Новости и события

В науках о жизни достижение высокой точности и масштабного трехмерного структурного и динамического анализа биологических образцов, таких как клетки и ткани, стало ключом к преодолению узких мест в исследованиях. CIQTEK ввел многотехнологический маршрут Объемная электронная микроскопия (ВЭМ) решение, интегрирующее SS-SEM, SBF-SEM и FIB-SEM . Это обеспечивает универсальную, высокопроизводительную и интеллектуальную платформу для биологической 3D-реконструкции, помогая исследователям раскрывать тайны жизни на микроуровне. Три продвинутых технических маршрута 01. Высокоскоростная съемка SS-SEM Объединив внешнее последовательное секционирование с CIQTEK высокоскоростной СЭМ HEM6000-Bio Это решение обеспечивает быструю визуализацию и автоматизированный сбор данных для больших объемов образцов. Эффективность сбора данных более чем в 5 раз выше, чем у обычного СЭМ, что обеспечивает круглосуточную автономную высокопроизводительную работу. 02. SBF-SEM разрезание на месте На основе CIQTEK сверхвысокое разрешение SEM5000X Благодаря встроенному микротому этот подход позволяет осуществлять циклы срезов и визуализации in situ. Он обеспечивает простоту эксплуатации, высокую автоматизацию и эффективно предотвращает загрязнение поверхности. 03. FIB-SEM Высокоточный анализ Используя двухлучевые системы с фокусированным ионно-электронным пучком, этот метод обеспечивает наномасштабное разрешение по оси Z для анализа тонких структур, таких как органеллы и мембраны. Он позволяет проводить трёхмерную реконструкцию in situ без физического среза. Интеллектуальная интеграция и широкие возможности применения Решение CIQTEK VEM глубоко интегрируется Алгоритмы ИИ и м

Исследования микроскопического поведения материалов вступают в новую эру многосценарное сопряжение и динамическая характеристика на месте . CIQTEK запустил инновационный Решение для проведения механических испытаний на месте , разработанный с учетом исключительной открытости и совместимости. Он обеспечивает полную интеграцию всего спектра решений CIQTEK. электронные микроскопы с основными устройствами для проведения испытаний на месте, обеспечивая гибкую и эффективную платформу для сопряженного анализа в различных исследовательских сценариях. Решение преодолевает ограничения закрытых систем и объединяет все критически важные элементы, необходимые для in-situ ЭМ адаптивность, включающая: Ток высокого луча : >100 нА, идеально подходит для быстрого анализа EDS/EBSD Большое пространство : 360 × 310 × 288 мм (Д × Ш × В) Высокая грузоподъемность : 5 кг (до 10 кг с индивидуальными креплениями) Многоракурсные ПЗС-матрицы : обеспечение безопасности системы во время эксплуатации на месте Несколько интерфейсов : поддержка индивидуальных фланцевых аксессуаров Предварительное принятие : полная отладка аксессуаров перед поставкой, гарантирующая полную функциональность без проблем с установкой на месте Решение может быть настроено по всему миру. Полный ассортимент продукции CIQTEK для электронной микроскопии , включая CIQTEK СЕМ3200 , SEM5000X , Двухлучевые системы DB550 и многое другое. Кроме того, он обеспечивает полную совместимость с испытательными столами для испытаний на растяжение, нагревательными столами, наноинденторами и электрохимическими рабочими станциями от ведущих мировых поставщиков. Эта открытая архитектура позволяет исследов�

Четырехмерная сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (4D-STEM) — одно из самых передовых направлений электронной микроскопии. Выполняя двумерное сканирование поверхности образца и регистрируя полную дифракционную картину в каждой точке сканирования с помощью пиксельного детектора, 4D-STEM генерирует четырёхмерный набор данных, содержащий информацию как в реальном, так и в обратном пространстве. Этот метод преодолевает ограничения традиционной электронной микроскопии, которая обычно регистрирует лишь один сигнал рассеяния. Вместо этого он фиксирует и анализирует весь спектр взаимодействий электронов с образцом. С помощью 4D-СТЭМ исследователи могут реализовать множество расширенных функций в рамках одного эксперимента, включая виртуальную визуализацию, картирование ориентации кристаллов и деформаций, анализ распределения электрического и магнитного полей (дифференциальный фазовый контраст) и даже реконструкцию с атомным разрешением посредством дифракционного стекинга. Он значительно расширяет размерность и глубину характеризации материалов, предлагая беспрецедентный инструмент для нанонауки и материаловедения. На Китайской национальной конференции по электронной микроскопии 2025 года (26–30 сентября, Ухань) CIQTEK выпускает свой Решение 4D-STEM , призванный выйти за рамки традиционной визуализации и предоставить данные с непревзойденной размерностью и аналитической мощностью. Системный рабочий процесс The Решение CIQTEK 4D-STEM функции высокое пространственное разрешение, многомерный анализ, низкодозная работа для минимизации повреждения луча и гибкой обработки данных , предоставляя исследоват�

