В современном мире быстро развивающихся технологий научные прорывы во многом зависят от нашей способности визуализировать и понимать материалы в мельчайших масштабах. Одним из таких инструментов, имеющим большое значение, является сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссией (FE SEM), а CIQTEK SEM5000 выделяется своими превосходными возможностями визуализации и универсальностью. В этом соо...
В области аналитического приборостроения важную роль играют как спектрометры электронного спинового резонанса (ЭПР), так и спектрометры ядерного магнитного резонанса (ЯМР) . Хотя они используют схожие принципы, между этими двумя методами существуют существенные различия. ЭПР-спектрометр: Спектрометры электронного спинового резонанса (ЭПР) используются для изучения поведения неспаренных электроно...
Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) — это высокотехнологичные и сложные научные инструменты, которые обеспечивают получение изображений с высоким разрешением и анализ образцов на наноуровне. В Европе есть несколько известных брендов сканирующих электронных микроскопов , которые предлагают самые современные СЭМ. Вот несколько известных брендов: Компания FEI (Thermo Fisher Scientific): Компан...
ЭПР (электронный спиновый резонанс) и ЭПР (электронный парамагнитный резонанс) используются как синонимы для описания одного и того же спектроскопического метода. Причина двух разных названий кроется в историческом развитии этой области и некоторых интересных историях, связанных с ней. Первоначально этот метод назывался ЭПР или электронно-спиновым резонансом . Его открыли в середине 20 века физи...
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — мощный инструмент для различных применений в науках о материалах, науках о жизни и других областях. Для получения дополнительной информации и улучшения характеристик СЭМ были разработаны различные виды детекторов. Ниже приведены несколько распространенных типов детекторов SEM : Детектор обратно рассеянных электронов (BSE). Детекторы BSE используются для ...
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) основана на принципе использования сфокусированного луча электронов высокой энергии для исследования поверхности образца и получения детального изображения с высоким разрешением. Источник электронов: SEM работает с использованием источника электронов, обычно нагретой вольфрамовой нити или автоэмиссионной пушки, для создания пучка электронов. Генерация ...
Чувствительность спектроскопического метода означает его способность обнаруживать и анализировать сигналы образца. В случае электронного парамагнитного резонанса (ЭПР или ЭПР) и ядерного магнитного резонанса (ЯМР) ЭПР обычно считается более чувствительным, чем ЯМР, по нескольким причинам: 1. Принцип обнаружения ЭПР обнаруживает сигналы от неспаренных электронов, а ЯМР обнаруживает сигналы о...
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) — это современный научный инструмент, используемый для получения изображений и анализа образцов с высоким разрешением. В нескольких странах Ближнего Востока есть хорошо зарекомендовавшие себя научно-исследовательские институты и университеты. Саудовская Аравия, Объединенные Арабские Эмираты (ОАЭ), Турция, Египет и Ирак вкладывают значительные средства в науч...
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.
Пожалуйста, не стесняйтесь обращаться к нам для получения более подробной информации, запроса ценового предложения или заказа онлайн-демонстрации! Мы ответим вам, как только сможем.