CIQTEK недавно доставлен ЭПР200М аппарат в Universiteit Utrecht в Нидерландах. Это передовое оборудование обещает поднять исследовательские возможности уважаемого университета и улучшить его научные начинания. Помимо поставки оборудования, CIQTEK проделали дополнительную милю, обеспечив установку на месте и учебные сессии для команды университета. Это всестороннее обучение охватывало работу прибора в различных температурных диапазонах, включая температуру окружающей среды, высокие и низкие температуры. Такое практическое обучение гарантирует, что пользователи будут оснащены знаниями и навыками для максимального использования потенциала ЭПР200М эффективно. Universiteit Utrecht выразил признательность за приверженность CIQTEK обеспечению плавного перехода и оптимального использования оборудования. Исследователи университета стремятся использовать возможности EPR200M для исследования новых рубежей в своих областях исследований, от химии до материаловедения и далее. Это партнерство является свидетельством взаимного стремления к совершенству и прогрессу в сфере научных исследований.

CIQTEK недавно доставлен ЭПР200М в Университет Бордо, Франция, в сотрудничестве с CNRS. Прибор был настроен на месте, после чего последовало тщательное обучение клиентов и руководство по методам измерения образцов. Это передовое оборудование демонстрирует приверженность CIQTEK предоставлению отличных решений в области научного приборостроения. The Настольный электронный парамагнитный резонанс EPR200M оснащен новейшими технологиями, обещающими точные и правильные результаты для исследовательских работ Университета Бордо. Это устройство оснащено возможностями высшего уровня и открывает новые возможности для научных исследований и экспериментов в академическом сообществе университета. CIQTEK подтверждает свою приверженность обеспечению академических учреждений передовыми научными приборами и экспертным руководством посредством этой инициативы по доставке и обучению на месте. Сотрудничество с Университетом Бордо является свидетельством приверженности компании содействию научному совершенству и продвижению инноваций в академической сфере.

Команда профессора Ян Ю в USTC использовала the CIQTEK СконсервированиеЭлектронМмикроскоп СЭМ3200 для изучения морфологии после циклирования. Разработан аморфный углерод с контролируемыми дефектами в качестве материала-кандидата для искусственного слоя интерфейса, уравновешивающего калиефильность и каталитическую активность. Исследовательская группа подготовила серию углеродных материалов с различной степенью дефектов (обозначенных как SC-X, где X представляет собой температуру карбонизации) путем регулирования температуры карбонизации. Исследование показало, что SC-800 с чрезмерным количеством дефектов вызывал существенное разложение электролита, что приводило к неравномерной пленке SEI и сокращению срока службы цикла. SC-2300 с наименьшим количеством дефектов имел недостаточное сродство к калию и легко индуцировал рост дендритов калия. SC-1600, который обладал локально упорядоченным углеродным слоем, демонстрировал оптимизированную структуру дефектов, достигая наилучшего баланса между калийфильностью и каталитической активностью. Он мог регулировать разложение электролита и образовывать плотную и однородную пленку SEI. Экспериментальные результаты показали, что SC-1600@K демонстрирует долговременную циклическую стабильность до 2000 часов при плотности тока 0,5 мА см-2 и емкостью 0,5 мАч см-2. Даже при более высокой плотности тока (1 мА см-2) и емкость (1 мАч см-2), он сохранил превосходные электрохимические характеристики со стабильными циклами, превышающими 1300 часов. При тестировании полного элемента в сочетании с положительным электродом PTCDA он сохранил 78% емкости после 1500 циклов при плотности тока 1 А/г, продемонстрировав выдающуюся стабильность цикла. Это исследование под названием«Балансировка калийфильности и каталитической активности искусственного интерфейсного слоя для бездендритных натрий/калий-металлических батарей»,был опубликован вПродвинутые материалы.Рисунок 1:Представлены результаты анализа микроструктуры образцов углерода (SC-800, SC-1600 и SC-2300), приготовленных при различных температурах карбонизации. С помощью таких методов, как рентгеновская дифракция (XRD), спектроскопия Рамана, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) и широкоугольное рентгеновское рассеяние (WAXS), были проанализированы кристаллическая структура, уровень дефектов и легирование кислородом и азотом этих образцов. Результаты показали, что с повышением температуры карбонизации дефекты в углеродных материалах постепенно уменьшались, а кристаллическая структура становилась более упорядоченной. Рисунок 2:Распределение плотности тока во время роста металлического калия на различных композитных отрицательных электродах было проанализировано с помощью моделирования методом конечных элементов. Результаты моделирования показали, что композитный электрод SC-1600@K продемонстрировал равномерное распределение тока во время осаждения калия, что помогло эффективно подавить рост дендритов. Кроме того, модуль Юнга слоя SEI был измерен с помощью атомно-сил...