В области исследования характеристик высокотемпературных материалов и анализа механизмов фазовых переходов традиционные методы внешнего нагрева часто не в состоянии объединить точный контроль температуры микрообластей с наблюдением в реальном времени. CIQTEK В сотрудничестве с Центром микронанотехнологий Китайского университета науки и технологий была разработана инновационная решение для нагрева на месте Благодаря интеграции нагревательных микросхем МЭМС с двухлучевыми электронными микроскопами это решение обеспечивает точный контроль температуры (от комнатной температуры до 1100 °C) и микродинамический анализ образцов, предлагая новый инструмент для изучения поведения материалов в условиях высоких температур. Это решение использует то Двухлучевой СЭМ CIQTEK и специализированные нагревательные микросхемы MEMS Система обеспечивает точность контроля температуры более 0,1°C и разрешение по температуре более 0,1°C. Система также отличается превосходной равномерностью температуры и низким уровнем инфракрасного излучения, что обеспечивает стабильный анализ при высоких температурах. Система поддерживает различные методы характеризации в процессе нагрева, включая наблюдение за морфологией микрообластей, анализ ориентации кристаллов методом EBSD и анализ состава методом EDS. Это позволяет получить полное представление о фазовых переходах, эволюции напряжений и миграции состава под воздействием тепла. Система работает без нарушения вакуума, полностью выполняя требования процесса подготовки и характеризации образцов (микрообласть EBSD in-situ). Интегрированная конструкция рабочего процесса охватывает весь про

CIQTEK представила свое следующее поколение 12-дюймовая пластина сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) решение , разработанное для удовлетворения требований современных процессов производства полупроводников. Это инновационное решение обеспечивает полную инспекцию пластины без необходимости вращения или наклона, обеспечивая неразрушающий анализ с высоким разрешением для поддержки разработки критически важных технологических процессов. Оснащен сверхбольшая сцена для путешествий (X/Y ≥ 300 мм) система обеспечивает полное покрытие 12-дюймовых пластин, устраняя необходимость в вырезании или переносе образцов. Это гарантирует точное наблюдение «исходного размера, исходного положения». Благодаря Электронная пушка с полевой эмиссией Шоттки , он достигает разрешения 1,0 нм при 15 кВ и 1,5 нм при 1 кВ, что сводит к минимуму повреждения от электронного пучка, что делает его идеальным для чувствительных материалов и конструкций. Ключевые особенности включать: Сверхбольшая сцена для путешествий (X/Y > 300 мм) для контроля всей пластины Изображения высокого разрешения : 1,0 нм при 15 кВ и 1,5 нм при 1 кВ Автоматизированная загрузка и оптическая навигационная система для быстрой замены пластин и точного позиционирования Интеллектуальное программное обеспечение для автофокусировки, коррекции астигматизма и вывода изображений в нескольких форматах 12-дюймовый СЭМ-анализатор CIQTEK для инспекции пластин — это больше, чем просто инструмент наблюдения; это важнейший прибор, позволяющий повысить выход продукции и уменьшить размеры узлов в производстве полупроводников. 26–30 сентября, Ухань CIQTEK представит восемь передовых решений в об�

