Новости и события

  Компания CIQTEK  объявила об успешной установке SEM3200 , высокопроизводительного сканирующего электронного микроскопа с вольфрамовой нитью , в престижной лаборатории Университета Монтеррея . Эта передовая система визуализации призвана совершить революцию в исследованиях в области анализа характеристик и способствовать прорывам в различных научных дисциплинах.     Главный исследователь лаборатории Университета Монтеррея выразил свое восхищение новой установкой SEM3200 , заявив: «Добавление этого передового сканирующего электронного микроскопа значительно расширит наши исследовательские возможности . позволят нам получить бесценную информацию о микроскопических изображениях и анализе. Мы ожидаем, что этот инструмент сыграет ключевую роль в открытии в нашей области».    

CIQTEK , ведущий поставщик передовых научных инструментов, объявляет об успешном завершении комплексной программы обучения, ориентированной на эксплуатацию и применение новейших сканирующих электронных микроскопов серии S (SEM) в GSEM KOREA . Обучение проходило в Центре приложений CIQTEK с 7 по 8 августа и было направлено на повышение квалификации агентов в области визуализации высокого разрешения для различных научных дисциплин, предоставляя ценную информацию о расширенных функциях и возможностях .    В программе приняла участие команда опытных инструкторов и технических экспертов из CIQTEK , которые познакомили участников с тонкостями операций SEM . Участники получили представление о методах подготовки проб, оптимизации параметров визуализации и методологиях анализа данных для получения высококачественных изображений и точного извлечения ценной информации из образцов. Доктор Лиза, старший научный сотрудник CIQTEK , выразила свой энтузиазм по поводу успешного сотрудничества с GSEM KOREA , заявив: «Мы очень рады сотрудничеству с GSEM KOREA для реализации этой комплексной программы обучения. И посредством этого обучения мы стремились вооружить исследователей обладая необходимыми навыками для эффективного использования этих инструментов».   CIQTEK стремится продвигать научные достижения и предоставлять исследователям передовые технологии. Организуя учебные программы и сотрудничая с ведущими компаниями, такими как GSEM KOREA , CIQTEK продолжает способствовать обмену знаниями и стимулировать инновации в научных исследованиях.

Международная конференция по магнитному резонансу в биологических системах (ICMRBS 2024)     Мы с большим удовольствием приглашаем вас на 30-ю Международную конференцию по магнитному резонансу в биологических системах (ICMRBS 2024), которую планируется провести с 18 (воскресенье) по 23 (пятница) августа 2024 года в Сеуле, Корея.   ICMRBS 2024 станет идеальной платформой, где мы сможем свободно делиться и обсуждать текущее состояние и будущие направления научных и технологических достижений в области магнитного резонанса.   EPR может так много предложить и так многому научиться, и мы стремимся, чтобы эта конференция стала местом, где происходят эти беседы!   Встретьтесь с нами на стенде 22~26.  Дата:  18 августа  – 23 августа 2024 г.  Место:  COEX, Большой бальный зал, Северные ворота 513, Ёндон-дэро, Каннамгу, Сеул, Корея.   

Конференция Скалистых гор по магнитному резонансу (RMC)   Мы рады пригласить вас на 63-ю конференцию по магнитному резонансу в Скалистых горах (RMC) в красивой Коппер-Маунтин, штат Колорадо.   ЭПР исполняется 80 лет. Мы празднуем сближение мудрости и инноваций, синергию традиций и переосмысления и с нетерпением ждем встречи, на которой молодые ученые, плохо знакомые с ЭПР, смогут встретиться с гигантами в этой области и на которой границы и масштабы ЭПР резко расширятся. EPR может так много предложить и так многому научиться, и мы стремимся, чтобы эта конференция стала местом, где происходят эти беседы!   Встречайте нас на стенде 12 Дата:  4–8 августа 2024 г. Место проведения:  Конференц-центр Copper в Коппер-Маунтин, штат Колорадо.   

