В июне 2025 года CIQTEK успешно доставили два передовых сканирующие электронные микроскопы к его дистрибьютор в США , JH Technologies, Фремонт, Калифорния. Системы включают в себя SEM3300 Вольфрамовая нить SEM и SEM5000X Сверхвысокое разрешение полевой эмиссии СЭМ , что ознаменовало собой значительный шаг в стратегическом расширении CIQTEK на рынок Североамериканский рынок электронной микроскопии . Для поддержки внедрения инженерная команда CIQTEK провела комплексное обучение на месте для команды JH Technologies. Оно включало в себя подробное описание работы системы, демонстрации приложений и технические обсуждения, адаптированные к реальным сценариям использования. Это сотрудничество расширило возможности команды JH по демонстрации и поддержке инструментов CIQTEK. После доставки компания JH Technologies успешно провела День открытых дверей На предприятии во Фримонте прошли демонстрации обеих систем в режиме реального времени. Мероприятие привлекло большое количество участников из числа учёных и специалистов отрасли, вызвав значительный интерес и положительные отзывы. Воодушевлённая успехом, компания JH Technologies планирует в ближайшее время организовать ещё больше дней открытых дверей для дальнейшего продвижения передовых решений CIQTEK в области визуализации. Проверенная технология визуализации для требовательных приложений The СЕМ3300 Сочетает в себе традиционный источник с вольфрамовой нитью накала и современную оптику, обеспечивая высокое разрешение при низких ускоряющих напряжениях. Это мощное и в то же время доступное решение для рутинного анализа и исследований. The SEM5000X Обеспечивает сверхвысокое разрешение изображений и расширенные функ

20 июня 2025 года представители Пекинского общества технологий физических и химических испытаний посетили CIQTEK. Был проведен специальный семинар на тему «Инновации и применение технологии спектроскопии магнитного резонанса», а также тестирование и сравнение данных ядерного магнитного резонанса (ЯМР) на месте. Пекинское общество технологий физических и химических испытаний была основана в 1980 году как академическая организация, добровольно сформированная экспертами в области аналитического тестирования в районе Пекина. Ее цель — объединить и организовать профессионалов в области аналитического тестирования в Пекине, способствуя развитию технологий аналитического тестирования. В настоящее время общество насчитывает более 1000 членов. CIQTEK представила ЯМР-спектрометр, впечатливший приехавших экспертов своими характеристиками на месте На Пекинской конференции по спектроскопии, проходившей с 23 по 25 мая 2025 года, Президент CIQTEK д-р Макс Хе официально анонсировал новые продукты — 400 МГц и 600 МГц ЯМР-спектрометры . Хотя в презентации доктора Макса было всего несколько слайдов по теме ЯМР-приборы CIQTEK , он вызвал значительный интерес в Пекинском обществе физических и химических испытательных технологий. Появление CIQTEK как производителя высокопольных ЯМР-спектрометров было встречено как с удивлением, так и с волнением. Анонс быстро стал темой оживленного обсуждения, и многие эксперты выразили сильное желание посетить CIQTEK для углубленного изучения приборов. В ответ на это CIQTEK направила официальное приглашение членам Пекинского общества технологий физических и химических испытаний, включая членов комитета и соответствующих экспертов, посетить компанию для оценка на месте их исследования ЯМР Это был первый официальный визит делегации Общества за пределы Пекина. Групповое фото делегации Пекинского общества физико-химических испытательных технологий и команды CIQTEK Сравнительный анализ на месте: производительность данных, скорость анализа и количество В течение однодневного визита участники провели глубокие обсуждения и практическое получение данных. Взаимодействие было весьма продуктивным, обе стороны углубились в технические детали и прикладные идеи. Было высказано множество вопросов и предложений, что сделало сессию интерактивной и конструктивной. Надежные спектральные данные Надежность спектральных данных является основным критерием оценки производительности ЯМР-спектрометра. Поэтому чувствительность, эффективность тестирования и спектральное качество были ключевыми моментами в ходе этой оценки на месте. В ходе сравнительного тестирования были подготовлены два стандартных образца для реальных демонстраций: 0,1% этилбензол — используется для оценки чувствительности к ¹H 40% стандарт ASTM — используется для оценки чувствительности к ¹³C Подробные результаты сравнения следующие: (1) ¹H чувствительность Результаты испытаний других производителей следующие: Марка A: измеренное отношение сигнал/шум 341:1 (образец не вращается) Марка B: изме...

Недавно ведущий международный академический журнал «Science» опубликовал научную статью под названием «Усталость анода из лития в твердотельных батареях», написанную профессором Вэй Ло из Университета Тунцзи совместно с профессором Юньхуэй Хуаном из Университета науки и технологий Хуачжун и другими соавторами. В этом исследовании впервые было выявлено явление усталостного разрушения литий-металлического анода в твердотельных батареях, раскрыт новый механизм усталостного разрушения и предложены новые стратегии для предотвращения усталостного разрушения и повышения производительности твердотельных батарей. В этом исследовании команда использовала Вольфрамовая нить SEM от CIQTEK для испытаний на усталость с помощью СЭМ на месте и получил отличные результаты испытаний. Ссылка на оригинальную статью: https://www.science.org/doi/10.1126/science.adq6807 Недавно первый автор этой статьи, профессор Бо Чэнь из Университета Тунцзи, был приглашен посетить CIQTEK и дал нам интервью. Профессор Бо Чен представляет: «Наша исследовательская группа в основном сосредоточена на двух аспектах: один из них — получение изображений с помощью синхротронного рентгеновского излучения, а другой — получение изображений с помощью электронной микроскопии, как в CIQTEK. Работа всей нашей исследовательской группы вращается вокруг нано- и микроструктур материалов, особенно трехмерных нано- и микроструктур материалов. Поэтому всю нашу исследовательскую группу можно назвать исследовательской группой нано- и микроструктур материалов». Относительно статьи, недавно опубликованной в журнале «Science», профессор Бо Чэнь заявил: «В статье рассматривается явление, которое ранее не рассматривалось подробно, а именно усталость металлического лития. Раньше все считали, что это электрохимическая усталость, возникающая во время процессов зарядки и разрядки, но на самом деле во время этих процессов проявляется и механическая усталость». «Основное открытие этого исследования заключается в том, что литий проявляет не только электрохимическую усталость во время зарядки и разрядки, но и механическую усталость, проявляющуюся во время этих процессов, которые в совокупности являются основными причинами разрушения литиевого металла твердотельных батарей. В статье также предполагается, что путем легирования лития для улучшения его физических свойств можно увеличить срок службы твердотельных батарей. Это новаторское открытие, и оно весьма интригует». При разработке экспериментов команда наблюдала оба типа усталости, устанавливая усталостные устройства на электронный микроскоп. Поскольку у исследовательской группы был только один электронный микроскоп, для всестороннего наблюдения они использовали in-situ растяжение, разработанное профессором Цзисюэ Ли в Hangzhou Yuanwei Technology Company. Профессор Бо Чэнь сказал: «С помощью профессора Ли мы совместно создали устройство для испытания на усталость растяжения. Эксперимент по механической усталости металлического лития был проведен профессором Ли с использ...