В области наук о жизни, биомедицины, контроля качества пищевых продуктов и исследований мягких материалов получение изображений высокого разрешения гидратированных и чувствительных к пучку образцов всегда представляло собой сложную задачу. Традиционные методы подготовки образцов, такие как химическая фиксация, дегидратация и сушка, часто приводят к усадке, деформации или структурным повреждениям, что приводит к результатам, отклоняющимся от истинного состояния образца. Используя свои передовые сканирующая электронная микроскопия технологии, CIQTEK представил Решение для крио-СЭМ , которая объединяет низкотемпературную заморозку и вакуумный перенос. Это позволяет проводить in situ неразрушающее и высокоточное микроскопическое наблюдение за биологическими и чувствительными образцами, по-настоящему «замораживая» микроскопические детали жизни. Благодаря технологии быстрого замораживания в жидком азоте образцы могут быть мгновенно витрифицированы при температуре -210 °C, максимально сохраняя их исходную морфологию и химический состав. Интегрированная система криоподготовки сочетает в себе замораживание-разрушение, сублимационное нанесение покрытия и низкотемпературный перенос, что позволяет избежать сложностей и потенциальных ошибок, характерных для традиционной ручной подготовки. На протяжении всего процесса образцы находятся в условиях криогенного вакуума и переносятся на крио-столик СЭМ, где визуализация высокого разрешения при температуре -180 °C эффективно предотвращает повреждение электронным пучком и значительно улучшает качество изображения. Криопрепарированный лист самшита с неповрежде

CIQTEK с радостью сообщает об успешной установке и обучении FIBSEM DB550 в нашем Корейский дистрибьютор Центр электронной микроскопии GSEM Эта веха знаменует собой важный шаг в расширении доступа к передовым технологиям. технология сканирующего электронного микроскопа с фокусированным ионным лучом (FIBSEM) в Южной Корее. Система DB550 сочетает в себе визуализацию высокого разрешения с точным ионно-лучевым травлением, позволяя исследователям эффективно и точно проводить 3D-реконструкцию, анализ поперечных сечений и модификацию материалов в наномасштабе. Благодаря этим возможностям система открывает новые возможности для анализа полупроводников, материаловедения и исследований в области естественных наук. После установки инженеры CIQTEK провели практическое обучение для команды GSEM, охватывающее как стандартные рабочие процессы, так и сложные приложения. Интерактивные занятия позволили пользователям получить практический опыт работы с прибором, от подготовки образцов до получения изображений высокого разрешения и анализа данных. Энтузиазм и вовлеченность команды GSEM продемонстрировали высокий потенциал DB550 для поддержки различных исследовательских проектов в центре. Это сотрудничество отражает стремление CIQTEK к тесному сотрудничеству с партнёрами по всему миру. Оснащая центр GSEM системой DB550, мы не только укрепляем своё присутствие на корейском рынке, но и помогаем местным исследователям получить доступ к передовым инструментам для научных инноваций. Мы с нетерпением ждем захватывающих результатов, которых Центр электронной микроскопии GSEM достигнет с помощью DB550, и мы по-прежнему привержены оказанию постоянной тех�

В июне 2025 года CIQTEK успешно доставили два передовых сканирующие электронные микроскопы к его дистрибьютор в США , JH Technologies, Фремонт, Калифорния. Системы включают в себя SEM3300 Вольфрамовая нить SEM и SEM5000X Сверхвысокое разрешение полевой эмиссии СЭМ , что ознаменовало собой значительный шаг в стратегическом расширении CIQTEK на рынок Североамериканский рынок электронной микроскопии . Для поддержки внедрения инженерная команда CIQTEK провела комплексное обучение на месте для команды JH Technologies. Оно включало в себя подробное описание работы системы, демонстрации приложений и технические обсуждения, адаптированные к реальным сценариям использования. Это сотрудничество расширило возможности команды JH по демонстрации и поддержке инструментов CIQTEK. После доставки компания JH Technologies успешно провела День открытых дверей На предприятии во Фримонте прошли демонстрации обеих систем в режиме реального времени. Мероприятие привлекло большое количество участников из числа учёных и специалистов отрасли, вызвав значительный интерес и положительные отзывы. Воодушевлённая успехом, компания JH Technologies планирует в ближайшее время организовать ещё больше дней открытых дверей для дальнейшего продвижения передовых решений CIQTEK в области визуализации. Проверенная технология визуализации для требовательных приложений The СЕМ3300 Сочетает в себе традиционный источник с вольфрамовой нитью накала и современную оптику, обеспечивая высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях. Это мощное и в то же время доступное решение для рутинного анализа и исследований. The SEM5000X Обеспечивает сверхвысокое разрешение изображений и расширенные функ