In the fields of life sciences, biomedicine, food inspection, and soft matter research, achieving high-resolution imaging of hydrated and beam-sensitive samples has always been a major challenge. Conventional sample preparation methods, such as chemical fixation, dehydration, and drying, often result in shrinkage, deformation, or structural damage, leading to results that deviate from the true state of the sample.   Leveraging its advanced scanning electron microscopy technology, CIQTEK has introduced the Cryo-SEM Solution, which integrates low-temperature freezing and vacuum transfer. This enables in-situ, non-destructive, and high-fidelity microscopic observation of biological and sensitive samples, truly “freezing” the microscopic details of life.   With liquid-nitrogen slush rapid-freezing technology, samples can be vitrified instantly at -210 °C, preserving their original morphology and chemical composition to the greatest extent. The integrated cryo-preparation system combines freeze-fracture, sublimation coating, and low-temperature transfer, avoiding the complexity and potential errors of conventional manual preparation. Throughout the entire process, samples are maintained under cryogenic vacuum conditions and transferred to the SEM cryo-stage, where high-resolution imaging at -180 °C effectively suppresses electron beam damage and significantly improves image quality.   Cryo-prepared boxwood leaf showing intact vein structures, while the untreated sample exhibits severe shrinkage.   Yogurt   Mold Cryo-prepared yogurt sample clearly reveals protein networks and fungal hyphae.   In addition, the system offers strong compatibility, adaptable across CIQTEK's full range of SEMs and dual-beam FIBSEM systems, meeting diverse needs from routine observation to advanced analysis.   The CIQTEK Cryo-SEM Solution is more than just a set of instruments. It embodies a scientific approach dedicated to faithfully restoring the microscopic world. It empowers researchers to overcome technical limitations, capture critical details at the micro scale of life, and drive both fundamental research and applied development to new heights.   September 26–30, Wuhan At the 2025 Chinese Electron Microscopy Academic Conference, CIQTEK will unveil eight cutting-edge EM solutions. Stay tuned!

CIQTEK с радостью сообщает об успешной установке и обучении FIBSEM DB550 в нашем Корейский дистрибьютор Центр электронной микроскопии GSEM Эта веха знаменует собой важный шаг в расширении доступа к передовым технологиям. технология сканирующего электронного микроскопа с фокусированным ионным лучом (FIBSEM) в Южной Корее. Система DB550 сочетает в себе визуализацию высокого разрешения с точным ионно-лучевым травлением, позволяя исследователям эффективно и точно проводить 3D-реконструкцию, анализ поперечных сечений и модификацию материалов в наномасштабе. Благодаря этим возможностям система открывает новые возможности для анализа полупроводников, материаловедения и исследований в области естественных наук. После установки инженеры CIQTEK провели практическое обучение для команды GSEM, охватывающее как стандартные рабочие процессы, так и сложные приложения. Интерактивные занятия позволили пользователям получить практический опыт работы с прибором, от подготовки образцов до получения изображений высокого разрешения и анализа данных. Энтузиазм и вовлеченность команды GSEM продемонстрировали высокий потенциал DB550 для поддержки различных исследовательских проектов в центре. Это сотрудничество отражает стремление CIQTEK к тесному сотрудничеству с партнёрами по всему миру. Оснащая центр GSEM системой DB550, мы не только укрепляем своё присутствие на корейском рынке, но и помогаем местным исследователям получить доступ к передовым инструментам для научных инноваций. Мы с нетерпением ждем захватывающих результатов, которых Центр электронной микроскопии GSEM достигнет с помощью DB550, и мы по-прежнему привержены оказанию постоянной тех�

В июне 2025 года CIQTEK успешно доставили два передовых сканирующие электронные микроскопы к его дистрибьютор в США , JH Technologies, Фремонт, Калифорния. Системы включают в себя SEM3300 Вольфрамовая нить SEM и SEM5000X Сверхвысокое разрешение полевой эмиссии СЭМ , что ознаменовало собой значительный шаг в стратегическом расширении CIQTEK на рынок Североамериканский рынок электронной микроскопии . Для поддержки внедрения инженерная команда CIQTEK провела комплексное обучение на месте для команды JH Technologies. Оно включало в себя подробное описание работы системы, демонстрации приложений и технические обсуждения, адаптированные к реальным сценариям использования. Это сотрудничество расширило возможности команды JH по демонстрации и поддержке инструментов CIQTEK. После доставки компания JH Technologies успешно провела День открытых дверей На предприятии во Фримонте прошли демонстрации обеих систем в режиме реального времени. Мероприятие привлекло большое количество участников из числа учёных и специалистов отрасли, вызвав значительный интерес и положительные отзывы. Воодушевлённая успехом, компания JH Technologies планирует в ближайшее время организовать ещё больше дней открытых дверей для дальнейшего продвижения передовых решений CIQTEK в области визуализации. Проверенная технология визуализации для требовательных приложений The СЕМ3300 Сочетает в себе традиционный источник с вольфрамовой нитью накала и современную оптику, обеспечивая высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях. Это мощное и в то же время доступное решение для рутинного анализа и исследований. The SEM5000X Обеспечивает сверхвысокое разрешение изображений и расширенные функ