоскоростная съемка SS-SEM Объединив внешнее последовательное секционирование с CIQTEK высокоскоростной СЭМ HEM6000-Bio Это решение обеспечивает быструю визуализацию и автоматизированный сбор данных для больших объемов образцов. Эффективность сбора данных более чем в 5 раз выше, чем у обычного СЭМ, что обеспечивает круглосуточную автономную высокопроизводительную работу. 02. SBF-SEM разрезание на месте На основе CIQTEK сверхвысокое разрешение SEM5000X Благодаря встроенному микротому этот подход позволяет осуществлять циклы срезов и визуализации in situ. Он обеспечивает простоту эксплуатации, высокую автоматизацию и эффективно предотвращает загрязнение поверхности. 03. FIB-SEM Высокоточный анализ Используя двухлучевые системы с фокусированным ионно-электронным пучком, этот метод обеспечивает наномасштабное разрешение по оси Z для анализа тонких структур, таких как органеллы и мембраны. Он позволяет проводить трёхмерную реконструкцию in situ без физического среза. Интеллектуальная интеграция и широкие возможности применения Решение CIQTEK VEM глубоко интегрируется Алгоритмы ИИ и м

Исследования микроскопического поведения материалов вступают в новую эру многосценарное сопряжение и динамическая характеристика на месте . CIQTEK запустил инновационный Решение для проведения механических испытаний на месте , разработанный с учетом исключительной открытости и совместимости. Он обеспечивает полную интеграцию всего спектра решений CIQTEK. электронные микроскопы с основными устройствами для проведения испытаний на месте, обеспечивая гибкую и эффективную платформу для сопряженного анализа в различных исследовательских сценариях. Решение преодолевает ограничения закрытых систем и объединяет все критически важные элементы, необходимые для in-situ ЭМ адаптивность, включающая: Ток высокого луча : >100 нА, идеально подходит для быстрого анализа EDS/EBSD Большое пространство : 360 × 310 × 288 мм (Д × Ш × В) Высокая грузоподъемность : 5 кг (до 10 кг с индивидуальными креплениями) Многоракурсные ПЗС-матрицы : обеспечение безопасности системы во время эксплуатации на месте Несколько интерфейсов : поддержка индивидуальных фланцевых аксессуаров Предварительное принятие : полная отладка аксессуаров перед поставкой, гарантирующая полную функциональность без проблем с установкой на месте Решение может быть настроено по всему миру. Полный ассортимент продукции CIQTEK для электронной микроскопии , включая CIQTEK СЕМ3200 , SEM5000X , Двухлучевые системы DB550 и многое другое. Кроме того, он обеспечивает полную совместимость с испытательными столами для испытаний на растяжение, нагревательными столами, наноинденторами и электрохимическими рабочими станциями от ведущих мировых поставщиков. Эта открытая архитектура позволяет исследов�

Четырехмерная сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (4D-STEM) — одно из самых передовых направлений электронной микроскопии. Выполняя двумерное сканирование поверхности образца и регистрируя полную дифракционную картину в каждой точке сканирования с помощью пиксельного детектора, 4D-STEM генерирует четырёхмерный набор данных, содержащий информацию как в реальном, так и в обратном пространстве. Этот метод преодолевает ограничения традиционной электронной микроскопии, которая обычно регистрирует лишь один сигнал рассеяния. Вместо этого он фиксирует и анализирует весь спектр взаимодействий электронов с образцом. С помощью 4D-СТЭМ исследователи могут реализовать множество расширенных функций в рамках одного эксперимента, включая виртуальную визуализацию, картирование ориентации кристаллов и деформаций, анализ распределения электрического и магнитного полей (дифференциальный фазовый контраст) и даже реконструкцию с атомным разрешением посредством дифракционного стекинга. Он значительно расширяет размерность и глубину характеризации материалов, предлагая беспрецедентный инструмент для нанонауки и материаловедения. На Китайской национальной конференции по электронной микроскопии 2025 года (26–30 сентября, Ухань) CIQTEK выпускает свой Решение 4D-STEM , призванный выйти за рамки традиционной визуализации и предоставить данные с непревзойденной размерностью и аналитической мощностью. Системный рабочий процесс The Решение CIQTEK 4D-STEM функции высокое пространственное разрешение, многомерный анализ, низкодозная работа для минимизации повреждения луча и гибкой обработки данных , предоставляя исследоват