Микроскопия и микроанализ（M&M）2024 г.   Область микроскопии и микроанализа прошла долгий путь с момента своего создания, постоянно расширяя границы того, что мы можем видеть и понимать в мельчайших масштабах. Сообщество « Микроскопия и микроанализ (M&M) 2024» собирается, чтобы отметить и продемонстрировать последние достижения в этой увлекательной области научных исследований.   ·  Встретьтесь с нами на стенде 1230 :  Мы с нетерпением ждем встречи с вами на нашем стенде, где мы представим решения на основе сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). Не пропустите главное мероприятие года по образованию и налаживанию связей в области микроскопии , поэтому воспользуйтесь возможностью обсудить это с нашими экспертами и опробовать его.   Дата:  29 июля – 1 августа 2024 г. Местоположение:  300 Lakeside Ave E, Cleveland, OH 44113 , конференц-центр Хантингтона.

Аналитика  2024 Analytica 2024 представляет инновационные продукты, системы, компоненты и приложения, которые охватывают всю цепочку создания стоимости для промышленных и исследовательских лабораторий. Это место, где можно найти правильное решение, отвечающее вашим потребностям.   ·  Встретьтесь на стенде А2. #530B : Мы с нетерпением ждем встречи с вами на нашем стенде, где мы представим решения на основе электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). У нас будет представлен настоящий работающий электронный микроскоп, и мы будем готовы ответить на ваши вопросы, продемонстрировать новейшее аппаратное и программное обеспечение, поэтому, пожалуйста, воспользуйтесь возможностью обсудить его с нашими экспертами и опробовать его.   Дата:  9–12 апреля 2024 г. Местонахождение:  Выставочный центр Messe München  Am Messesee 2, 81829 Мюнхен.

Аналитика  2024 Analytica 2024 представляет инновационные продукты, системы, компоненты и приложения, которые охватывают всю цепочку создания стоимости для промышленных лабораторий и исследований. Это место, где можно найти правильное решение, отвечающее вашим потребностям.   ·  Встретьтесь на стенде А2. #530B : Мы с нетерпением ждем встречи с вами на нашем стенде, где мы представим решения на основе электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и сканирующего электронного микроскопа (СЭМ). У нас будет представлен настоящий работающий электронный микроскоп, и мы будем готовы ответить на ваши вопросы, продемонстрировать новейшее оборудование и программное обеспечение, поэтому, пожалуйста, воспользуйтесь возможностью обсудить его с нашими экспертами и опробовать его.   Дата:  9–12 апреля 2024 г. Местонахождение:  Выставочный центр Messe München Am Messesee 2, 81829 Мюнхен.        

Некоторые новички в спектроскопии электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) часто сталкиваются с такими проблемами, как неясность основных принципов, трудности анализа спектров и неквалифицированная работа с приборами. Чтобы помочь нашим пользователям лучше использовать ЭПР-спектроскопию, CIQTEK запустил серию «Мини-курсов ЭПР», чтобы ответить на проблемы, с которыми сталкиваются пользователи в своих исследованиях и экспериментах ЭПР. Пожалуйста, пишите нам по адресу info@ciqtek.com , если у вас есть конкретные вопросы.   Q1: Принадлежностью, используемой для определения образцов, зависящих от ориентации (например, монокристаллов), является ( ). А. Гониометр B. Система блокировки поля/частоты C. Гауссметр Д. Ксеноновая лампа ------ Ответ: А   Вопрос 2: Следующие варианты являются важными приложениями высокочастотной (например, W-диапазона) технологии ЭПР ( )? А. Прямое обнаружение живых организмов  B. Повысить чувствительность обнаружения небольшого количества образцов [того же количества, что и при низкочастотном (например, X-диапазоне) обнаружении].   C. Улучшить спектральное разрешение ------ Ответ: до нашей эры   Вопрос 3: Верно или неверно:  Для проведения ЭПР-тестирования перед заменой образцов следует уменьшить мощность микроволнового излучения.  ------ Ответ: Верно. При проведении ЭПР-тестирования обязательно уменьшите мощность микроволнового излучения до уровня менее 40 дБ. Не допускается вынимать образец из резонансной полости при высокой мощности СВЧ или резко перемещать образец, в противном случае может произойти серьезная расстройка схемы СВЧ-моста и даже перегореть детекторный диод.   Вопрос 4: Вяз